W artykule przedstawiono metodę oceny odporności urządzeń elektronicznych na wysokoenergetyczne impulsy elektromagnetyczne przeprowadzoną przez pracowników LAB-KEM WEL WAT. Ocena odporności urządzeń elektronicznych pomaga zrozumieć próg podatności tych urządzeń na środowisko impulsów elektromagnetycznych o wysokich mocach (ang: High Power Electromagnetic – HPEM). Ocena ta skupia się na określeniu progu wytrzymałości sprzętu komputerowego (nośników danych) podczas pracy tych urządzeń w środowisku HPEM.
Słowa kluczowe: impuls elektromagnetyczny, sprzęt elektroniczny, pole elektromagnetyczne, kompatybilność elektromagnetyczna, HPEM.
Abstract
The paper presents method for assessing immunity electronic equipment for high power electromagnetic pulses carried out by employees of the LAB-KEM MUT. Assessment immunity of electronic equipment will help you understand the susceptibility threshold of these devices on the high power electromagnetic pulses environment (called High Power Electromagnetic - HPEM). This assessment focuses on determining the upper limit of strength the computer equipment (storage devices) in the HPEM environment.
Keywords: electromagnetic pulse, electronic equipment, immunity, EM field, electromagnetic compatibility, HPEM.
Infrastruktura informatyczna, komputery osobiste oraz nośniki informacji są integralną częścią naszej działalności i życia codziennego. W przypadku używania urządzeń informatycznych w infrastrukturze krytycznej lub dla zachowania bezpieczeństwa teleinformatycznego nie jest dopuszczalne wystąpienie jakichkolwiek zakłóceń w środowisku elektromagnetycznym. W środowisku elektromagnetycznym dużej mocy źródła mikrofalowe stanowią stosunkowo nowy rodzaj zagrożenia zarówno dla systemów wojskowych, jak i cywilnych. Działanie z wykorzystaniem tego rodzaju źródła jest zazwyczaj określane jako celowe zaburzenie elektromagnetyczne. Środowisko promieniowane HPEM (ang. High Power Electromagnetic), które jest z natury szkodliwe, może również występować przy częstotliwościach nawet do kilkuset MHz. Wygenerowanie impulsu elektromagnetycznego o bardzo dużej mocy w kierunku danego układu elektronicznego powoduje, że na układach elektronicznych odkłada się bardzo duże napięcie. Takie zjawisko powoduje uszkodzenie elementów obwodu co czyni urządzenie niezdatnym do dalszego funkcjonowania. W przypadku celowego oddziaływania takim impulsem bardzo istotne jest pod względem jego skuteczności aby wygenerować odpowiednio silny impuls na żądanej częstotliwości. 2. IMPULS ELEKTROMAGNETYCZNY WIELKIEJ MOCY Impuls elektromagnetyczny wielkiej mocy określany jako HPEM jest to impuls o bardzo krótkim czasie trwania (rzędu nanosekund) i o wielkiej mocy (rzędu kilkudziesięciu gigawatów w impulsie). Impulsy HPEM po raz pierwszy zaobserwowane zostały jako efekt uboczny przy wybuchach bomb atomowych, okazało się również, że zasięg takiego promieniowania znacznie przekracza dotychczas wykorzystywane środki rażenia. Obecnie opracowano kilka sposobów generacji impulsów HPEM dzięki wyspecjalizowanym generatorom promieniowania elektromagnetycznego. Działanie destrukcyjne bomby E polega na niszczeniu wszelkich urządzeń elektronicznych opartych na technologii półp [...]


Metoda płatności: Płatności elektroniczne (karta kredytowa, przelew elektroniczny) | |
Dostęp do publikacji (format pdf): 6.00 zł
|
|
Dostęp do Wirtualnej Czytelni - archiwalne e-zeszyty czasopisma (format swf) - 1h: 24.60 zł | |
Dostęp do Wirtualnej Czytelni - archiwalne e-zeszyty czasopisma (format swf) - 4h: 43.05 zł | |
Dostęp do Wirtualnej Czytelni - archiwalne e-zeszyty czasopisma (format swf) - 12h: 73.80 zł | |
Prenumerata
Bibliografia
[1] Przesmycki R., Nowosielski L., Wnuk M. - Metodologia
pomiaru absorpcji materiałów z wykorzystaniem
generatora HPEM, Przegląd Telekomunikacyjny,
ISSN 1230-3496, NR 8-9/2014, str: 821-827,
[2] Przesmycki Rafał - Możliwości zastosowania energii
skierowanej do niszczenia urządzeń informatycznych,
Przegląd Telekomunikacyjny, ISSN 1230-
3496, e-ISSN 2449-7487, NR 8-9/2015, str: 1178-
1181,
[3] Richard Hoad, Andrew Lambourne, Anthony
Wraight - HPEM AND HEMP susceptibility assessments
of computer equipment, 17th International
Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility,
2006, pages 168-171,
[4] F. Brauner, F. Sabath, J. L. Haseborg - Susceptibility
of IT network systems to interferences by
HPEM, 978-1-4244-4267-6/09/$25.00 ©2009 IEEE,
pages 237-242.