ELEKTRONIKA, ENERGETYKA, ELEKTROTECHNIKA ›
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA ›
2007-12 |
| |
|
|
|
|
|
|
Capacitance calculation for conductive path - screen layer system in hybrid circuit
|
|
BOGUSŁAW WISZ 
|
The development of modern microelectronic structures of hybrid
circuits connected with the application of logic or analogue
circuit requires taking into account in the design process the
parasitic parameters of conductive paths connecting individual
elements. Non-zero values of capacitance and inductance
between paths systems lead to the crosstalk effect. Additionally,
the impossibility of l[...]
|
|
|
|
|
|
|
|
Czujnik gazu wykonany techniką LTCC
|
|
|
DOMINIK JURKÓW LESZEK GOLONKA HENRYK ROGUSZCZAK
|
Zasada działania typowego czujnika przepływu gazu w mikroelektronice
opiera się na efekcie termicznym. Pierwszy
czujnik przepływu wykonany w technice LTCC, składający się
z grzejnika i termistorów, został przedstawiony przez Gongorę
Rubio [1, 2]. W tego typu czujnikach występuje bardzo duży
wpływ temperatury na wskazania, zaletą ich jest wysoka niezawodność
pracy.
W badanym czujniku tempera[...]
|
|
|
|
|
|
Evaluation of uncertainty in infrared thermographic measurements of microcircuits
|
|
|
TADEUSZ WAŁACH
|
In many cases results of temperature measurements have to
be presented together with the uncertainty of these measurements.
It concerns mainly the measurements performed by
companies or organisations (e.g., research laboratories and
accreditation units, colleges and universities) which have introduced
quality management systems consistent with requirements
of the ISO 9000 and EN 45000 series[...]
|
|
|
|
Imaging internal defects in thyristor structures
|
|
|
ROBERT ARSOBA ZBIGNIEW SUSZYŃSKI
|
An aim of investigation described in the paper was imaging
internal defects in layered structures silicon-aluminum-molybdenum
with the help of different measuring techniques. One of
the reasons of forming defects in an area of bonded layers is
poor quality of thermocompression of silicon to molybdenum
[1]. The quality of thermocompression and properties of the
bonding area determine thermal [...]
|
|
|
|
|
|
|
|
International Manufacturing and Packaging Society - 25 lat Sekcji Polskiej
|
|
|
Jerzy Potencki
|
International Manufacturing and Packaging Society
(IMAPS) jest stowarzyszeniem naukowo-technicznym, integrującym
środowiska akademickie i przemysłowe, które
zajmuje się propagowaniem wiedzy o nowoczesnych
technologiach mikroelektronicznych przez organizowanie
konferencji, sympozjów, wystaw, kursów specjalistycznych
i innych form wymiany doświadczeń zawodowych pomiędzy
członkami stowarzyszen[...]
|
|
|
|
Małosygnałowy elektrotermiczny model przetwornicy boost
|
|
|
KRZYSZTOF GÓRECKI JANUSZ ZARĘBSKI
|
Przetwornice dławikowe, zawierające tranzystor kluczujący,
sterowany zewnętrznym sygnałem, diodę, dławik i kondensator,
są podstawowym blokiem wielu zasilaczy impulsowych.
Zasilacze impulsowe pracują typowo z pętlą ujemnego sprzężenia
zwrotnego [1, 2].
Przy projektowaniu zasilaczy impulsowych wykonuje się
analizę stałoprądową, analizę stanów przejściowych oraz
analizę częstotliwościową [3].[...]
|
|
|
|
Noise signal analyzer for multi-terminal devices
|
|
|
ADAM WITOLD STADLER
|
Noise features of electronic materials and devices become
leading in modern application, where low-power and lowvoltage
signalling are dominating direction. Moreover, noise
parametrization of electronics devices is very important tool
especially in low-frequency limit where two applications arises:
(i) reliability testing and (ii) fundamental research. Nevertheless
the specialized measuremen[...]
|
|
|
|
Nowe rozwiązania cyfrowych zespołów EAZ
|
|
|
JAROSŁAW DUMAŁA ALEKSANDER LISOWIEC
|
Podstawowymi i niezmiennymi wymaganiami stawianymi zespołom
elektroenergetycznej automatyki zabezpieczeniowej są:
- selektywność - oznacza zdolność do działania tylko
w przypadku wystąpienia zakłócenia w obszarze objętym
ochroną przez zabezpieczenie;
- niezawodność - oznacza pewne i prawidłowe działanie
przez cały okres eksploatacji;
- szybkość działania umożliwiająca elim[...]
|
|
|
|
Nowości techniki
|
|
Kompaktowe, wielokolorowe wskaźniki świetlne LED jako zamienniki dla
tradycyjnych, żarówkowych kolumn świetlnych
Firma Banner Engineering oferuje
nowe wielokolorowe wskaźniki świetlne
K50L i K80L EZ-LIGHT™ w technologii
LED, które zajmują mniejszą powierzchnię
i zapewniają dłuższą żywotność niż
tradycyjne kolumny świetlne i inne tego
typu wskaźniki, wykorzystujące światło
żarówkowe.[...]
|
|
|
|
Nowy interfejs użytkownika w urządzeniach EAZ
|
|
|
ADAM KALINOWSKI GRZEGORZ KOWALSKI
|
Urządzenia EAZ, powszechnie stosowane w przemyśle
w zakresie średnich napięć, są wyposażone w różne systemy
interfejsowe, umożliwiające użytkownikowi zarządzanie
nimi. Najczęściej jest to klawiatura na płycie czołowej urządzenia,
specjalny programator, dołączany w razie potrzeby,
lub zewnętrzny komputer dołączany do urządzenia. Lokalna
klawiatura służy do wywoływania określonych danych na wy[...]
|
|
|
|
|
|
Pomiary charakterystyk anten w strefie bliskiej
|
|
|
SYLWESTER PYSZAK MARIAN WNUK
|
Jednym z ważnych elementów systemów radiokomunikacyjnych
jest antena. Od jej parametrów i charakterystyk zależy
nie tylko efektywne przekazywanie informacji, ale również
spełnienie warunków kompatybilności czyli nie zakłócania
pracy innych systemów. W ostatnim okresie bardzo intensywnie
rozwija się technika pomiarów antenowych. Musi ona zapewnić
wykonywanie pomiarów z dużą dokładnością na co[...]
|
|
|
|
|
|
|
|
Suspended beams fabricated on GaAs substrates
|
|
|
MAŁGORZATA KRAMKOWSKA IRENA ZUBEL JAROSŁAW WŁODARCZYK
|
In the last decade an increasing interest in the fabrication of
micromechanical structures based on III-V materials has been
observed [1,2]. The most attractive feature of GaAs micromachining
is that it allows monolithic integration of mechanical
structure and active optical devices. The idea of suspended
beam fabrication on GaAs substrate by anisotropic etching
results from zinc blende stru[...]
|
|
|
|
|
|
Technika próżni i technologie próżniowe - Biuletyn Polskiego towarzystwa próżniowego nr 1-2
|
|
V International Workshop on Semiconductor Surface Passivation - SSP 2007.W dniach 16-19 września 2007 r., w Centrum Konferencyjno-Wypoczynkowym
GEOVITA w Zakopanem odbyły się V Międzynarodowe
Warsztaty Naukowe Pasywacji Powierzchni Półprzewodników
- V International Workshop on Semiconductor Surface Passivation
- SSP2007.
Głównym organizatorem Warsztatów SSP2007 były European
Centre of Excell[...]
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Twój Profil
Twój koszyk
