profil Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk
  Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

zegar

To proste!

zobacz szczegóły
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

baza zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-4 spośród 4 dla zapytania: authorDesc:"GRAŻYNA ŻAK"

» Oznaczanie wielkości nanocząstek z wykorzystaniem techniki dynamicznego rozpraszania światła laserowego

Grażyna Żak  Michał Wojtasik  
Przedstawiono elementy walidacji metody oznaczania wielkości nanoczastek w ciekłych dyspersjach z wykorzystaniem spektroskopii korelacyjnej fotonów PCS (photon correlation spectroscopy) wg PN-ISO 13321. Badania średnicy cząstek oraz wskaźnika polidyspersyjności próbek zdyspergowanych w fazie organicznej oraz w fazie wodnej wykonano w analizatorze Zetasizer Nano S firmy Malvern Instruments. A std. method (photon correlation spectroscopy) for detn. of nanoparticle size and polydispersity index in a dispersion of Fe compds. in heptane and an aq. latex dispersion was successfully validated. Wielkości cząstek i współczynnik ich polidyspersyjności to istotne parametry charakteryzujące materię. Istnieje kilka metod pomiarowych pozwalających na określenie tych wielkości. Oparte są one głównie na zjawiskach oddziaływania fotonów lub elektronów z badanymi substancjami. Metody pomiaru wielkości cząstek można podzielić na dwie kategorie: metody bezpośrednie i pośrednie. W metodach bezpośrednich pomiar wykonuje się poprzez obrazowanie oddziaływania promieniowania z badanymi cząstkami. Do tej grupy metod zalicza się wszystkie rodzaje mikroskopii, w której stosuje się różne źródła promieniowania (fotony, elektrony). Przykładowo w mikroskopii elektronowej jako źródło promieniowania stosuje się działo elektronowe a w mikroskopii optycznej światło widzialne. Metody mikroskopowe różnią się od siebie przede wszystkim granicami rozdzielczości. I tak mikroskop optyczny ma rozdzielczość 200 nm, a mikroskop elektronowy 0,1 nm. W przypadku obrazowania cząstek o wielkościach nanometrycznych zastosowanie znajdują techniki mikroskopii elektronowej (TEM, SEM), skaningowej mikroskopii tunelowej (STM) i mikroskopii sił atomowych (AFM), jednakże bezpośredni pomiar rozmiaru cząstek w zawiesinach tymi technikami jest bardzo trudny lub wręcz niemożliwy. W przypadku roztworów koloidalnych większe znaczenie mają metody pośrednie (metoda optyczna i optyczno-el[...] więcej»
w zeszycie PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2011/4


 

» Możliwości kształtowania struktury ściegu w układzie nić szwalna-igła maszynowa

Joanna Elmrych-Bocheńska  Anna Zieja  Grażyna Żak  
W technologicznej praktyce projektowania połączeń nitkowych, wybór asortymentu oraz masy liniowej nici szwalnych uwarunkowany jest przez szereg wytycznych: począwszy od zagwarantowania oczekiwanej wytrzymałości utworzonego połączenia, poprzez dążenie do eliminacji potencjalnych przyczyn zmarszczeń szwu a skończywszy na projektowaniu obróbki wykończalniczej wyrobu gotowego. Z kolei w procesi[...] więcej»
w zeszycie ODZIEŻ 2007/3


 

» Możliwości kształtowania struktury ściegu w układzie nić szwalna - igła maszynowa. Cz. II

JOANNA ELMRYCH-BOCHEŃSKA  ANNA ZIEJA  GRAŻYNA ŻAK  
4. Możliwości modelowania struktury ścieguWspółczynnik korelacji liniowej wartości współczynnika położenia przeplotu m oraz charakterystyki kanału igłowego opisanej stosunkiem średnic [4], dla badanych asortymentów nici szwalnych przyjmuje wartości na poziomie od -0,938 do -0,986; można więc mówić o wysokiej korelacji ww. parametrów. Powstaje zatem pytanie, Czy ustalenie geometrycznej charaktery[...] więcej»
w zeszycie PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA 2007/8


 

» Możliwości kształtowania struktury ściegu w układzie nić szwalna - igła maszynowa. Cz. I

JOANNA ELMRYCH-BOCHEŃSKA  ANNA ZIEJA  GRAŻYNA ŻAK  
W technologicznej praktyce projektowania połączeń nitkowych, wybór asortymentu oraz masy liniowej nici szwalnych uwarunkowany jest przez szereg wytycznych: począwszy od zagwarantowania oczekiwanej wytrzymałości utworzonego połączenia, poprzez dążenie do eliminacji potencjalnych przyczyn zmarszczeń szwu, a skończywszy na projektowaniu obróbki wykończalniczej wyrobu gotowego. Z kolei w procesie sz[...] więcej»
w zeszycie PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA 2007/7


 

 Strona 1 
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).