profil Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk
  Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

zegar

To proste!

zobacz szczegóły
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

baza zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-1 spośród 1 dla zapytania: authorDesc:"ROBERT ARSOBA"

» Imaging internal defects in thyristor structures

ROBERT ARSOBA  ZBIGNIEW SUSZYŃSKI  
An aim of investigation described in the paper was imaging internal defects in layered structures silicon-aluminum-molybdenum with the help of different measuring techniques. One of the reasons of forming defects in an area of bonded layers is poor quality of thermocompression of silicon to molybdenum [1]. The quality of thermocompression and properties of the bonding area determine thermal [...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007/12


 

 Strona 1 
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).