profil Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk
  Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

zegar

To proste!

zobacz szczegóły
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

baza zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-5 spośród 5 dla zapytania: authorDesc:"BOHDAN MROZIEWICZ"

» Jednomodowe przestrajalne lasery półprzewodnikowe do zastosowań w układach czujnikowych spektroskopii absorpcyjnej

BOHDAN MROZIEWICZ  
Układy czujnikowe do celów spektroskopii absorpcyjnej stają się jedną z ważniejszych dziedzin fotoniki. Powodem jest narastająca konieczność monitorowania substancji śladowych w gazach celem wykrywania zagrożeń, takich jak zanieczyszczenia atmosfery, wybuch gazu lub atak terrorystyczny. Ostatnio techniki te wkraczają do innych dziedzin życia, między innymi medycyny, gdzie służą np. do diagno[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007/5


 

» Generacja fal terahercowych z zastosowaniem laserów półprzewodnikowych

BOHDAN MROZIEWICZ  
Zakres widmowy fal elektromagnetycznych określanych terminem "teraherce" rozciąga się umownie od 300 GHz do 10 THz, co odpowiada długości fal odpowiednio od 1 mm do 30 µm. Niektórzy autorzy przesuwają wprawdzie jego dolną granicę aż do 100 GHz [1], lecz są to raczej wyjątki.Wkażdym przypadku pasmo teraherców zajmuje przedział pomiędzy podczerwienią i mikrofalami jak przedstawiono to obrazowo na rys. 1. Jest to ostatni skrawek bardzo słabo wykorzystywanego widma promieniowania elektromagnetycznego, który ostał się w wyniku trudności wiążących się z generacją fal o długości przypadającej na zakres teraherców. Trudności te napotykane są zarówno przy próbach wygenerowania promieniowania terahercowego o dostatecznie dużej mocy na drodze transportu elektronów w ciałach stałych[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/9


 

» Biało-świecące diody LED rewolucjonizują technikę oświetleniową

BOHDAN MROZIEWICZ  
Obszar zastosowań diod elektroluminescencyjnych (LED) nieustannie się poszerza i nie ma obecnie wątpliwości, że w niedalekiej przyszłości będą to podstawowe źródła światła w urządzeniach oświetlających i sygnalizacyjnych. Ich uzupełnieniem mogą być ewentualnie organiczne diody elektroluminescencyjne (OLED), lecz technologia produkcji tych ostatnich wymaga jeszcze dodatkowych prac badawczych. Ogólnie biorąc, pole zastosowań LED można podzielić na trzy grupy. Pierwsza obejmuje diody służące do sygnalizacji. Są to diody emitujące światło o barwach rozciągających się na całe widmo promieniowania widzialnego od barwy niebieskiej do czerwonej oraz światło białe. Grupa druga obejmuje diody emitujące promieniowanie niewidzialne dla oka, odpowiednio podczerwone i ultrafioletowe. Diody tej grupy służą w pierwszej kolejności do transmisji informacji lub znajdują specyficzne zastosowania np. w medycynie. Szczególnie dużego znaczenia nabrała jednak ostatnio trzecia grupa diod LED, do której należą diody emitujące światło białe służące do podświetlania wyświetlaczy LCD (z ciekłymi kryształami), w tym monitorów, ekranów telewizyjnych i telefonicznych oraz diod wbudowanych w duże oprawy i służące do oświetlania ulic, innych obiektów zewnętrznych oraz wnętrz domowych. O dużym i wciąż rosnącym znaczeniu diod LED emitujących światło białe decyduje kilka czynników, a wśród nich takie jak: - Biało-świecące diody LED charakteryzują się bardzo wysoką skutecznością świetlną dochodzącą do 200 lm/W [1], a w przyszłości parametr ten może osiągnąć wartość 250 lm/ W (rys. 1). Chociaż w praktyce, po wbudowaniu do oprawy, wyroby rynkowe mają skuteczność świetlną rzędu 100…150 lm/W ich sprawność energetyczna i tak jest znacznie większa niż żarówek (8%) i co najmniej porównywalna ze sprawnością źródeł fluorescencyjnych (25%). Zastosowanie LED do oświetlenia ogólnego pozwala więc na znaczne oszczędności w zużyciu energii elektrycznej, a tym samym na [...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/9


 

» Pomiar współczynnika odbicia zwierciadeł diod laserowych z wnęką Fabry-Perota

EMILIA PRUSZYŃSKA-KARBOWNIK  BOHDAN MROZIEWICZ  
Wnęka Fabry-Perota - niezbędna do wywołania akcji laserowej w diodach laserowych o konstrukcji tzw. krawędziowej - powstaje w sposób naturalny w wyniku odłupania chipu wzdłuż ścian łatwej łupliwości kryształu półprzewodnika. W przypadku diod wytwarzanych z heterostruktur półprzewodników grupy III-V są to z reguły ściany o orientacji krystalograficznej {100}. Współczynnik załamania dla tych materiałów ma wartość ok. 3,53 co na granicy z powietrzem daje współczynnik odbicia ok. 32%. Chipy laserowe bez pokryć nie mają jednak wartości użytkowej, gdyż połowa mocy generowanego promieniowania jest tracona. Ponadto trwałość takich laserów jest ograniczona wskutek degradacji powierzchni zwierciadeł, spowodowanej przez wpływ atmo - sfery na odsłonięte przekroje warstw heterostruktury i [...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/5


 

» Goniometryczna metoda pomiaru przestrzennego rozkładu natężenia promieniowania kwantowych laserów kaskadowych

Kazimierz Regiński  Bohdan Mroziewicz  Emilia Pruszyńska-Karbownik  
Wraz z rozwojem technologii wytwarzania laserów półprzewodnikowych równolegle postępuje rozwój metod ich charakteryzacji. W zakresie metod pomiaru wiązek emitowanych przez lasery mamy obecnie do dyspozycji dwie zasadnicze grupy przyrządów pomiarowych zwanych często profilometrami: przyrządy typu mozaik i przyrządy typu goniometrycznego. W profilometrach typu mozaik, rejestracja natężenia promieniowania odbywa się przy pomocy płaskiej matrycy światłoczułej. Urządzenia te mogą być wyposażone w filtry służące do osłabienia promieniowania laserowego w ruchome szczeliny, lub też w ruchome przesłony. Głowice pomiarowe takich profilometrów umieszczane są zwykle na liniowych przesuwach pozwalających na zmianę odległości detektora od żródła promieniowania. Dzięki takiej konstrukcji przyrządy typu mozaik mogą rejestrować trójwymiarowy rozkład promieniowania w dalekim polu. Przyrządy typu goniometrycznego posiadają zwykle pojedynczy detektor, natomiast układ mechaniczny, umożliwiający zmianę położenia detektora względem żródła promieniowania, jest bardzo rozbudowany. W odróżnieniu od profilometrów typu mozaik, które są urządzeniami popularnymi przeznaczonymi do standardowych pomiarów, profilometry goniometryczne są często budowane przez eksperymentatorów z przeznaczeniem do badań naukowych nad nowymi typami laserów [1]. Ze względu na wielką różnorodność typów laserów półprzewodnikowych (mamy tu na myśli głównie zakres widmowy, moc i rozkład przestrzenny wiązki) nie ma w omawianej dziedzinie uniweralnych układów i metodologii pomiarowych. Układy pomiarowe oraz związane z nimi metodologie pomiarów muszą być nakierowane na konkretny typ lasera. Szczególnie trudna sytua[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011/10


 

 Strona 1 
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).