Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk

Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

To proste!

zobacz szczegóły

r e k l a m a

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"ADAM ABRAMOWICZ"

» Rozwiązanie problemu projektowania filtrów szerokopasmowych trzeciego stopnia

ADAM ABRAMOWICZ

BARTŁOMIEJ WARCHOŁ

Parametrem stosowanym do klasyfikacji filtrów ze względu na szerokość pasma przepustowego jest względna szerokość pasma (często wyrażona w procentach): gdzie: fp1, fp2 częstotliwości graniczne pasma przepustowego, fc częstotliwość środkowa. Za częstotliwość środkową filtrów szerokopasmowych przyjmuje się częstotliwość będącą średnią arytmetyczną częstotliwości granicznych pasma przepustowego: Warto nadmienić, że częstotliwość środkowa filtrów wąskopasmowych definiowana jest zależnością taką, jak w filtrach drabinkowych i filtrach z rezonatorami sprzężonymi poprzez idealne inwertery immitancji [1-3]: Częstotliwość środkowa filtra nie jest pojęciem jednoznacznym, jak zostanie to pokazane dalej. Większość realizowanych filtrów mikrofalowych to filtry o względnych szerokościach [...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/8

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Helical resonator for measurements of dielectrics

MATEUSZ ŻUKOCIŃSKI

ADAM ABRAMOWICZ

The frequency of operation selected for a presented resonator was imposed by lack of sufficient measurement methods in the range of 10 - 50 MHz. Furthermore signals of 20 - 30 MHz are intensively used in many areas of science and technology like electronics, medicine, biology, geoscience and physics. The knowledge of complex permittivity εr = εr’(1 - jtgδ) and its changes caused by elusive effects appearing in the development and manufacturing process is critical in quality control and optimization of material composition and production process of electronic materials [1]. Capacitive and transmission line methods used today give accuracy of several percent at most [1] what becomes insufficient in modern material applications. That is why this project is foc[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/8

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

Strona 1

r e k l a m a