Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk

Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

To proste!

zobacz szczegóły

r e k l a m a

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"LESZEK J. OPALSKI"

» Fuzja danych w zastosowaniu do pomiarów jakości wody

LESZEK J. OPALSKI

Termin “fuzja danych" DF (Data Fusion) oznacza ogólnie metodę przetwarzania danych z wielu źródeł, która ma na celu uzyskanie informacji o wyższej jakości, niż ta która wynika z wykorzystania każdego z tych źródeł z osobna. Procesy fuzji danych występują powszechnie w przyrodzie, np. w procesach poznawania środowiska przez organizmy żywe - za pomocą wyspecjalizowanych i bardzo skomplikowanych sensorów - narządów wzroku, słuchu, dotyku oraz procesorów danych z sensorów - zrealizowanych w (rozproszonym) układzie nerwowym. Fuzja danych jest też rozpowszechniona w świecie ukształtowanym przez człowieka. Diagnostyka medyczna od dawna posługuje się słownym opisem stanu (i dolegliwości) pacjenta, jak i (od niedawna) danymi z różnorodnych urządzeń pomiarowych (radiologia, badani[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/8

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Non-linear modeling of resolve time in D-latch circuits

Piotr Z. Wieczorek

Leszek J. Opalski

Metastable behavior of asynchronous digital circuits, such as D-latches, arbiters, is understood here as unavoidable increase of resolve time, when lead-in of data input change over change of clock signal is becoming small [1-3]. Since designers put limits on acceptable resolve time - the metastability phenomenon causes occasional circuit malfunction [3-5]. Mean time between failures (MTBF) is a commonly used measure of average time between such events [2]. There is a considerable practical interest in more accurate characterization of metastability in digital building blocks, since increased accuracy of resolve time and of MTBF estimates for digital systems might reduce design margins [1, 4, 2]. Circuit model of a D-latch circuit Two novel metastability models will be derived for a reference static D-latch circuit, consisting of two inverters and two transmission gates - as shown in Fig. 1. In Phase 1 the high clock (CLK) level makes the data transmission gate (DTG) pass the input data signal (DATA) to the input of the first inverter. In Phase 2 the low clock level turns DTG off, while the feedback transmission gate (FTG) becomes on. Closing the positive feedback loop (at time instance t0) starts regenerative process, which latches DATA input value. The time (tr) needed to resolve the state of the output Q (to logical “0" or “1") depends on the initial condition of the regenerative process, and so indirectly on the lead-in time δ of DATA over CLK signal [1, 6]. Typically the metastable behavior of flip-flops and latches is modeled with a linear circuit model with one capacitance [1, 7]. Fig. 2 depicts such a model with feedback loop (FTG) and data signal (DTG) switches added - to enable modeling the two phases of circuit operation (Fig. 1). Despite the model’s inaccuracy it has been used for over thirty years, either for resolve time prediction or MTBF calculati[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011/12

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

Strona 1

r e k l a m a