Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk

Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

To proste!

zobacz szczegóły

r e k l a m a

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"MIROSŁAW BRAMOWICZ"

» Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w ocenie stopnia anizotropii mikrostruktury

MIROSŁAW BRAMOWICZ

Mikroskopia sond skanujących (SPM) dostarcza cennych informacji o morfologii warstwy wierzchniej oraz strukturze materiałów. Pozwala również na badanie szeregu innych właściwości fizycznych materiałów (np. wyznaczanie współczynnika tarcia, właściwości magnetycznych czy adhezyjnych), począwszy od poziomu struktury atomowej materiałów, a skończywszy na obszarach skanowania rzędu kilkudziesięciu mikrometrów. Ze względu na coraz szersze zastosowanie mikroskopii SPM w badaniach nad właściwościami i budową materiałów, godnymi uwagi stają się zagadnienia związane z numeryczną analizą i przetwarzaniem zarejestrowanych podczas pomiarów informacji. Standardowo mikroskopia SPM pozwala na przeprowadzenie wizualnej oceny uzyskanych obrazów, analizę geometryczną oraz statystyczną. Interesuj[...] więcej»
w zeszycie INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2009/4

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Analiza fraktalna mikrostruktury martenzytycznej

MIROSŁAW BRAMOWICZ

Analiza fraktalna znajduje coraz częstsze zastosowanie zarówno w matematycznym opisie topografii powierzchni, jak i w charak- terystyce mikro- i nanostruktury materiałów. Wymiar fraktalny (D) oraz parametr Hursta (H) są coraz częściej używane do charakte- ryzowania struktury materiału oraz jej zmian będących wynikiem działania czynników zewnętrznych. Zainteresowanie stosowaniem analizy fraktalnej w inżynierii materiałowej oraz w mechanice ma- teriałów ciągle wzrasta i jest obiektem intensywnych badań. Jako pierwszy analizę fraktalną do opisu mikrostruktury zarejestrowa- nej metodą skaningowej mikroskopii tunelowej (STM) zastosował J. Krim i in. w 1993 r. [1]. Obecnie znanych i stosowanych jest wiele metod określania dwu- (2-D) i trójwymiarowego (3-D) parametru fraktalnego, należą do nich: analiza RMS, - metoda na podstawie analizy Fouriera, - funkctja struktury - S(τ), metoda - box counting, metody autokorelacji. - Większość opracowań naukowych dotyczy charakterystyki po- wierzchni izotropowych, bądź mikro- czy nanostruktury, a zaled- wie kilka, z jakimi spotkał się autor pracy, traktowało o analizie fraktalnej mikrostruktur martenzytycznych, bądź powierzchni ani- zotropowych. Opis struktury martenzytycznej za pomocą analizy fraktalnej zo- stał przedstawiony po raz pierwszy przez Z. G. Yanga i in. w pracy [2]. Badano stop Cu28,26Zn3,25Al0,09 metodą box counting. Szerzej morfologia struktury martenzytycznej omówiona została przez A. A. Likhachev’a i in. w pracy [3] na przykładzie monokry- stalicznej próbki stopu Cu-Al-Ni podczas cyklu odwracalnej [...] więcej»
w zeszycie INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2010/5

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

Strona 1

r e k l a m a