profil Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk
  Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

zegar

To proste!

zobacz szczegóły
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

baza zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-1 spośród 1 dla zapytania: authorDesc:"TOMASZ KULKA"

» Mikroskopia bliskiego pola optycznego na bazie rezonatorów kwarcowych

TOMASZ KULKA  PIOTR GIL  MIROSŁAW WOSZCZYNA  ADAM PIOTROWICZ  ZUZANNA KOWALSKA  JACEK RADOJEWSKI  TEODOR GOTSZALK  
Długość fali światła jest podstawowym czynnikiem ograniczającym zdolność rozdzielczą mikroskopów optycznych do kilkuset nanometrów. Alternatywą dla mikroskopów optycznych jest mikroskopia bliskiego pola pozwalająca na zwiększenie rozdzielczości pomiaru. Aby otrzymać rozdzielczość rzędu kilkudziesięciu nm stosuje się zaostrzone włókno światłowodowe, które oświetla lokalnie skanowaną powierzchnię. Rozróżniamy kilka typów mikroskopii SNOM (ang. Scanning Near-Field Optical Microscopy) [1]: transmisyjny, odbiciowy i luminescencyjny. W trybie transmisyjnym próbka oświetlana jest przez włókno światłowodowe zamontowane na rezonatorze kwarcowym. Sonda umieszczona jest w odległości kilkudziesięciu nm od badanej próbki. Natężenie światła przechodzącego przez próbkę rejestrowane jest za p[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/9


 

 Strona 1 
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).