JACEK RADOJEWSKI- zobacz i pobierz wszystkie publikacje autora JACEK RADOJEWSKI w naszych czasopismach

Wyniki 1-4 spośród 4 dla zapytania: authorDesc:"JACEK RADOJEWSKI"

» Wytwarzanie ostrzy światłowodowych dla mikroskopii bliskiego pola optycznego

GRZEGORZ MAŁOZIĘĆ

ŁUKASZ WAŁACH

JACEK RADOJEWSKI

Jednym z najważniejszych elementów mikroskopu bliskiego pola optycznego SNOM (ang. Scanning Near-Field Optical Microscope), a zarazem jednym z najbardziej wrażliwych i delikatnych jest sonda skanująca. Jest ona najczęściej wykonana w postaci włókna światłowodowego zakończonego stożkowo. Istnieje kilka metod wytwarzania światłowodowych ostrzy pomiarowych. Jednak w praktyce wykorzystywane są tylko dwie najpopularniejsze, które pozwalają uzyskać sondy odpowiednie do zastosowań w skaningowym mikroskopie bliskiego pola optycznego. Są to: metoda wyciągania [1,2] oraz metoda trawienia chemicznego. Metoda trawienia chemicznego, zwana również metodą Turnera, w stosunku do metody wyciągania ma jedną zasadniczą zaletę: można w niej w dosyć łatwy sposób uzyskiwać ostrza o pożądanym kszta[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/9

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Mikroskopia bliskiego pola optycznego na bazie rezonatorów kwarcowych

TOMASZ KULKA

Długość fali światła jest podstawowym czynnikiem ograniczającym zdolność rozdzielczą mikroskopów optycznych do kilkuset nanometrów. Alternatywą dla mikroskopów optycznych jest mikroskopia bliskiego pola pozwalająca na zwiększenie rozdzielczości pomiaru. Aby otrzymać rozdzielczość rzędu kilkudziesięciu nm stosuje się zaostrzone włókno światłowodowe, które oświetla lokalnie skanowaną powierzchnię. Rozróżniamy kilka typów mikroskopii SNOM (ang. Scanning Near-Field Optical Microscopy) [1]: transmisyjny, odbiciowy i luminescencyjny. W trybie transmisyjnym próbka oświetlana jest przez włókno światłowodowe zamontowane na rezonatorze kwarcowym. Sonda umieszczona jest w odległości kilkudziesięciu nm od badanej próbki. Natężenie światła przechodzącego przez próbkę rejestrowane jest za p[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/9

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Wielowiązkowy układ do obserwacji ugięcia dźwigni macierzy czujników mikromechanicznych

Grzegorz MAŁOZIĘĆ

Teodor GOTSZALK

Konrad NIERADKA

Grzegorz WIELGOSZEWSKI1

W pracy przedstawiono układ do pomiaru statycznego wychylenia oraz charakterystyk rezonansowych mikrodźwigni sprężystych zintegrowanych w jednowymiarowej macierzy. Opisano budowę stanowiska do sterowania laserami półprzewodnikowymi oraz stabilizacji ich temperatury. Abstract. In the paper set-up to measure static deflection and resonance characteristics of cantilevers was presented. The cantilevers was integrated in one-dimension matrix. Construction of semiconductor lasers control station and temperature controller was described. (Multibeam setup for observation of the cantilever deflection in the micromechanical sensors matrix). Słowa kluczowe: mikrodźwignia, macierz, laser, zasilacz, światłowód. Keywords: cantilever, matrix, laser, waveguide. Wstęp Mikrodźwignie sprężyste znajdują ostatnio coraz szersze zastosowanie w różnych dziedzinach nauki. Ich pole stosowania wychodzi poza klasyczne metody mikroskopii bliskiego pola. Coraz częściej wykorzystywane są w biomedycynie, szczególnie jako potencjalnie wysokoczułe bioczujniki [1, 2]. W połączeniu z optyczną detekcją wychylenia stają się one detektorami masy i siły, pozwalającymi na detekcję zmiany masy w zakresie pojedynczych femtogramów [3, 4]. Obciążenie mikrodźwigni masą o takiej wartości powoduje zwykle ugięcie czujnika o ułamki nanometra. Dla zastosowania mikrodźwigni konieczne jest zatem skonstruowanie i użycie precyzyjnych układów optycznych, które pozwolą na detekcję tego typu ugięć. Na Wydziale Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki w Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur prowadzone są badania mające na celu opracowanie metod wykorzystania matryc mikrodźwigni sp[...] więcej»
w zeszycie PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010/10

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Wybrane zagadnienia metrologii mikro- i nanostruktur

Teodor Gotszalk

Postęp w dziedzinie mikro- i nanotechnologii jest związany nie tylko z rozwojem technologii wytwarzania mikro- i nanostruktur, ale również wymaga opracowania i wdrożenia nowych metod i technik badania stosowanych materiałów, konstruowanych przyrządów i podzespołów. Od technik i metod badawczych oczekuje się w tym przypadku przede wszystkim możliwości metrologicznej - innymi słowy - ilościowej oceny obserwowanych zjawisk. Dodatkowo powinny one się charakteryzować dużą czułością pozwalającą często na rejestrację zjawisk kwantowych oraz - w wielu przypadkach - nadzwyczajną lokalną zdolnością rozdzielczą umożliwiającą przeprowadzenie eksperymentu w obszarze kilkudziesięciu nanometrów kwadratowych. Należy zwrócić uwagę, że metrologia obejmuje nie tylko praktykę prowadzenia pomiaru, ale obejmuje również jego aspekty teoretyczne. W przypadku mikro- i nanostruktur oznacza to również interpretację rejestrowanych wyników, wykraczającą poza stosowane w makroskali rozumowanie bazujące często na statystycznym uśrednianiu. Konieczne jest również opracowanie i wdrożenie wiarygodnych i powszechnych metod skalowania stosowanych układów i przyrządów, co umożliwiałoby porównywanie wyników między poszczególnymi laboratoriami. Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur (ZMMiN) Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (WEMIF) Politechniki Wrocławskiej (PWr) zajmuje się opisanymi zagadnieniami od 2006 roku. Ideą prowadzonych badań jest, aby integrując różne metody i techniki badawcze, dokonywać ilościowej oceny zachowań struktur spotykanych w nanotechnologii, biotechnologii i technice mikrosystemów. Integracja ta obejmuje techniki pomiaru właściwości elektrycznych (m. in. spektroskopia impedancyjna, ang. Impedance Spectroscopy, IS), skaningową mikroskopię elektronową (ang. Scanning Electron Microscopy, SEM), mikroskopię bliskich oddziaływań (ang. Scanning Probe Microscopy, SPM), dyfraktometrię rentgenowską (ang. X-ray diffraction, XRD), optoele[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012/2

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

Strona 1

r e k l a m a