PRZEMYSŁAW SZECÓWKA- zobacz i pobierz wszystkie publikacje autora PRZEMYSŁAW SZECÓWKA w naszych czasopismach

Wyniki 1-4 spośród 4 dla zapytania: authorDesc:"PRZEMYSŁAW SZECÓWKA"

» Szybki i wysokorozdzielczy miernik częstotliwości na bazie układów FPGA

PRZEMYSŁAW SZECÓWKA

GRZEGORZ SŁUGOCKI

TEODOR GOTSZALK

Pomiary częstotliwości i czasu zajmują w miernictwie miejsce szczególne z uwagi na trudny do pogodzenia dylemat dokładność/ czas pomiaru. Dostępne urządzenia, konstruowane zwykle z wykorzystaniem układów cyfrowych, realizują pomiar różnych parametrów czasowych sygnałów elektrycznych, takich jak częstotliwość, okres, czas trwania impulsu, czy też liczba impulsów. Przyrządy te nazywane są licznikami uniwersalnymi ze względu na typowe podejście do pomiaru, polegające na zliczaniu impulsów badanego sygnału w określonym przedziale czasu. Odpowiednio długi czas w stosunku do okresu badanego sygnału, pozwala uzyskać bardzo wysoką precyzję [1]. Ta podstawowa strategia niestety zawodzi w przypadku, gdy częstotliwość badanego sygnału jest niska, a czas dostępny na pomiar mocno ogranicz[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009/10

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Szybki i wysokorozdzielczy miernik częstotliwości na bazie układów FPGA

PRZEMYSŁAW SZECÓWKA

GRZEGORZ SŁUGOCKI

TEODOR GOTSZALK

Pomiary częstotliwości i czasu zajmują w miernictwie miejsce szczególne z uwagi na trudny do pogodzenia dylemat dokładność/czas pomiaru. Dostępne urządzenia, konstruowane zwykle w oparciu o układy cyfrowe, realizują pomiar różnych parametrów czasowych sygnałów elektrycznych, takich jak częstotliwość, okres, czas trwania impulsu, czy też liczba impulsów. Przyrządy te nazywane są licznikami uniwersalnymi ze względu na typowe podejście do pomiaru, polegające na zliczaniu impulsów badanego sygnału w określonym przedziale czasu. Odpowiednio długi czas, w stosunku do okresu badanego sygnału, pozwala uzyskać bardzo wysoką precyzję [1]. Ta podstawowa strategia niestety zawodzi w przypadku, gdy częstotliwość badanego sygnału jest niska, a czas dostępny na pomiar mocno ograniczony. To [...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/2

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» 32 - kanałowy cyfrowy regulator PID na bazie układu FPGA do zastosowań w mikroskopii sił atomowych

ZDZISŁAW NOWACKI

Skaningowa mikroskopia sił atomowych to nowoczesna metoda badań powierzchni. Umożliwia m.in. pomiar topografii powierzchni na poziomie ułamków nanometrów. Ograniczeniem wielu przemysłowych zastosowań tej metody jest jednak stosunkowo małe pola skanowania, które wynosi zwykle 100 na 100 μm. Rozwiązaniem problemu może być zastosowanie do pomiarów powierzchni zamiast pojedynczej sondy matrycy belek [1]. Umożliwi to proporcjonalne skrócenie czasu pomiaru w przeliczeniu na zmierzoną powierzchnię. Zwiększenie liczby mikrobelek zastosowanych do pomiaru wiąże się jednak z proporcjonalnym rozbudowaniem systemu pomiarowego. Tor pomiarowy mikroskopu sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope) dla pojedynczej sondy pomiarowej przedstawiono na rys. 1. W przypadku zastosowania matryc[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/2

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Wybrane zagadnienia metrologii mikro- i nanostruktur

Teodor Gotszalk

Postęp w dziedzinie mikro- i nanotechnologii jest związany nie tylko z rozwojem technologii wytwarzania mikro- i nanostruktur, ale również wymaga opracowania i wdrożenia nowych metod i technik badania stosowanych materiałów, konstruowanych przyrządów i podzespołów. Od technik i metod badawczych oczekuje się w tym przypadku przede wszystkim możliwości metrologicznej - innymi słowy - ilościowej oceny obserwowanych zjawisk. Dodatkowo powinny one się charakteryzować dużą czułością pozwalającą często na rejestrację zjawisk kwantowych oraz - w wielu przypadkach - nadzwyczajną lokalną zdolnością rozdzielczą umożliwiającą przeprowadzenie eksperymentu w obszarze kilkudziesięciu nanometrów kwadratowych. Należy zwrócić uwagę, że metrologia obejmuje nie tylko praktykę prowadzenia pomiaru, ale obejmuje również jego aspekty teoretyczne. W przypadku mikro- i nanostruktur oznacza to również interpretację rejestrowanych wyników, wykraczającą poza stosowane w makroskali rozumowanie bazujące często na statystycznym uśrednianiu. Konieczne jest również opracowanie i wdrożenie wiarygodnych i powszechnych metod skalowania stosowanych układów i przyrządów, co umożliwiałoby porównywanie wyników między poszczególnymi laboratoriami. Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur (ZMMiN) Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (WEMIF) Politechniki Wrocławskiej (PWr) zajmuje się opisanymi zagadnieniami od 2006 roku. Ideą prowadzonych badań jest, aby integrując różne metody i techniki badawcze, dokonywać ilościowej oceny zachowań struktur spotykanych w nanotechnologii, biotechnologii i technice mikrosystemów. Integracja ta obejmuje techniki pomiaru właściwości elektrycznych (m. in. spektroskopia impedancyjna, ang. Impedance Spectroscopy, IS), skaningową mikroskopię elektronową (ang. Scanning Electron Microscopy, SEM), mikroskopię bliskich oddziaływań (ang. Scanning Probe Microscopy, SPM), dyfraktometrię rentgenowską (ang. X-ray diffraction, XRD), optoele[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012/2

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

Strona 1

r e k l a m a