Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk

Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

To proste!

zobacz szczegóły

r e k l a m a

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-1 spośród 1 dla zapytania: authorDesc:"Krzysztof Ryczko"

» Optyczne właściwości supersieci GaAs/AlGaAs badane za pomocą spektroskopii modulacyjnej

Filip Janiak

Ważnym źródłem promieniowania w zakresie średniej i dalekiej podczerwieni są lasery kaskadowe [1]. Wytwarzane są one często w oparciu o supersieci AlGaAs/GaAs [2, 3]. Znajdują zastosowanie w wielu dyscyplinach życia: w medycynie, spektroskopii czy detekcji szkodliwych gazów. Ze względu na skomplikowaną, wielomodułową budowę obszaru aktywnego lasery te wymagają bardzo dużej precyzji wykonania, w szczególności jeśli chodzi o grubości oraz składy poszczególnych warstw (barier oraz studni kwantowych) [4], jak również koncentracji nośników [5]. Ponadto z technologicznego punktu widzenia, niezbędne jest badanie powtarzalności procesu wytwarzania struktur. Spektroskopia modulacyjna [6-11] jest metodą pomiarową charakteryzującą się dużą czułością pozwalającą zdobywać informacje o przejściach optycznych, a w rezultacie o strukturze energetycznej badanych obiektów. W szczególności metoda ta w połączeniu z obliczeniami struktury pasmowej badanych próbek pozwala na wyznaczenie wielu istotnych parametrów struktur półprzewodnikowych, takich jak: przerwy energetyczne, masy nośników, nieciągłości pasm, grubości i składy warstw tworzących strukturę [12, 13]. Ponadto takie podejście pozwala np. na wyznaczenie wielkości wbudowanych pól elektrycznych [14], możliwość uzyskania informacji na temat położenia poziomu Fermiego w strukturze [15]. W badaniach do wyznaczenia optycznych właściwości supersieci GaAs/AlGaAs zastosowaliśmy jedną z metod spektroskopii modulacyjnej - fotoodbicie PR (ang. Photoreflectance). Badania wykonano dla serii próbek o różnej grubości warstw studni jak i warstw barier, celem potwierdzenia założonych w procesie wzrostu parametrów struktury. Ponadto wykonano serię pomiarów PR, które miały wykazać z jednej strony jednorodność badanych struktur w obszarze płytki epitaksjalnej, z drugiej strony powtarzalność procesów technologicznych. Eksperyment Supersieciowe struktury testowe wykonano z zastosowaniem technologii epitaks[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011/10

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »