profil Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk
  Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

zegar

To proste!

zobacz szczegóły
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

baza zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"Stanisław Galla"

» Wykorzystanie termowizji w badaniach odporności na udary wg EN61000-4-5

Stanisław GALLA  
Przedstawiono wyniki badań konstrukcyjnych urządzeń elektronicznych z zastosowaniem kamery podczerwieni do obserwacji obiektu badanego podczas badań odporności na udary napięciowe wykonywane wg normy EN61000-4-5 Abstract. The results of research design of electronic devices are present during testing resistance to voltage surges carried out according to standard EN61000-4-5 which using an infrared camera to observe the test object. (Application of thermovision in investigations of electronic devices) Słowa kluczowe: EMC odporność, weryfikacja, termowizja. Keywords: EMC immunity, verification, thermovision. Wstęp Podczas badań odporności wykonywanych dla podstawowych prób odporności urządzeń elektronicznych jednym z badań wykonywanych dla urządzeń mających porty wejścia - wyjścia jest badanie odporności na udary wg EN 61000-4-5 [5]. Podczas tego badania na badane porty podaje się za pomocą znormalizowanych układów sprzęgających udary napięciowe o parametrach określonych w odnośnych normach dotyczących danej konstrukcji. W przypadku wystąpienia znacznego przeciążenia elementów ochronnych najczęściej dochodzi do ich trwałego uszkodzenia. W niektórych przypadkach udary probiercze uszkadzają częściowo elementy ochronne nie doprowadzając do ich zniszczenia bądź utraty funkcjonalności, i pozostają nie zauważone. Zastosowanie wizyjnej inspekcji badanego urządzenia w zakresie widma podczerwonego pozwala na bieżąco, podczas badania określać, który element jest najbardziej narażany podczas testu. Uzyskane termogramy badanego obiekt poprawiają znacznie jakość i ilość informacji uzyskiwanych na temat danej konstrukcji. Dodatkowo. monitoring urządzenia badanego w zakresie widma podczerwonego pozwala równocześnie na sprawdzenie czy wszystkie komponenty systemu pracują (w niektórych przypadkach dla urządzeń cyfrowych programowo można wyłączać poszczególne części układów badanych). Pozwala to na kontrolę stosowanego oprogramowania jak równi[...] więcej»
w zeszycie PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012/2


 

» Zestaw laboratoryjny źródeł zaburzeń EMC

Andrzej Elert  Emil Śniadach  Stanisław Galla  
Rozwój techniki w ostatnich kilku dekadach spowodował wzrost ilości produkowanych urządzeń elektronicznych [1]. Urządzenia te stają się na ogół coraz mniejsze [2] i charakteryzujące się coraz mniejszym poborem mocy, przy równoczesnym korzystaniu z coraz mniejszych poziomów sygnałów sterujących, głównie prądów - zwłaszcza w urządzeniach cyfrowych. Obok urządzeń cyfrowych o małym poborze mocy pracują urządzenia analogowe, które nierzadko przełączają znaczne prądy [3]. Dzisiejsze urządzenia sterujące najczęściej stanowią połączenie cyfrowego sterownika oraz analogowej części wykonawczej. Połączenie ich w jedno urządzenie oraz zasilanie z jednego źródła może stwarzać spore problemy z jego prawidłową pracą lub utrudniać pracę innych urządzeń podłączonych do tego samego źródła zasilania. Obecnie przyjmuje się, że każde działające urządzenie elektryczne, czy też elektroniczne, z jednej strony jest źródłem zaburzeń [4], a z drugiej samo jest poddawane działaniu zakłóceń [1]. Dopuszcza się używanie terminu zakłócenia w odniesieniu do zaburzeń, toteż w niniejszej pracy rozróżnienie zaburzenia (przyczyny) i zakłócenia (skutku) następować będzie jedynie w zależności od kontekstu użycia tego terminu. Propagacja zaburzeń Powstawanie zaburzeń w urządzeniach elektrycznych, czy też elektronicznych, związane jest zawsze z przepływem prądu przez stratne układy [2]. Powstawanie zaburzeń można przedstawić jako prosty układ złożony z: źródła zaburzeń, kanału propagacji i receptora zakłóceń [2]. W zależności od częstotliwości rozważanych zaburzeń będziemy mieli do czynienia z różnymi kanałami (mechanizmami) propagacji. Propagacja zaburzeń wysokiej częstotliwości (w.cz.) W tym zakresie częstotliwości wyróżnia się dwa podstawowe mechanizmy propagacji zaburzeń. Pierwszym z nich jest rozprzestrzenianie się zakłó[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011/10


 

 Strona 1 
r e k l a m a
FAIL (the browser should render some flash content, not this).