Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk

Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

To proste!

zobacz szczegóły

r e k l a m a

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

zobacz szczegóły

Wyniki wyszukiwania

Wyniki 1-7 spośród 7 dla zapytania: authorDesc:"DANIEL KOPIEC"

» Uniwersalny sterownik na bazie mikrokontrolera ATmega128 dla mikroskopii bliskich oddziaływań

KRZYSZTOF GARCZYŃSKI

Od czasu skonstruowania mikroskopu skaningowego przez G. Binninga i M. Rohrera, zaobserwowano duży postęp w metrologii mikro- i nanostruktur [1]. Możemy dziś obserwować obiekty o skrajnie małych rozmiarach geometrycznych m.in. za pomocą technik bliskiego pola, wykorzystujących różne zjawiska fizyczne. Postęp zainicjował skonstruowanie mikroskopu sił atomowych, który pozwolił na badanie materiałów nieprzewodzących elektrycznie [2]. W ten sposób mikroskop tunelowy wraz z mikroskopem sił atomowych, które stanowią zasadniczy trzon mikroskopii bliskich oddziaływań, znalazły zastosowanie w badaniach chemicznych, biologicznych, a także w zakresie inżynierii materiałowej w skali mikro-, jak i nano. Tak szybki rozwój wspomnianych technik spowodował coraz to większe zapotrzebowanie na nowe konstrukcje systemów kontrolno-pomiarowych przeznaczonych do badań mikro- i nanostruktur. We współczesnych systemach, konstruowanych samodzielnie w laboratoriach badawczych, jednym z najważniejszych problemów konstrukcyjnych do rozwiązania, jest użycie odpowiedniego systemu komunikacji i sterowania poszczególnymi komponentami całego systemu, którym może być mikroskop bliskich oddziaływań. Współcześnie obserwujemy znaczny wzrost mocy obliczeniowej nie tylko procesorów, ale również różnych klas mikrokontrolerów czy procesorów sygnałowych, któremu towarzyszy spadek ceny i wzrost funkcjonalności. Tematem pracy jest budowa urządzenia kontrolno-pomiarowego, które swoją uniwersalnością i stosunkowo niskim kosztem, mogłoby zastąpić w pewnych zastosowaniach poprzedni, odpowiednio droższy, system bazujący na procesorze sygnałowym TigerSharc firmy Analog Devices [2]. Do realizacji projektu wybrano ośmiobitowy mikrokontroler jednoukładowy ATmega128, firmy Atmel [3] oraz układ logiki programowalnej XC75144XL, której producentem jest Xilinx [4]. K[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/9

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Wzmacniacz fazoczuły typu lock-in do zastosowań w mikroskopii bliskich oddziaływań

DANIEL KOPIEC

Do pomiaru właściwości geometrycznych oraz właściwości fizycznych powierzchni w skali pojedynczych nanometrów wykorzystuje się wysokorozdzielczą mikroskopię bliskich oddziaływań. W technice tej, aby mierzyć właściwości powierzchni w trybie bezkontaktowym NC AFM (ang. NonContact Atomic Force Microscopy), tzn. w trybie, w którym sonda nie naciska statycznie na próbkę, a drga rezonansowo nad powierzchnią. Siły wzajemnych oddziaływań sonda-próbka powodują zmianę drgań rezonansowych. W ogólnym przypadku zmianie ulega amplituda, częstotliwość rezonansowa oraz faza. Zmiana amplitudy niesie informacje o wartości siły oddziaływań, natomiast pomiary zmian fazy pozwalają charakteryzować powierzchnię pod względem różnic materiałowych. Zmiana częstotliwości rezonansowej pozwala na jakości[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/1

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Mikroprocesorowy moduł do akwizycji danych z wykorzystaniem systemu czasu rzeczywistego

TOMASZ WOJCIECHOWSKI

Z wyłączeniem procesorów wielordzeniowych, każdy program wykonywany jest w sposób liniowy, czyli procesor może w danym momencie przetwarzać zestaw instrukcji odpowiedzialny tylko za jedno zadanie. Przejście do innego zadania może nastąpić przez instrukcję skoku lub przerwanie. W mikrokontrolerach najczęściej stosuje się pętlę główną wykonującą po kolei zaplanowane zadania. Wadą takiego rozwiązania jest konieczność częstego sprawdzania, czy odebrano nowe dane, co komplikuje kod programu, a także nie zapewnia, że zmiana wykonywanego zadania nastąpi w natychmiastowy sposób. Rozwiązaniem są systemy operacyjne czasu rzeczywistego, w których występuje przydział czasu na wykonanie zadania, a także podział zadań według priorytetów, co gwarantuje, że czas odpowiedzi systemu jest ograni[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/2

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Analiza szumów w mikro-mechanicznych czujnikach rezonansowych

Grzegorz JÓZWIAK

Mikromechaniczne czujniki rezonansowe są stosowane do pomiaru małej siły, masy i lepkości. Po odpowiedniej funkcjonalizacji powierzchni mogą być wykorzystywane jako czujniki biochemiczne do detekcji oddziaływań molekularnych. Występujący w tych układach szum jest najważniejszym czynnikiem ograniczającym czułość na zmiany mierzonej wielkości i rozdzielczość pomiaru. Szczególne znaczenie ma szum mechanicznych drgań termicznych, który może pełnić również istotną rolę w procesie pomiaru właściwości mechanicznych układu. W pracy przedstawiono modele matematyczne wybranych szumów występujących w układach rezonansowych, zwracając szczególną uwagę na szum termicznych drgań mechanicznych. Zaprezentowano układ pomiarowy do badania szumów mikrobelek sprężystych z piezorezystywnym detektorem ugięcia. Układ ten wykorzystano do pomiaru mechanicznych właściwości drgań termicznych mikrobelki wykonanej w Instytucie Technologii Elektronowej w Warszawie. Abstract. Micromechanical resonant sensors are widely applied to measurements of low forces, masses and viscosity. After surface functionalization they might be used as biochemical sensors for intermolecular force detection. The noise existing in those devices is the main factor limiting the device sensitivity and the measurement resolution. Furthermore, the analysis of mechanical thermal noise of the microcantilever can play main role in a calibration process of sensor mechanical properties. In the paper the mathematical models for 1/f noise, Johnson-Nyquist noise and thermal oscillations noise in frequency domain are presented. The special attention is paid on mechanical thermal noise and its connections with mechanical properties of the system. It is shown that only thermal noise analysis is able to determine system spring constant and that the methods based on the system transmittance analysis fail due to inseparability of the system effective mass and the system spring constant or due to the lack of calib[...] więcej»
w zeszycie PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010/10

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Maskless laser lithography for fast Microand Nanotechnology devices prototyping in ITE

ANDRZEJ SIERAKOWSKI

Production of MEMS/MOEMS on silicon substrates requires specific technological sequences significantly different from those used in fabrication of Integrated Circuits (ASICs). Applications, such as transducers, AFM probes, gripers are 3- dimensional, while ASICs are located within a thin top layer of a substrate. In the case of MEMS/MOEMS the entire volume of the substrate may play an important role being a functional part of the instrument e.g. mirrors, mobile parts of an actuator, bio-cells. To produce such a type of structures, in addition to a standard technological sequence, one may use deep silicon etching processes (wet and plasma). Often used silicon <100> anisotropic etching technology leads to slant-angle sidewalls. Some applications require placing a metal path going across the sloped area. Performing photolithography makes in such a case many difficulties, mainly because of the variable resist thickness. On expanded topographies, where the sloping surfaces exist, the resist layer is thicker close to the lower edges and thinner close to the top surface. In addition, one can observe an effect of decreasing the metal path width situated close the sloping surfaces resulting from additional resist exposure by light reflected from the mirror surface <111>. During developing of a MEMS/MOEMS new application very often is necessary to test more than one option of the design. Especially photolithography processes require such a type of optimization. Vario[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011/3

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Mikrodźwignia sprężysta jako czujnik biochemiczny

KONRAD NIERADKA

GRZEGORZ WIELGOSZEWSKI

PAWEŁ ZAWIERUCHA

PIOTR GRABIEC

PAWEŁ JANUS

W leczeniu pacjentów ze stanami septycznymi, kluczową rolę odgrywa szybka i niezawodna identyfikacja bakterii odpowiedzialnej za zakażenie. Obecne metody i aparatura wymagają często wielogodzinnej lub kilkudniowej kultywacji kultur bakterii, zastosowania znaczników fluorescencyjnych i wizualnej oceny preparatu przez wykwalifikowanego pracownika. Nową jakość w dziedzinie diagnostyki biochemicznej stanowią czujniki mikromechaniczne, działające na zasadzie ruchu lub deformacji części czujnika pod wpływem zachodzących na jego powierzchni oddziaływań odpowiednich biomolekuł [1, 2]. W opisywanych rozwiązaniach funkcję przetwornika i wzmacniacza oddziaływań pełni mikrodźwignia sprężysta lub inny element mikromechaniczny, a funkcję warstwy receptorowej osadzona na jego powierzchni samoorganizująca się warstwa molekularna [3] SAM (ang. Self-Assembled Monolayer) z odpowiednimi grupami terminalnymi, oddziaływującymi specyficznie z szukaną substancją. Pod wpływem zmiany masy związanej na powierzchni mikrodźwigni, zmienia się jej częstotliwość rezonansowa drgań własnych. Ponadto, pod wpływem zmiany rozkładu naprężeń powierzchniowych po obu stronach mikrodźwigni dochodzi do jej statycznego ugięcia. Między oboma zjawiskami zachodzi naturalne sprzężenie, zmiana związanej masy powoduje nieznaczne statyczne ugięcie czujnika znajdującego się w polu grawitacyjnym, a indukowane naprężenia powierzchniowe powodują zmianę stałej sprężystości, a co za tym idzie, zmianę częstotliwości rezonansowej (rys. 1). Obecnie rozwijane rozwiązania aparaturowe umożliwiają detekcję masy rzędu dziesiątków femtogramów [4], a zaawansowane warstwy receptorowe umożliwiają zastosowanie mikrodźwigni do badania składu gazów [5], detekcji śladowych ilości par materiałów wybuchowych [6], badania sekwencji DNA [7], czy testowania działania leków [8]. Prace badawcze nad czujnikami na bazie na mikrodźwigni sprężystych, prowadzone na Wydziale Elektroniki Mikrosystemów i Foto[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/6

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

» Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych

PAWEŁ ZAWIERUCHA

Skaningową mikroskopię sił atomowych wynaleziono w 1986 roku w laboratoriach IBM w Zurychu. Bardzo szybko stała się podstawową metodą badania powierzchni. Wynikało to z unikalnych możliwości mikroskopii AFM jako przyrządu pomiarowego. Metoda umożliwia wykonanie pomiaru topografii powierzchni i wyznaczenia wymiarów struktur we wszystkich trzech kierunkach z subnanometrową rozdzielczością. Dzięki swoim właściwościom metrologicznym mikroskopia AFM znalazła przede wszystkim zastosowanie w pomiarach powierzchni półprzewodnikowych, pozwalając obserwować układ atomów na powierzchni. Pozwoliło to na obserwację sposobu wbudowywania się atomów domieszki i ich wpływ na organizację krystalograficzna powierzchni półprzewodnika. Możliwa stała się również dokładna analiza defektów krystalograficznych, niedopasowań sieciowych czy nieciągłości monowarstw atomowych. Mikroskopia sił atomowych stosowana jest obecnie również do pomiarów struktur biologicznych i chemicznych. Metoda ta umożliwia obserwację pojedynczych cząsteczek i struktur biologicznych, takich jak nici DNA czy chromosomów. Zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań umożliwiło znaczny postęp we wszystkich dziedzinach nauki, gdzie konieczna była obserwacja struktur o wymiarach nanometrowych. W dalszym ciągu mikroskopia AFM jest również przedmiotem badań, poszukiwane są nowe metody pomiarowe, jak również sposoby zastosowania mikroskopii w innych dziedzinach badawczych i technologicznych. Niestety zastosowanie mikroskopii sił atomowych ogranicza się przede wszystkim do badań laboratoryjnych. W dalszym ciągu metody tej nie można zastosować w przemyśle do pomiarów na liniach technologicznych. Podstawowym ograniczeniem jest zbyt mała szybkość wykonywania pomiaru. Przykładowo dla pomiaru z rozdzielczością 512 × 512 punktów przy szybkości skanera 1 s/linię czas pomiaru powierzchni wynosiłby około 9 minut. Dodatkowo, powierzchnia pojedynczego pomiaru wynosi około 100 × 100 μm. J[...] więcej»
w zeszycie ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010/6

KUP TERAZ » KUP TERAZ (SMS) »

Strona 1

r e k l a m a