Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"WOJCIECH ZABOŁOTNY"

Indirect method of measuring changes of EM field in RF-gun cavity for XFEL accelerator

Czytaj za darmo! »

XFEL is an abbreviation for X-Ray Free Electron Laser. The device is used as a source of the narrow-band X-ray radiation. At present, the XFEL prototype called FLASH (Free electron LASer in Hamburg) is being tested. The coherent light wave is generated in an undulator from a beam of high energy electrons. Particles are accelerated in the linear accelerator (LINAC). The RF-Gun is a source of free electrons bunches. In the Fig. 1 the simplified diagram of the RF-Gun structure if shown. Free electrons are generated by a laser pulse concentrated on the photo-cathode. Then the particles are accelerated by the EM field in the resonance cavity [2]. In order to provide reliable beam, the timespan between the laser pulse and the maximum of the cavity field gradient has to be kept const[...]

Elektroniczne systemy pomiarowe do diagnostyki gorącej plazmy tokamakowej DOI:10.15199/13.2016.2.1


  W artykule przedstawiono opracowane przez Zespół Autorów wydajne elektroniczne systemy pomiarowe do diagnostyki gorącej plazmy tokamakowej bazujące na detektorach GEM. Na wstępie krótko omówiono realizowane eksperymenty fizyczne związane z gorącą plazmą oraz zasadę działania detektorów GEM, wykorzystywanych do rejestracji promieniowania miękkiego typu X emitowanego w tokamakach. Przedstawiono ogólną koncepcję budowy systemów elektronicznych do realizacji diagnostyki gorącej plazmy, działających z dużą ilość kanałów wejściowych oraz krótkim czasem przetwarzania danych. Omówiono dwa kluczowe systemy opracowywane przez Zespół: system sprzętowego histogramowania miękkiego promieniowania X oraz system szybkiej akwizycji potokowej miękkiego promieniowania X. Opisano budowę sprzętową systemów, opracowane koncepcje oraz implementacje oprogramowania (firmware oraz software) wraz z niezbędnymi algorytmami. Przedstawiono ponadto wyniki z działania systemów. Słowa kluczowe: FPGA, tokamak, plazma, detektor GEM, diagnostyka, system pomiarowy, szybka akwizycja danych, HDL, przetwarzanie danych.Ze względu na duży wpływ zanieczyszczeń plazmy w reaktorach typu tokamak na parametry wyładowania, w badaniach nad nią dużą rolę odgrywają diagnostyki oparte na pomiarach koncentracji domieszek. W szczególności pomiar polega na estymacji intensywności promieniowania linii emisyjnych poszczególnych elementów wewnątrz obszaru badanej plazmy. Domieszki te powstają na wskutek oddziaływania plazmy z otaczającymi ją powierzchniami, a więc koncentracja ich jest silnie zależna od materiałów pierwszej ścianki komory tokamaka. Wolfram, który jest głównym kandydatem na materiał pierwszej ścianki w projekcie ITER oraz w przyszłym reaktorze syntezy termojądrowej [1], zaczął być w ostatnich latach stosowany w wielu urządzeniach, w tym w projekcie WEST, gdzie jest wdrażany aktywnie chłodzony dywertor (część reaktora typu tokamak służąca do odprowadzania nieczysto[...]

 Strona 1