Wyniki 1-3 spośród 3 dla zapytania: authorDesc:"Przemysław Korpas"

Charakteryzacja elektryczna ceramicznej oprawki tranzystora RF


  Oprawki tranzystorów stosowanych w układach mikrofalowych są istotnym elementem decydującym w znacznym stopniu o jakości gotowych przyrządów półprzewodnikowych. W wypadku obudów tranzystora wprowadzają one pasożytnicze pojemności i indukcyjności, które powodują obniżenie częstotliwości granicznej fT oraz pogarszają warunki stabilności. Ponadto można zaobserwować również efekty rezonansowe [1] wywołane niefortunnym układem rozproszonych pojemności obudowy oraz indukcyjnością połączeń drutowych. Poznanie parametrów obudów oraz ich wpływ na działanie tranzystorów pozwala na minimalizowanie takich efektów. W niniejszym komunikacie przedstawiono wyniki prac prowadzących do zaproponowania struktury i parametrów obwodu zastępczego reprezentującego elementy pasożytnicze oprawki tranzystora. Opisano w nim opartą na wykorzystaniu modeli numerycznych metodologię modelowania typowej oprawki jednego z popularnych mikrofalowych tranzystorów mocy na pasma L i S. Jako jeden z przykładów wykorzystania uzyskanych wyników można podać analizę prowadzącą do decyzji, czy zalety umieszczenia tranzystora w kosztownej obudowie równoważą pogorszenie parametrów zaciskowych w porównaniu z chipem zamontowanym bezpośrednio w układzie mikrofalowym. Przedstawione podejście jest rozwinięciem metody opisanej w [2], gdzie nie zajmowano się jednak oprawkami tranzystorów mocy, co prowadziło do innych obwodów zastępczych niż zaproponowane w niniejszej pracy. W [2] nie przeprowadzono także kalibrowania modelu numerycznego na podstawie danych pomiarowych, co postuluje się w niniejszej pracy. Testowa oprawka tranzystora mocy Do eksperymentów wybrano tranzystor MRFG 35010 firmy Freescale w oprawce określonej przez producenta jako NI- 360HF (360D). Tranzystor osiąga maksymalną moc wyjściową 10 W przy wzmocnieniu ok. 10 dB i jest przeznaczony do pracy w zakresie częstotliwości 1,8…3,6 GHz. Przyrząd ten jest zamknięty w obudowie z tlenku glinu (alundu) o małych[...]

Wykorzystanie metody indukcyjnej w badaniach nieniszczących kompozytów węglowych wzmacnianych włóknami węglowymi DOI:10.15199/59.2015.6.11


  Kompozyty polimerowe wzmacniane włóknami węglowymi (carbon-fibre-reinforced polimer - CFRP) stają się coraz bardziej popularne i coraz powszechniej stosowane, ze względu na takie właściwości, jak duży stosunek wytrzymałości do wagi, odporność na korozję, dobre własności zmęczeniowe itp. Powyższe cechy doprowadziły do znacznego wzrostu zastosowań przemysłowych kompozytów CFRP do budowy turbin wiatrowych, kadłubów samolotów, sprzętu sportowego i wielu innych. Jednak w wyniku różnych uszkodzeń i / lub błędów strukturalnych materiały CFRP mogą utracić swoje cenne właściwości podczas wytwarzania, montażu oraz w trakcie eksploatacji. Szerokie zastosowanie materiałów CFRP stworzyło potrzebę opracowania szybkich i niezawodnych systemów do badań nieniszczących (non-destructive testing - NDT), zarówno do kontroli jakości w trakcie procesu produkcyjnego, jak również do monitorowania stanu konstrukcji w ramach inspekcji okresowych [1]. Jedną z technik NDT powszechnie stosowanych do inspekcji konstrukcji CFRP jest badanie ultradźwiękowe (ultrasonic testing - UT) oparte na propagacji fali ultradźwiękowej przez materiał badany (material under test - MUT) oraz detekcję fali odbitej od defektu. W trybie pulse-echo fala może być wzbudzana oraz detekowana jednym przetwornikiem, natomiast w trybie transmisyjnym fala transmitowana odbierana jest przez inny przetwornik umieszczony po przeciwległej stronie MUT [2], [3]. W [4] zastosowano skanowanie ultradźwiękowe obrazów oraz skany typu C do rekonstrukcji uszkodzeń laminatów CFRP powstałych w wyniku uderzeń mechanicznych. Wadą UT jest jednak konieczność sprzężenia (zazwyczaj wodnego), umożliwiającego dopasowanie impedancyjne przetwornika ultradźwiękowego z MUT, co ogranicza praktyczne zastosowanie metody do badań laboratoryjnych oraz w procesie wytwarzania elementów CFRP. W ciągu ostatnich dziesięcioleci zaproponowano różne warianty ultradźwiękowych badań nieniszczących za pomocą laserów [5], [6][...]

Szerokopasmowy odbiornik mikrofalowy z analogową przemianą 0-IF DOI:


  W większości nowoczesnych odbiorników stosowanych w systemach komunikacji bezprzewodowej i specjalistycznych systemach radiolokacyjnych do realizacji kluczowych funkcji związanych z demodulacją i detekcją wykorzystuje się rozwiązania oparte na obróbce sygnałów cyfrowych w kwadraturze. Przetworniki A/C konieczne do konwersji sygnałów analogowych na cyfrową postać wraz z wejściowym analogowym torem w.cz. definiują szerokość pasma i najważniejsze parametry systemu wyrażane przez dynamikę i liniowość przetwarzania. Zwykle projektowanie odbiornika sprowadza się do jak najbardziej efektywnego wykorzystania możliwości, wciąż niewystarczających, współczesnych przetworników. Zdefiniowana na nowo rola analogowego toru radiowego podporządkowana takiemu podejściu, polega na dopasowaniu wejściowego sygnału pod względem zakresu częstotliwości i wzmocnienia do warunków pracy wybranego przetwornika, przy ograniczeniu wnoszonych zniekształceń. Obecnie najszybsze z dostępnych przetworników pozwalają na równoczesne dwukanałowe próbkowanie z częstotliwością 1 GS/s przy rozdzielczości 14 bitów i 4 GS/s przy rozdzielczości 12 bitów w jednym kanale, co przy uwzględnieniu możliwości realizacyjnych filtrów antyaliasingowych umożliwia budowę szerokopasmowych odbiorników z bezpośrednią przemianą częstotliwości (homodyna, 0-IF) o pasmie do 800 MHz i odbiorników superheterodynowych (IF) o pasmie dwukrotnie większym. W artykule podsumowano wstępny etap prac nad szerokopasmowym odbiornikiem przeznaczonym do pracy w zakresie od 1 GHz do 6 GHz o pasmie analizy 500 MHz i dynamice lepszej niż 60 dB, którego konstrukcję oparto na rozwiązaniu układowym z bezpośrednią analogową przemianą częstotliwości (0-IF). Opracowanie urządzenia o tak wygórowanych parametrach stało się możliwe, dzięki optymalnemu wykorzystaniu najnowszych podzespołów półprzewodnikowych, w szczególności przetwornika AD9680 [1] (Analog Devices), wyznaczającego nowe możliwości i granice w proj[...]

 Strona 1