Wyniki 1-10 spośród 15 dla zapytania: authorDesc:"Zygmunt L. Warsza"

Dokładność mostka z czujnikami Pt100

Czytaj za darmo! »

Zakres względnych zmian rezystancji wielu czujników, w tym i termorezystorów platynowych jest szeroki. Do pozyskiwania i wstępnego przetwarzania ich sygnału na wejściu torów pomiarowych często stosuje się odchyłowy mostek rezystancyjny. Aby umożliwić wymianę czujników, układ pomiarowy kalibruje się według ich charakterystyki znamionowej i wyposaża w możliwości adjustacji. Ponieważ czujniki s[...]

Wyznaczanie niepewności próbek pomiarowych o kilku niegaussowskich rozkładach prawdopodobieństwa


  Wiele badań naukowych i technicznych prowadzi się obecnie przy użyciu przyrządów i systemów pomiarowych z czujnikami o realizowanym wirtualnie cyfrowym przetwarzaniu sygnałów. Obejmuje ono również różne rodzaje ich filtracji i szacowanie dokładności w czasie rzeczywistym lub off line. Rola właściwego wyboru algorytmów przetwarzania surowych danych pomiarowych jest szczególnie istotna przy oprogramowywaniu systemów z czujnikami przeznaczonych do pracy ciągłej. W obiekcie mierzonym i współpracujących z nim urządzeniach pomiarowych dominuje zwykle niewielka liczba źródeł zakłóceń oddziałujących losowo. Wówczas rozrzut wartości obserwacji pomiarowych występuje w ograniczonym przedziale i odbiega od normalnego rozkładu prawdopodobieństwa. Takie przypadki modeluje się kilku prostymi rozkładami niegaussowskimi o ograniczonym rozpięciu. Dotychczasowe przepisy międzynarodowe o szacowaniu dokładności wyniku pomiarów dotyczą danych o rozrzucie modelowanym rozkładem normalnym. Obejmują one zasady wyznaczania i oceny niepewności wyniku pomiarów ujednolicone w skali międzynarodowej jako zalecenia zawarte w przewodniku Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, nazywanym w skrócie GUM [1]. Tłumaczenie polskie wersji GUM z 1995 r. wydał i zalecił do stosowania w Polsce Główny Urząd Miar [2]. Według tego Przewodnika estymatorem wartości menzurandu jest średnia arytmetyczna X- obserwacji pomiarowych stanowiących próbkę z populacji generalnej po skorygowaniu ich przez znane poprawki. Oszacowaniem dokładności tego wyniku jest zaś niepewność rozszerzona U (ang. uncertainty U), która stanowi sumę geometryczną dwóch niepewności składowych, uA i uB, pomnożoną przez współczynnik rozszerzenia kP ∈ (2, 3), tj. (1) Jest to przedział wartości wielkości mierzonej w którym może wystąpić wynik pomiaru z arbitralnie przyjętym prawdopodobieństwem P. Niepewność składowa uA jest odchyleniem standardowym średniej X- danych próbki. Sposób wyzn[...]

Recenzja książki- Korytkowski Jacek "Elektroniczne symulatory rezystancji i konduktancji w układach pomiarowych", seria: Monografie Studia Rozprawy, Oficyna Wydawnicza Przemysłowego Instytutu Automatyki i Pomiarów PIAP, Warszawa 2014. DOI:

Czytaj za darmo! »

Korytkowski Jacek: "Elektroniczne symulatory rezystancji i konduktancji w układach pomiarowych", seria: Monografie Studia Rozprawy, Oficyna Wydawnicza Przemysłowego Instytutu Automatyki i Pomiarów PIAP, Warszawa 2014.Treść książki o objętości 176 stron dzieli się na 7 rozdziałów oraz bogatą literaturę o 173 pozycjach. Praca zawiera też liczne rysunki i schematy elektroniczne oraz tablice z parametrami i charakterystykami współczesnych monolitycznych elementów elektronicznych stosowanych w układach symulatorów rezystancji i konduktancji. Autor, dr inż. Jacek Korytkowski jest wieloletnim pracownikiem i profesorem Przemysłowego Instytutu Automatyki i Pomiarów PIAP, doświadczonym konstruktorem elektronicznej aparatury pomiarowej i regulacyjnej. Z pełną znajomością zagadnień zgromadził i przedsta[...]

Z półki księgarskiej Waldemar Nawrocki INTRODUCTION TO QUANTUM METROLOGY. QUANTUM STANDARDS AND INSTRUMENTATION (Wprowadzenie do metrologii kwantowej. Wzorce i przyrządy kwantowe) DOI:

Czytaj za darmo! »

Springer International Publishing, 2015, DOI 10.1007/978-3-319-15669-9, eBook ISBN 978-3-319-15669-9, hardcover ISBN 978-3-319-15668-2, 279 stron.Recenzowana książka jest poświęcona kompleksowemu ujęciu zagadnień metrologii opartej na zjawiskach kwantowych. Zakres tematyczny książki dotyczy wybranych praktycznych aspektów metrologii kwantowej i obejmuje trzy podstawowe jej obszary. Autor przedstawił w niej teoretyczne podstawy metrologii kwantowej (ustalanie granic fizycznych niepewności pomiarów dzięki zasadzie nieoznaczoności Heisenberga, określanie największej rozdzielczości energetycznej i czułości pomiarów) oraz zdefiniował i podał kwantowy system miar, obejmujący praktyczną jego realizację za pomocą kwantowych wzorców wielkości fizycznych, zarówno elektrycznych (wzorce: napięcia, oporu elektrycznego, natężenia prądu), jak i nieelektrycznych (w tym: zegar atomowy, laserowy wzorzec dłu[...]

Nowe książki Zbigniew Hilary Żurek, Piotr Duka, Obwody RLC w diagnostyce i eksploatacji maszyn DOI:

Czytaj za darmo! »

Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice 2014. ISBN 978-83-7880-253 oraz w wersji angielskiej "RLC Circuits for Material Testing and NDT" PL ISBN 978-83-931909-8-0 wydanej przez Institute of Electrical Drives and Machines KOMEL Katowice PL Książka liczy 144 str (angielska wersja: 145 stron). Treść, poprzedzona przez Słowo Wstępne jednego z recenzentów książki prof. Lecha Dietricha, składa się z 11 rozdziałów, bibliografii (101 pozycji, w tm 45 Zb. Żurka ) i załącznika CD z przykładami w oprogramowaniu MATHEMATICA (tylko w wersji polskiej). W założeniu Autorów jest to specjalizowany podręcznik akademicki o charakterze monograficznym, w dużym stopniu oparty jest na pracach badawczych dr hab. inż. Zbigniewa H. Żurka, profesora Politechniki Ślą[...]

Uogólniony opis właściwości częstotliwościowych rezystorów DOI:10.15199/13.2016.3.9


  Podano trój-elementową impedancję z parametrem głównym - rezystancją R i parametrami resztkowymi: szeregową indukcyjnością L i bocznikującą pojemnością C jako schemat zastępczy rezystora przy prądzie przemiennym (AC) stanowiący jego model podstawowy. Składowa rzeczywista tej impedancji nie równa się rezystancji R przy prądzie stałym (DC) i pojawia się składowa urojona, obie zależne od częstotliwości. Analizowano też warianty tego modelu z czteroma różnymi przyłączami. Wyznaczono wzory względnych błędów częstotliwościowych rezystora w formie uogólnionej, tj. w funkcji względnych wartości rezystancji i częstotliwości układu oraz podano ich przebiegi. Rozważania zilustrowano przykładami liczbowymi Omówiono też możliwości i skuteczność korekcji charakterystyki częstotliwościowej rezystorów i sformułowano wnioski. Słowa kluczowe: rezystor, modele przemienno-prądowe, schematy zastępcze, impedancja, parametry charakterystyczne, błędy częstotliwościowe.Poniższe rozważania dotyczyć będą rezystora jako takiego obiektu fizycznego przewodzącego prąd, który można modelować pasywnymi, liniowymi, skupionymi i stacjonarnymi elementami obwodu elektrycznego [1]. Przy prądzie stałym (DC) stosunek napięcia i prądu rezystora określa się wówczas przez stałą rezystancję R, a przy prądzie przemiennym (AC) o częstotliwości f - przez impedancję zespoloną Z ( ω) = Re Z + jIM Z. Na schemacie jej składowe można przedstawić jako rezystancję Rs ≡ Re Z połączoną szeregowo z reaktancją) j Xs = jIM Z. W ogólnym przypadku składowe Z (w tekście częstotliwością nazywa się zarówno f jak i pulsację w, czyli tzw. częstotliwość kołową. Nie zaznacza się każdorazowo, że wielkość zależy od częstotliwości, pisząc Z zamiast Z(w), Rs zamiast Rs(ω) itp.) są funkcjami pulsacji ω = 2π f. Impedancja Z rezystora uwzględnia, iż przy przemiennym prądzie, oprócz podstawowego parametru R występują w niej parametry resztkowe: indukcyjność L i pojemność C[...]

Analiza błędów częstotliwościowych rezystorów Część 1. Modele rezystorów przy prądzie przemiennym i ich parametry DOI:10.15199/48.2016.06.42

Czytaj za darmo! »

W części 1 rozpatrzono cztery modele (schematy zastępcze) impedancji rezystora przy prądzie przemiennym zawierające parametr główny rezystancję R i parametry resztkowe:szeregową indukcyjność L i bocznikującą pojemność C. Przy prądzie przemiennym część rzeczywista impedancji rezystora nie jest równa jego rezystancji R przy prądzie stałym i pojawia się różna od zera część urojona. Wyznaczono wzory błędów częstotliwościowych rezystorów w formie uogólnionej, tj. w funkcji względnych wielkości rezystancji i częstotliwości. Wyniki obliczeń tych błędów przedstawiono w postaci wykresów. Rozważania zilustrowano przykładami liczbowymi i sformułowano wnioski. Część 2 pracy poświęcona będzie omówieniu możliwości korekcji charakterystyki częstotliwościowej rezystorów. Abstract. In the part 1 four models of resistors for the AC current are considered. As the most useful model the equivalent circuit with two parallel branches R L and C is chosen. The characteristic parameters of its impedance in relative terms are introduced and its properties as a function of relative frequency are analyzed. The formulas of relative frequency errors, i.e. changes of resistance and reactance components of the impedance of few AC equivalent circuits of resistor have been determined in relative parameters and analyzed. The considerations are illustrated by the numerical example and conclusions were drawn. Corrections of the resistor frequency characteristic will be discussed in the Part 2 of this work. (Analysis of frequency errors of resistors. Part 1 AC models of resistor and its parameters) Słowa kluczowe: rezystor, modele przemienno-prądowe, schematy zastępcze, impedancja, parametry charakterystyczne, błędy częstotliwościowe Keywords: resistor, AC models, equivalent circuits, impedance, characteristic parameters, frequency errors. 1. Wprowadzenie Do modelowania zjawisk w urządzeniach elektrycznych i ich elementach, w tym w układach elektrycznych przyrządów pomiarowych[...]

Zmiany błędów pomiarowych gazomierzy miechowych w eksploatacji DOI:10.15199/62.2017.8.33


  W Unii Europejskiej i ostatnio na Ukrainie pojawiła się konieczność wdrożenia wysoce racjonalnej gospodarki gazem ziemnym. Jest to jeden z podstawowych kierunków uzyskania efektywności energetycznej w praktyce i wymaga dokładnego pomiaru ilości dostarczanego gazu ziemnego. Na Ukrainie u odbiorców indywidualnych jest obecnie zainstalowanych ponad 7 mln gazomierzy miechowych (GM). Ich parametry metrologiczne zależą od stopnia zużycia elementów konstrukcyjnych w trakcie eksploatacji. Błędy pomiaru przepływu zmieniają się wraz z upływem czasu pracy GM w kierunku ujemnym, wskutek czego liczniki wskazują zaniżone zużycie gazu. Jest to korzystne dla odbiorców, ale sprzedawca ponosi straty. Błędy pomiarowe gazomierza sprawdza się obecnie tylko po standardowym okresie jego użytkowania lub w wyjątkowych przypadkach po informacji o nieprawidłowej pracy. Jeśli wówczas błędy różnią się od wartości dopuszczalnych podanych w przepisach, to licznik naprawia się lub wymienia na dobry. Przy takim podejściu nieznana jest wartość przepływu zmierzona w tych odcinkach czasu, w których błąd mógł przekraczać wartość dopuszczalną. Powinno się więc okresowo kontrolować błędy liczników GM podczas ich pracy również przed upływem standardowego terminu sprawdzania na odpowiednim stanowisku wzorcowym w laboratorium (na Ukrainie co 6 lat, w Polsce co 10 lat). Przepisy międzynarodowe1), w tym polskie oraz ukraińskie2), nie wymagają obecnie ani częstszego sprawdzania gazomierzy, ani przeprowadzania go w miejscu instalacji. Przewiduje się ręczne odłączenie gazomierza, w Polsce wraz z wymianą na inny, nowy, a na Ukrainie przekazuje się do sprawdzenia w laboratorium na stanowisku wzorcowym z przepływem powietrza jako medium roboczym, serwisuje się i ponownie montuje u użytkownika. Na Iwano-Frankowskim Narodowym Technicznym Uniwersytecie Nafty i Gazu IFNTUNG w Iwano-Frankowsku (dawny Stanisławów) zaproponowano oryginalną metodę wyznaczania błędu liczników GM 176[...]

Zastosowanie statystyki odpornościowej na przykładzie badań międzylaboratoryjnych

Czytaj za darmo! »

Przedstawiono dwie tzw. odporne metody statystyczne: o przeskalowanym odchyleniu medianowym MAD i iteracyjną Hubera. Sa one stosowanie do oceny niepewności próbek pomiarowych o małej liczbie danych z wartościami odstającymi (ang. outliers). Uwzględnia się w nich wszystkie dane, ale outliery traktuje się inaczej jako mniej wiarygodne. Porównano dla kilku przykładów z badań międzylaboratoryjnych wyniki obliczone wg procedury standardowej oraz oboma metodami odpornymi. Stwierdzono, że metodą Hubera można szacować dokładność pomiarów przy walidacji metody pomiarowej w porównaniu kluczowym i przy okresowej kontroli biegłości laboratorium, gdy dostępna jest jedynie mała próbka z outlierem. Abstract. Two robust methods of assessing the uncertainty of samples of experimental data with outliers are presented, i.e.: a rescaled median absolute deviation MADS method and an iterative Huber method. They allow to set a credible accuracy parameters of the measurements with the use of all experimental data, but outliers as less reliable, differently are treated. For small size samples with outliers results obtained by a classical method with rejection of outliers and by above robust methods are compared. It is shown that Huber method can be successfully used in estimation of the accuracy in inter-laboratory measurements, such as key comparisons of the tested method and in proficiency testing in the control or accreditation of the laboratory if such small size sample is only available. (Applications of the robust statistic estimation on the example of inter-laboratory measurements). Słowa kluczowe: dokładność, niepewność pomiarów, dane odstające, statystyka odporna, porównania kluczowe. Keywords: accuracy, uncertainty of measurements, outliers, robust statistics, key comparisons, proficiency testing of laboratory Wprowadzenie W wielu eksperymentalnych badaniach użytkowych i naukowych otrzymuje się próbki danych pomiarowych zawierające odstające wartości ob[...]

O kalibracji elektronowego mikroskopu skaningowego do pomiaru wymiarów w zakresie nanometrowym


  Rozwój nowych technologii, w tym nanotechnologii oraz ich zastosowanie w różnych dziedzinach nauki i technologii otwiera nowe możliwości prowadzenia bardziej zaawansowanych badań i uzyskiwania produktów o wysokiej jakości. Wiąże się to ściśle z opracowaniem i doskonaleniem metod i środków pomiarowych stosowanych w tej dziedzinie. Dotyczy to w szczególności pomiaru wymiarów struktur stosowanych w czujnikach i mikroczujnikach półprzewodnikowych. W nanotechnologii do ilościowej oceny wymiarów różnych struktur badanych obiektów używa się obecnie najbardziej zaawansowanych technicznie mikroskopów elektronowych. Rozdzielczość najnowszych konstrukcji wynosi kilka nm. Stosuje się przede wszystkim skaningowe mikroskopy elektronowe (SEM), a także i mikroskopy sił atomowych (AFM). Chociaż mikroskopy AFM mają większą rozdzielczość, to do badań wymiarów geometrycznych w zakresie nanometrowym (tj. poniżej mikrona) rzadziej używa się je w praktyce, głównie wtedy, gdy trzeba uzyskać trójwymiarowy obraz obiektu badanego. Wynika to stąd, że wiele obiektów, głównie biologicznych, ulega zniszczeniu, lub nieodwracalnym zmianom podczas tych badań. Ponadto technologia wykonania ramienia z igłą pomiarową jest dość skomplikowana oraz mikroskopy te działają stosunkowo wolno i są bardzo drogie. Podstawą zaufania do wyników pomiarów (ich wiarygodności) i dokonywania porównań parametrów mierzonych obiektów jest spójność (traceability) otrzymywanych danych pomiarowych z wzorcem [1], poprawnie przeprowadzona kalibracja narzędzia pomiarowego oraz jego błąd graniczny lub rozszerzona niepewność pomiarów nim wykonywanych, oszacowana zgodnie z zaleceniami międzynarodowego Przewodnika GUM. Specyfiką mikroskopów jako przyrządów pomiarowych jest ich nieprzenośność, gdyż korzysta się z nich jedynie na stanowiskach stacjonarnych. Dla uzyskania tożsamych i porównywalnych wyników trzeba indywidualnie stosować kalibrację przy ustawianiu parametrów pracy każdego z nic[...]

 Strona 1  Następna strona »