Wyniki 1-3 spośród 3 dla zapytania: authorDesc:"Paweł Kwiatkowski"

Stanowisko do badań termicznych z dedykowanym oprogramowaniem DOI:10.15199/13.2018.1.1


  Zmiany temperatury pracy urządzenia elektronicznego mają istotny wpływ na jego niezawodność [1]. W przypadku wysoce precyzyjnych elektronicznych urządzeń pomiarowych, takich jak np. pikosekundowe liczniki odcinków czasu, temperatura pracy może także obniżać jakość pomiaru [9]. Aby temu przeciwdziałać konieczna jest dokładna identyfikacja stopnia pogorszenia uzyskiwanych rezultatów, a w dalszej kolejności wprowadzenie stosownych współczynników korekcyjnych [4, 7]. Jednak Badania termiczne są zazwyczaj czasochłonne i dlatego wskazane jest konstruowanie zautomatyzowanych stanowisk pomiarowych. Przykładem tego typu rozwiązania jest stanowisko opisane w niniejszym artykule. Stanowisko do badań termicznych Stanowisko do badań termicznych zawiera w ogólności urządzenie poddawane testom (DUT, ang. Device Under Test), umieszczonego w komorze klimatycznej PL-2J firmy ESPEC, oraz komputera sterującego z zainstalowanym dedykowanym oprogramowaniem (rys. 1). Oprogramowanie zostało dostosowane do badania wpływu temperatury na działanie różnych modeli liczników odcinków czasu [12, 13], jednak może zostać zaadaptowane także do badań klimatycznych innych urządzeń. Weryfikacja parametrów metrologicznych licznika wymaga zastosowania generatora odcinków czasu, którym w opracowanym stanowisku był Model 745 firmy Berkeley Nucleonics. Główny program zainstalowany na komputerze sterującym, charakteryzujący parametry licznika czasu, wydaje komendy sterujące komorze klimatycznej poprzez port szeregowy COM. Budowa i działanie programu sterującego komorą jest również przedmiotem niniejszego artykułu. Sterowanie komorą klimatyczną Komora klimatyczna ESPEC PL-2J [2] to zaawansowane urządzenie laboratoryjne, dzięki któremu można badać pracę urządzeń elektronicznych w szerokim zakresie temperatur: od -40°C do +100°C oraz wilgotności względnej: od 20% do 98% (dla temperatur od +10°C do +85°C). Posiada ona rozbudowany graficzny interfejs użytkownika, umoż[...]

Measurement subsystem for evaluation of local atomic clocks quality DOI:10.15199/48.2016.11.10

Czytaj za darmo! »

We present the design, implementation and test results of a new measurement system for continuous evaluation of atomic clocks quality and selection of the best one as a local reference clock that operation is coordinated with the governmental time scale created in National Metrology Institute. The described system is developed as a part of the project called Legal Time Distribution System performed within European program EUREKA. Streszczenie. W artykule opisane są projekt, sposób realizacji oraz wyniki badań eksperymentalnych systemu pomiarowego do ciągłej ewaluacji jakości atomowych źródeł zegarowych i wyboru źródła referencyjnego, którego działanie jest koordynowane z urzędową skalą czasu. Opisany system został opracowany jako część projektu System Dystrybucji Czasu Urzędowego realizowanego w ramach europejskiego programu EUREKA. (Podsystem pomiarowy do weryfikacji parametrów lokalnych atomowych źródeł sygnału zegarowego) Keywords: precise time metrology, time and frequency distribution, time-to-digital converters, programmable devices. Słowa kluczowe: precyzyjna metrologia czasu, dystrybucja czasu i częstotliwości, przetworniki czasowo-cyfrowe, układy programowalne. Introduction Dynamic development of information society requires still more and more precise synchronization of communication systems, financial processes, electronic signatures, traffic management systems, etc. Many operations within areas mentioned above have to be performed based on certified time scale, created and made available to users by National Metrology Institutes (NMIs), for example by Central Office of Measures (Główny Urząd Miar) in Poland. In order to provide access of any institution, or even individual user, to legal and highly precise time scale a unique Legal Time Distribution System (LTDS) is being developed within the European program Eureka. In this article we present a novel measurement subsystem for permanent evaluation of local clock sources q[...]

Zautomatyzowane stanowisko do identyfikacji charakterystyki przetwarzania precyzyjnego generatora odcinków czasu DOI:10.15199/48.2017.12.65

Czytaj za darmo! »

W precyzyjnych cyfrowych generatorach odcinków czasu wykorzystuje się manipulację częstotliwości [1] sygnału zegarowego lub manipulację fazy [2, 3] tego sygnału, co umożliwia wytwarzanie sygnałów o rozmyciu czasowym nie przekraczającym wartości kilku lub kilkunastu ps. Elementem pozwalającym na implementację tych metod jest syntezer DDS (ang. Direct Digital Synthesis), umożliwiający precyzyjne zmiany częstotliwości lub fazy referencyjnych sygnałów zegarowych. Niewątpliwą zaletą tego rodzaju generatorów odcinków czasu jest ich duża odporność na oddziaływanie warunków zewnętrznych (zmiany temperatury). Wadą natomiast jest konieczność identyfikacji charakterystyki przetwarzania syntezera, dzięki której możliwy jest wybór odpowiednich nastaw pozwalających uzyskać najmniejsze rozmycie czasowe wytwarzanych odcinków czasu. Z uwagi na bardzo dużą liczbę nastaw syntezera manualne wykonanie pomiarów jest bardzo czasochłonne. Stąd wskazane jest użycie zautomatyzowanego stanowiska pomiarowego, pozwalającego na identyfikację charakterystyki przetwarzania syntezera. Precyzyjny generator odcinków czasu Metoda wytwarzania odcinka czasu, która została użyta w badanym generatorze [4], polega na zliczaniu pełnych okresów sygnału zegarowego T0 oraz precyzyjnym przesuwie fazy w zakresie pojedynczego okresu (rys. 1). W metodzie tej [2] wytworzony impuls Start skorelowany jest z aktywnym zboczem sygnału zegarowego o okresie T0. Równocześnie wykonywany jest przesuw fazy sygnału zegarowego o zadaną wartość . Po wystąpieniu N okresów sygnału zegarowego wytwarzany jest impuls Stop. Wygenerowany w ten sposób odcinek czasu pomiędzy impulsami Start i Stop ma długość równą N×T0+. Uproszczony schemat budowy generatora pokazano na rys. 2. Referencyjny sygnał zegarowy o częstotliwości 10 MHz po powieleniu do częstotliwości 1 GHz z użyciem syntezera w.cz. wykorzystywany jest jako sygnał referencyjny dla kolejnego syntezera [...]

 Strona 1