Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"Maciej SOCJUSZ"

Szybki skaner optyczny wykorzystujący sensory konfokalne

Czytaj za darmo! »

Do badania kszta.tow wykorzystywane s. ro.ne techniki pomiarowe. Wybor konkretnego typu urz.dzenia zale.y od wielu parametrow, takich jak wielko.. i stopie. skomplikowania kszta.tu mierzonego obiektu, jego budowa, ..dany czas pomiaru oraz wymagana dok.adno... Niniejszy artyku. przedstawia metodyk. szybkiego skanowania z wykorzystaniem sensorow konfokalnych, przy czym g.owny nacisk po.o.ono na zminimalizowanie czasu pomiaru przy zachowaniu jego dok.adno.ci. Przeprowadzono rownie. prace porownawcze otrzymanych rezultatow z wynikami uzyskanymi za pomoc. innych optycznych urz.dze. pomiarowych. Abstract There is a large collection of shape characterising measurement systems. Selecting a particular instrument depends on: type of the shape, its configuration and complexity, and required time and accuracy of measurements. The paper demonstrates methodology of fast scanning system equipped with chromatic confocal sensors. A comparative analysis includes measurement results received from other types of profilometers. A fast optical scanner with confocal sensors. S.owa kluczowe: profilometria, sensory konfokalne, analiza sygna.u elektrycznego. Keywords: profilometry, confocal sensors, electric signal analysis. Wst.p Profilometria jest dziedzin. zajmuj.c. si. badaniem nierowno.ci, kszta.tu i topografii powierzchni. Metody, ktore technika ta obejmuje, mo.na najogolniej podzieli. na stykowe i bezstykowe [1]. Metod stykowych u.ywa si. do badania obiektow, ktorych powierzchnie nie s. nara.one na zniszczenie w wyniku przeprowadzonego pomiaru. Pomiary profilometryczne polegaj. na odwzorowaniu topografii powierzchni przy pomocy ostrza, ktore przesuwaj.c si. po badanej powierzchni skanuje jej rze.b.. Zmiany profilu badanego obiektu, rejestrowane s. za pomoc. przetwornikow piezoelektrycznych, indukcyjnych lub interferencyjnych, ktore przetwarzaj. sygna. mechaniczny na sygna. elektryczny rejestrowany w systemie pomiarowym. Metod stykowych u.ywa si. g.o[...]

Profilometr laserowy do odtwarzania geometrii powierzchni DOI:10.12915/pe.2014.08.035

Czytaj za darmo! »

W artykule przedstawiono opracowany profilometr z laserową głowicą triangulacyjną i mechatronicznym układem pozycjonowania badanych obiektów. Podczas skanowania powierzchni z zastosowaniem techniki triangulacyjnej pojawiają się charakterystyczne zakłócenia związane głównie z występowaniem dużych obszarów cienia, w wyniku zjawiska przesłaniania. W opracowanym profilometrze zastosowano oryginalną metodę ograniczenia zakłóceń, polegającą na wielokrotnym skanowaniu powierzchni obiektu przy wybranych położeniach kątowych. Abstract. The paper presents a profilometer equipped with a laser triangulation head and a mechatronic positioning system for tested objects. The triangulation technique produces characteristic disturbances - mainly related to the shadowed areas known as occlusions. In the presented approach the occlusions are eliminated by multiple scanning of the object in several different angular orientations of a scanning line sensor relative to the object in question. (Laser profilometer for reconstruction of the surface geometry). Słowa kluczowe: technika triangulacji laserowej typu 2D, metoda ograniczenia zakłóceń pomiarowych. Keywords: 2D laser triangulation technique, method for avoiding measurement disturbances. doi:10.12915/pe.2014.08.35 Wstęp Profilometry wykorzystujące metodę stykową wymagają bezpośredniego kontaktu końcówki pomiarowej z powierzchnią obiektu. Ogranicza to możliwość badania delikatnych powierzchni niektórych materiałów, które mogą ulegać odkształceniu lub uszkodzeniu pod wpływem kontaktu z ostrzem pomiarowym [1]. Jako wady metody stykowej podaje się również małą prędkość pomiaru oraz łatwość uszkodzenia końcówki pomiarowej [2]. Z tego względu od szeregu lat prowadzone są prace, mające na celu opracowanie innych metod analizy geometrii powierzchni, alternatywnych wobec profilometrii stykowej. Wiodącą rolę odgrywają wśród nich techniki wykorzystujące światło jako nośnik informacji o mierzonych wielkościach. [...]

 Strona 1