Wyniki 1-1 spośród 1 dla zapytania: authorDesc:"MICHAŁ WIECZOROWSKI"

Weryfikacja metrologiczna wybranych urządzeń współrzędnościowej techniki pomiarowej stosowanych w inżynierii odwrotnej DOI:10.15199/148.2018.11.4


  Inżynieria odwrotna (ang. Reverse Engineering) jest wieloetapowym procesem, który ma zastosowanie w wielu różnych obszarach przemysłu. Niezależnie jednak od tego, w jakim danym obszarze ten proces jest stosowany, przebiega on zawsze tak samo, tzn. na wejściu procesu mamy fizyczny produkt, który należy odtworzyć, skopiować czy też ulepszyć. Dokonuje się tego w czterech następujących po sobie etapach [1, 2], obejmujących: pozyskanie i analizę wszelkich informacji o fizycznym produkcie, opracowanie danych technicznych, ich weryfikację oraz wytworzenie i wdrożenie nowego produktu w takiej samej bądź ulepszonej postaci. Jednym z wielu obszarów przemysłu, w którym powszechnie stosuje się inżynierię odwrotną, jest inżynieria produkcji. W nowoczesnej inżynierii produkcji, w poszczególnych fazach rozwoju produktu, wykorzystuje się różne metody i techniki komputerowe. Obecny rozwój tych metod i technik znacznie poszerzył możliwości wykorzystania inżynierii odwrotnej. Szczególne miejsce, w całym procesie inżynierii odwrotnej w zastosowaniu do inżynierii produkcji, zajmuje współrzędnościowa technika pomiarowa. Ze względu na jej intensywny rozwój i możliwości stosowana jest zarówno w pierwszym, jak i trzecim etapie całego procesu. Dzięki takim urządzeniom, jak: skanery 3D, przemysłowe tomografy komputerowe, multisensoryczne maszyny czy ramiona pomiarowe, możliwa jest nie tylko dyskretyzacja geometrii różnych elementów, ale również szybka weryfikacja opracowanych modeli cyfrowych [3, 4]. Podejmując się przeprowadzenia procesu inżynierii odwrotnej, musimy mieć świadomość, że na każdym etapie występują błędy rzutujące na efekt końcowy. Użytkownik, korzystając z urządzeń pomiarowych do dyskretyzacji czy weryfikacji, powinien posiadać wiedzę na temat ich 22 METROLOGIA rok wyd. LXXVII - zeszyt 11/2018 Michał Wieczorowski, Maciej Szelewski, Bartosz Gapiński, Roman Michalski, Mateusz Mroczka maksymalnych błędów dopuszczalnych. W dalszej czę[...]

 Strona 1