Wyniki 1-10 spośród 24 dla zapytania: authorDesc:"ZYGMUNT LECH WARSZA"

Hallotron jako element obwodu sterowany polem magnetycznym

Czytaj za darmo! »

Omówiono schematy zastępcze hallotronu jako czterokońcówkowego elementu (4T) obwodu i jako czwórnika odwzorowujące jego parametry wynikające ze zjawiska podstawowego, niedoskonałości hallotronu i zjawisk pasożytniczych. Podano impedancyjny układ równań hallotronu jako czwórnika, wyznaczono jego macierz admitancyjną i współczynniki rozwinięcia w szereg względem pola magnetycznego B dla trzech po[...]

Miary dokładności mostka o rezystancjach zmiennych w dużych granicach –z przykładem pomiarów temperatury przemysłowymi czujnikami Pt 100

Czytaj za darmo! »

Po krótkim wprowadzeniu przedstawiono granice występowania błędów rezystancji zmiennej w dużych granicach przy stałych błędach granicznych jej wartości początkowej i przyrostu. Z równań rezystancyjnego mostka czteroramiennego (4R) jako czwórnika X wyznaczono miary dokładności jego prądowo-napięciowej transmitancji rozwarciowej, tj. jej błędy bieżące, systematyczne graniczne i średniokwadratowe m[...]

Nowe książki: Roman Janiczek - Pomiary grubości warstw wierzchnich

Czytaj za darmo! »

Badania grubości warstw wierzchnich są stosowane do różnych celów i zakres występujących zagadnień jest bardzo szeroki. Pomiar jest dość złożony. Wybór czujnika i metody przetwarzania sygnału zależy od rodzaju i właściwości materiałów, z których wykonana jest badana warstwa wierzchnia i jej podłoże. Na błąd pomiaru ma wpływ wiele czynników takich, jak na przykład chropowatość badanej warstwy, stopień jej czystości oraz budowa i właściwości metrologiczne członów systemu pomiarowego. Istotny jest też sposób wizualizacji i rejestracji wyników. Dobór zagadnień przedstawianych w monografii powinien umożliwić nie tylko ocenę niepewności wyników pomiarów danej wielkości, ale także zaprojektowanie procesu przeprowadzania badań w taki sposób, aby uzyskać jak najlepszą realizację[...]

LUDZIE POLSKIEJ ELEKTRYKI - Roman Wiktor Janiczek (1949-2008)

Czytaj za darmo! »

Roman Wiktor Janiczek urodził się 9 kwietnia 1949 roku w Bytomiu, w patriotycznej lwowskiej rodzinie inteligenckiej, zamieszkującej od 1959 roku w Częstochowie. Tu w 1966 roku ukończył liceum i w lutym 1972 roku - studia magisterskie na Wydziale Elektrycznym Politechniki Częstochowskiej (w pierwszym roczniku kierunku elektrotechnika przemysłowa). Po stażu asystenckim (śladem ojca - nauczyciela akademickiego) związał się na stałe z tą uczelnią, podejmując pracę w Zakładzie Elektrotechniki i Metrologii Elektrycznej. Po obronie pracy doktorskiej Badania nad zastosowaniem pola magnetycznego do uzdatniania wody pitnej (promotor - doc. Zygmunt Biernacki) na Wydziale Elektrycznym Politechniki Łódzkiej, w 1977 roku został adiunktem, a po rozprawie habilitacyjnej na Wydziale Elektryczny[...]

Miary dokładności układu mostka o dużych zmianach rezystancji w ujęciu dwuskładnikowym

Czytaj za darmo! »

Po krótkim wprowadzeniu, podano współczynniki przetwarzania nieobciążonego i zasilanego prądowo lub napięciowo układu czteroramiennego mostka o dowolnych przyrostach rezystancji ramion - Tabela 1 oraz równania propagacji ich błędu. Omówiono ujęcie miar dokładności tych współczynników: w postaci wartości bezwzględnej odniesionej do czułości początkowej oraz nowe dwuskładnikowe z wyodrębnieniem miary bezwzględnej dla stanu początkowego współczynnika przetwarzania i miary względnej dla jego przyrostu. Wyznaczono i omówiono oba opisy miar dokładności dla najczęściej stosowanego mostka o jednakowych wartościach znamionowych rezystancji początkowych i różnych wariantach ich przyrostów - tabela 2. Wskazano na ich uniwersalność w zastosowaniu dla innych układów o zmiennych parametrach. Abstr[...]

Zasady wyznaczania wyników pomiarów pośrednich wieloparametrowych – w zarysie


  We wszystkich dyscyplinach naukowych opartych na eksperymencie, w przemyśle i w innych dziedzinach gospodarki coraz więcej pozyskuje się, przetwarza i wykorzystuje wyniki pomiarów wieloparametrowych (multivariate), czyli wykonuje się pomiary pośrednie multimenzurandu. W szczególności mierzy się równocześnie sygnały wyjściowe wielu jedno- lub wieloparametrowych czujników. Sygnały te podlegają rozrzutom losowym i mogą być ze sobą w różny sposób skojarzone deterministycznie i statystycznie poprzez obiekt badany, system pomiarowy i oddziaływania zewnętrzne. Z próbek pomiarowych wyznacza się estymatory wartości, niepewności i współczynników korelacji wielkości mierzonych pośrednio. Zaokrąglanie i przetwarzanie wyników pomiarów wieloparametrowych i prezentacja ich danych cyfrowych dokonywana jest obecnie dość dowolnie, gdyż przepisy metrologiczne nie są w stanie nadążyć za zróżnicowanymi w różnych dziedzinach potrzebami techniki pomiarowej. Międzynarodowy przewodnik o wyrażaniu niepewności pomiarów GUM [1] oraz poradnik NASA [2] zawierają zalecenia głównie dla szacowania wyników pomiarów pojedynczych wielkości. Niezbędna jest więc standaryzacja procedur wyznaczania, przetwarzania, oceny dokładności i sposobu publikowania wyników pomiarów wieloparametrowych, aby otrzymywane dane miały wysoką jakość i odpowiednią wiarygodność metrologiczną. Zagadnieniom tym jest poświęcony, Suplement 2 do GUM, dopiero ostatnio ukończony i dostępny już w Internecie [1a]. Suplement ten liczy ponad 70 stron. Poza wstępem i odniesieniami do innych związanych z nim tematycznie przepisów obejmuje: pojęcia i definicje, notację i podstawy wektorowego opisu pomiarów wieloparametrowych, wyznaczania ich niepewności z uwzględnieniem dotychczasowych zasad GUM, zastosowanie Metody Monte Carlo, 5 przykładów oraz 4 aneksy i bogatą bibliografię. Pomimo tak bogatej treści nie zawiera on jeszcze omówienia wiele zagadnień niezbędnych we wdrożeniu w praktyce pomiarowej [...]

Szacowanie niepewności w pomiarach z autokorelacją obserwacji


  Stosowanie obecnej wersji zaleceń międzynarodowego przewodnika Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement znanego pod akronimem GUM [1, 2] i jego Suplementów natrafia na ograniczenia w wielu rodzajach pomiarów, szczególnie przeprowadzanych przyrządami i systemami o zautomatyzowanym procesie pomiarowym z próbkowaniem sygnału wejściowego i przetwarzaniem a/c. Nie ma jeszcze ustalonych międzynarodowo zasad jak wyznaczać niepewność pomiaru wielkości, sygnałów i procesów zmiennych w czasie, chociaż rozpoczęto już opracowywanie podstaw naukowych do ich tworzenia [19] i istnieją wcześniejsze opracowania obejmujące częściowo tę problematykę [M5], [M6]. Propozycje udoskonalenia zaleceń GUM i rozszerzania zakresu stosowania pojęcia niepewność omawiane są też w szeregu publikacjach oraz dyskutowane na seminariach krajowych i międzynarodowych. Weryfikacją treści GUM i opracowywaniem kolejno wydawanych Suplementów zajmuje się powołany w 1997 r. wspólny komitet siedmiu organizacji międzynarodowych o skrócie JCGM, pod przewodnictwem dyrektora Międzynarodowego Biura Miar i Wag BIPM. Opracowywanie międzynarodowych przepisów metrologicznych jest jednak procesem długotrwałym i wymaga poprzedzającej weryfikacji w praktyce w różnych dziedzinach. Dlatego też przepisy te nie nadążają za bieżącymi potrzebami szybko rozwijającej się techniki pomiarowej. Dalej omówiono możliwość stosunkowo łatwego rozszerzenia zaleceń GUM na pomiary wielkości zmiennych w czasie o obserwacjach uzyskiwanych przy regularnym próbkowaniu sygnału. Przedstawiono metodę przetwarzania danych próbki umożliwiającą poprawne oszacowanie niepewności dla przypadku, gdy obserwacje są ze sobą powiązane statystycznie, czyli autoskorelowane. Podano też sposób wyznaczania estymaty funkcji autokorelacji z tych danych. "Czyszczenie" surowych danych Zmiany zbioru "surowych" wartości obserwacji pomiarowych, czyli próbki wywołany jest przez przyczyny zarówno zdeterminowane, jak [...]

Książki

Czytaj za darmo! »

Piotr Lesiak i Piotr Bojarczak: "Przetwarzanie i analiza obrazów w wybranych badaniach defektoskopowych". Wydawnictwo Naukowe Instytutu Technologii Eksploatacji (Państwowy Instytut Badawczy), Radom 2012. Książka ukazała się jako pozycja w serii monograficznej: Biblioteka Problemów Eksploatacji i ma 185 stron. Zasadnicza treść poprzedzona jest wykazem ważniejszych symboli i oznaczeń oraz wprowadzeniem. Została podzielona na: wstęp, 6 rozdziałów i podsumowanie. Tematyka rozdziałów to: cyfrowa prezentacja obrazów wad, podstawy ich przetwarzania, analiza obrazów, wybrane algorytmy do różnych technik badań defektoskopowych oraz przykłady algorytmów dla klasyfikacji obrazów. Tekst jest bogato ilustrowany rysunkami i tabelami, a wykaz literatury obejmuje 200 pozycji, w tym 30 zacytowanych prac autorów. Recenzentami tej monografii [...]

 Strona 1  Następna strona »