Wyniki 1-3 spośród 3 dla zapytania: authorDesc:"RYSZARD WÓJCIK"

Wykorzystanie metody PIV i symulacji komputerowych do określenia stanu warstwy wierzchniej w procesie szlifowania płaszczyzn

Czytaj za darmo! »

Proces szlifowania ma bardzo istotne znaczenie, ponieważ często stosowany jako ostatnia operacja obróbki ubytkowej bezpośrednio wpływa na końcowy stan technologicznej warstwy wierzchniej [1÷4]. Bardzo istotnym elementem procesu szlifowania jest sposób chłodzenia. Obecnie konwencjonalne ciecze chłodzące w postaci emulsji zastępowane są alternatywnymi metodami, np z minimalnym wydatkiem cieczy obróbkowych (MQL) [5÷10]. Zastosowanie MQL wymaga jednak lepszego poznania procesów zachodzących w strefie szlifowowania. Umożliwia to metoda PIV, która po pewnych modyfikacjach i jej przystosowaniu rozszerzyła możliwości badawcze i obserwacji zachowania się cieczy obróbkowej w obszarze skrawania [11÷14]. Dodatkowo wyniki metody PIV wspomóc i potwierdzić można symulacyjnymi metodami numerycznymi m.in. z dziedziny CFD. Metoda PIV (ang. Particle Image Velocimetry) polega na oświetlaniu w bardzo krótkim czasie wąskim strumieniem światła (najczęściej laserowego) obszaru płynu, w którym rozproszone są drobne cząstki innej fazy (zwane posiewem) i fotografowaniu obrazu tych cząstek (rys. 1). Posiew w formie drobnych cząsteczek (kropli lub ciała stałego) jest oświetlony w płaszczyźnie przepływu dwoma, krótko po sobie następującymi impulsami laserowymi (czas pomiędzy impulsami dobiera się w zależności od prędkości średniej przepływu). Światło odbite od cząsteczek jest rejestrowane na matrycy CCD umieszczonej w kamerze PIV, a obraz jest przekazywany do komputera. Otrzymane w ten sposób zdjęcia cyfrowe poddawane są obróbce komputerowej, polegającej na dzieleniu ich na mniejsze pola określane jako pola podstawowe (interrogation areas) (rys. 2). W wyniku obróbki komputerowej zapisanych zdjęć określane jest prze[...]

 Strona 1