W artykule opisano budowę systemów współmiejscowych, określono i oszacowano poziomy promieniowanych emisji niepożądanych pochodzących od współczesnego sprzętu informatycznego znajdującego się na rynku Unii Europejskiej. Ponadto w artykule przedstawiono analizę emisji promieniowanej dla poszczególnych interfejsów sprzętowych komputera przenośnego PC oraz wyniki identyfikacji interfejsów sprzętowych dla interfejsów sprzętowych komputera PC cechujących się podwyższoną emisją promieniowaną. Abstract. This paper describes the construction of complex systems. This paper defined and estimated levels of radiated emissions coming from the modern computer equipment from the market in the European Union. In addition, the paper presents an analysis of radiated emissions for different hardware interfaces laptop PC and the results of the identification of hardware interfaces for PC hardware interfaces are characterized by increased radiated emissions. Identification of hardware interfaces in complex systems based on radiated emissions. Słowa kluczowe: emisja promieniowana, system współmiejscowy, kompatybilność elektromagnetyczna, jednostka centralna. Keywords: radiated emissions, the complex system, electromagnetic compatibility, the central unit of PC. doi:10.12915/pe.2014.07.55 Wstęp W dzisiejszych czasach prawie każdy człowiek uzależnił się od licznych urządzeń elektrycznych i elektronicznych. Wszelkie urządzenia emitują energię elektromagnetyczną. Urządzenia można więc podzielić na dwie grupy. Pierwsza obejmuje urządzenia budowane specjalnie w tym celu, aby energię promieniować, druga natomiast - to urządzenia, których promieniowanie energii nie jest zamierzonym celem, a stanowi swego rodzaju "produkt uboczny". W artykule szczególną uwagę zwrócono na emisje promieniowane niepożądane. Są one produktem ubocznym, wytwarzanym w sposób niezamierzony podczas realizacji podstawowej funkcji urządzenia. Powstają one w obwodach elektrycznych zawierając[...]

Artykuł szczegółowo przedstawia różnice w procedurach pomiarowych z wykorzystaniem komory bezodbiciowej dla norm obronnych NO-06-A200 oraz NO-06-A500 wydanych w 2012r w stosunku do wydania tych norm z roku 2008. Ponadto w artykule przedstawiono wyniki pomiarów i wpływ zmian konfiguracji stanowisk pomiarowych (wg norm obronnych z roku 2012 w stosunku do norm obronnych wydanych w roku 2008) na wyniki pomiarów emisji promieniowanej w odniesieniu do urządzeń stosowanych w Siłach Zbrojnych. Abstract. The article presents the differences in measurement procedures for defense standards NO-06-A200 and NO-06-A500 published in 2012 year in relation to the publication of these standards in 2008. In addition, the paper presents the results of measurements and the impact of changes in the configuration measuring positions (according to the defense standards in 2012 in relation to the defense standards published in 2008) for radiated emissions measurements for the equipment used in the Armed Forces. (EMC requirements for equipment used in the Armed Forces - Effect of standard NO-06-A500:2012 measurement results). Słowa kluczowe: emisja promieniowana, odporność na pole EM, kompatybilność elektromagnetyczna, NO-06-A200, NO-06-A500. Keywords: radiated emissions, immunity for EM field, electromagnetic compatibility, MIL-STD-461. doi:10.12915/pe.2014.07.57 Wstęp Współczesne społeczeństwa uzależniły się od licznych urządzeń elektrycznych i elektronicznych. Konsekwencją tego jest pojawienie się wielu norm dotyczących badań kompatybilności elektromagnetycznej oraz poziomów dopuszczalnych dla poszczególnych rodzajów urządzeń. W konsekwencji producenci sprzętu elektronicznego, w celu wprowadzenia go na rynek muszą zrealizować szereg badań na zgodność z odpowiednimi normami. W zależności od docelowego przeznaczenia sprzętu elektronicznego, urządzenia powinny spełniać wymagania norm obronnych bądź też norm cywilnych. W niektórych przypadkach urządzenie elekt[...]

  Artykuł dotyczy problemów związanych z wysokoenergetycznym środowiskiem elektromagnetycznym. W artykule scharakteryzowano impuls elektromagnetyczny wielkiej mocy oraz omówiono stanowisko do generowania takich impulsów. Ponadto w artykule przedstawiono analizę możliwości kształtowania widma generowanych impulsów dla potrzeb niszczenia urządzeń informatycznych oraz zamieszczono wyniki pomiarów. 1. WSTĘP Infrastruktura informatyczna (IT) oraz komputery osobiste (w szczególności PC) są integralną częścią naszej działalności i życia codziennego. W przypadku używania urządzeń informatycznych w infrastrukturze krytycznej lub dla zachowania bezpieczeństwa teleinformatycznego nie jest dopuszczalne wystąpienie jakichkolwiek zakłóceń w środowisku elektromagnetycznym. W środowisku elektromagnetycznym dużej mocy źródła mikrofalowe stanowią stosunkowo nowy rodzaj zagrożenia zarówno dla systemów wojskowych, jak i cywilnych. Działanie z wykorzystaniem tego rodzaju źródła jest zazwyczaj określane jako celowe zaburzenie elektromagnetyczne. Środowisko promieniowane HPEM (ang. High Power Electromagnetic), które jest z natury szkodliwe, może również występować przy częstotliwościach nawet do kilkudziesięciu MHz. Wygenerowanie impulsu elektromagnetycznego o bardzo dużej mocy w kierunku danego układu elektronicznego powoduje, że na układach elektronicznych odkłada się bardzo duże napięcie. Takie zjawisko powoduje uszkodzenie elementów obwodu co czyni urządzenie niezdatnym do dalszego funkcjonowania. W przypadku celowego oddziaływania takim impulsem bardzo istotne jest pod względem jego skuteczności aby wygenerować odpowiednio silny impuls na żądanej częstotliwości. 2. IMPULS ELEKTROMAGNETYCZNY WIELKIEJ MOCY Impuls elektromagnetyczny wielkiej mocy określany jako HPEM jest to impuls o bardzo krótkim czasie trwania (rzędu nanosekund) i o wielkiej mocy (rzędu kilkudziesięciu gigawatów). Impuls HPEM często nazywany jest również bombą E ze wzglę[...]

  Artykuł dotyczy problemów związanych z kompatybilnością elektromagnetyczną oraz emisją ujawniającą czyli bezpieczeństwem informacji. W artykule skupiono się na szeregowym interfejsie USB 3.0, dla którego przedstawiono sygnały wymuszeń używanych podczas pomiarów emisji ujawniającej oraz omówiono wyniki pomiarów emisji ujawniającej pochodzącej od interfejsu USB 3.0. Ponadto w artykule omówiono stanowiska pomiarowe do pomiaru emisji ujawniających wykorzystane w pomiarach. Abstract: The article concerns problems of electromagnetic compatibility and compromising emission that is the information security. The article focuses on USB 3.0 Interface for which shows signals of extortion used during of compromising emission measurements. The article presents the results of compromising emissions measurements derived from USB 3.0 Interface. In addition, the article discusses the laboratory stands for measuring compromising emission. Słowa kluczowe: interfejs, USB 3.0, EMC, infiltracja elektromagnetyczna Keywords: interface, USB 3.0, EMC, electromagnetic infiltration 1. WSTĘP Emisja pola elektromagnetycznego jest zjawiskiem nieodłącznie towarzyszącym przepływowi prądu elektrycznego, będącego z kolei podstawą działania wszelkich urządzeń elektronicznych i elektrycznych. Na podstawie zmian pola możliwe jest wnioskowanie na temat działania urządzeń będących jego źródłem. Co więcej, właściwości pola elektromagnetycznego pozwalają na jego zdalną rejestrację i analizę. Zjawisko powstawania fal elektromagnetycznych niosących informację o działaniu urządzeń elektrycznych i elektronicznych nazywane jest emisją ujawniającą lub ulotem elektromagnetycznym. Odkąd urządzenia elektryczne i elektroniczne zaczęły być używane do przetwarzania informacji, często o poufnym charakterze, występowanie emisji ujawniającej nabrało szczególnego znaczenia. Ochrona informacji przed przenikaniem elektromagnetycznym urządzeń i systemów elektronicznych (informaty[...]

  W ostatnich latach obserwujemy zwiększone zainteresowanie środowiskiem elektromagnetycznym cechującym się występowaniem sygnałów o dużej mocy (HPEM - ang. High Power Electromagnetics Environment), a szczególnie wytwarzaniem impulsowych pól elektromagnetycznych dużej mocy i ich wpływem na elektronikę. W wysokoenergetycznym środowisku elektromagnetycznym dużej mocy źródła mikrofalowe stanowią stosunkowo nowy rodzaj zagrożenia zarówno dla systemów wojskowych, jak i cywilnych. Działanie z wykorzystaniem tego rodzaju źródła jest zazwyczaj określane jako celowe zaburzenie elektromagnetyczne. Środowisko promieniowane HPEM, które jest z natury szkodliwe, może również występować przy częstotliwościach nawet do kilkudziesięciu MHz. Rozwój technologiczny w zakresie mikrofal dużej mocy sprawił, że możliwa jest produkcja bardziej wydajnych źródeł mikrofalowych celem opromieniowania dużych bojowych instalacji. Jednocześnie możliwa jest generacja pól o stosunkowo dużych natężeniach z wykorzystaniem systemów kompaktowych, które mogą mieścić się np. w walizce [1]. Rozwój technologiczny i możliwość generacji pól o stosunkowo dużych natężeniach spowodowały wzrost potencjalnych zagrożeń od mikrofal o dużej mocy HPM (ang. - High Power Microwave). HPM jest środowiskiem o częstotliwościach radiowych, wytwarzanym przez źródła (broń) zdolne emitować dużą moc albo dużą gęstość energii. Typowe częstotliwości pracy HPM zawierają się w zakresie od 100 MHz do 35 GHz, lecz mogą też korzystać z innych częstotliwości stosownie do rozwoju technologii. Źródło może wytwarzać mikrofale w formie pojedynczego impulsu, powtarzalnych impulsów, impulsów o bardziej złożonej modulacji albo w postaci emisji fali ciągłej. Chociaż efekty HPEM takie jak impuls elektromagnetyczny spowodowany wyładowaniem atmosferycznym (LEMP - ang. Lighting Electromagnetic Pulse) i impuls elektromagnetyczny spowodowany wyładowaniem od wybuchu jądrowego (NEMP - ang. Nuclear Electroma[...]

  1. WSTĘP W ostatnich latach obserwujemy zwiększone zainteresowanie środowiskiem elektromagnetycznym cechującym się występowaniem sygnałów o dużej mocy (HPEM - ang. High Power Electromagnetics Environment), a szczególnie wytwarzaniem impulsowych pól elektromagnetycznych dużej mocy i ich wpływem na elektronikę. Środowisko promieniowane HPEM, które jest z natury szkodliwe, może również występować przy częstotliwościach nawet do kilkudziesięciu MHz. Rozwój technologiczny w zakresie mikrofal dużej mocy sprawił, że możliwa jest produkcja bardziej wydajnych źródeł mikrofalowych celem opromieniowania dużych bojowych instalacji. Jednocześnie możliwa jest generacja pól o stosunkowo dużych natężeniach z wykorzystaniem systemów kompaktowych, które mogą mieścić się np. w walizce [1]. Rozwój technologiczny i możliwość generacji pól o stosunkowo dużych natężeniach spowodowały wzrost potencjalnych zagrożeń od mikrofal o dużej mocy HPM (ang. - High Power Microwave). Chociaż efekty HPEM takie jak impuls elektromagnetyczny spowodowany wyładowaniem atmosferycznym (LEMP - ang. Lighting Electromagnetic Pulse) i impuls elektromagnetyczny spowodowany wyładowaniem od wybuchu jądrowego (NEMP - ang. Nuclear Electromagnetic Pulse) zbadano dokładnie w przeszłości, a efekty tych badań są względnie łatwo dostępne, to HPM jest stosunkowo nowym obszarem badań [2][5]. 2. STANOWISKO LABORATORYJNE DO POMIARU IMPULSÓW HPM Stanowisko pomiarowe do generacji i rejestracji natężenia impulsowego pola elektromagnetycznego składa się z ze stanowiska do generacji impulsów HPM oraz stanowiska do rejestracji i pomiaru natężenia impulsowego pola elektromagnetycznego W poniższym rozdziale zebrano ww. stanowiska pomiarowe i przedstawiono łącznie jako stanowisko do pomiaru i rejestracji natężenia impulsowego pola elektromagnetycznego. Głównymi elementami strony odbiorczej stanowiska do pomiaru impulsów HPM jest sonda pomiarowa Ddot oraz oscyloskop. Sonda pomiarowa D-[...]

W urządzeniach zabezpieczanych obudowami ekranującymi mamy do czynienia z wyciekami elektromagnetycznymi, które są bardzo trudne do zlokalizowania. W artykule przedstawiono stanowisko do pomiaru emisji promieniowanej urządzeń informatycznych. Ponadto w artykule przedstawiono opracowaną metodę pomiaru wycieków elektromagnetycznych w oparciu o emisję promieniowaną jednostek centralnych PC wraz z algorytmem postępowania. Przedstawiono i omówiono wyniki pomiarów identyfikowania miejsc wycieków elektromagnetycznych. Abstract. The devices secured by shielded enclosures we are dealing with electromagnetic leakage which are very difficult to locate. This paper shown an radiated emission measurement stand emitted by information devices. In addition, the paper presents a method for measuring leakages developed based on electromagnetic emissions radiated by CPUs with the algorithm procedure. This paper presents and discusses the results of measurements of electromagnetic leakage and identification them. Method for measuring leakages based on electromagnetic emissions radiated by CPUs. Słowa kluczowe: emisja promieniowana, wycieki elektromagnetyczne, kompatybilność elektromagnetyczna, komputer PC. Keywords: radiated emissions, leakage electromagnetic, electromagnetic compatibility, central unit of PC. doi:10.12915/pe.2014.07.56 Wstęp Wszelkiego rodzaju urządzenia o charakterze elektrycznym i elektronicznym zawsze wprowadzają do środowiska zewnętrznego zaburzenia elektromagnetyczne. Zaburzenia powodowane emisją pożądaną eliminuje się racjonalną gospodarką widmem elektromagnetycznym, stosując odpowiedni przydział częstotliwości lub pasm roboczych. Natomiast zaburzenia wywołane emisją niepożądaną powinny mieć tak określone poziomy, aby nie zakłócały pracy innych obiektów w miejscu ich zainstalowania. Zagadnienie to powinno być przedmiotem analizy już na etapie projektowania urządzeń. Energia elektromagnetyczna przedostaje się do otaczającego środ[...]

  Artykuł dotyczy problemów związanych z kompatybilnością elektromagnetyczną oraz emisją ujawniającą czyli bezpieczeństwem informacji. W artykule przedstawiono kanały elektromagnetycznego przenikania informacji, a następnie skupiono się na cyfrowym interfejsie graficznym HDMI dla którego przedstawiono sygnały wymuszeń używanych podczas pomiarów emisji ujawniającej oraz omówiono wyniki pomiarów emisji ujawniającej pochodzącej od interfejsu HDMI. Ponadto w artykule omówiono stanowisko pomiarowe do pomiaru emisji ujawniających. 1. WSTĘP Emisja pola elektromagnetycznego jest zjawiskiem nieodłącznie towarzyszącym przepływowi prądu elektrycznego, będącego z kolei podstawą działania wszelkich urządzeń elektronicznych i elektrycznych. Na podstawie zmian pola możliwe jest wnioskowanie na temat działania urządzeń będących jego źródłem. Co więcej, właściwości pola elektromagnetycznego pozwalają na jego zdalną rejestrację i analizę. Zjawisko powstawania fal elektromagnetycznych niosących informację o działaniu urządzeń elektrycznych i elektronicznych nazywane jest emisją ujawniającą lub ulotem elektromagnetycznym. Odkąd urządzenia elektryczne i elektroniczne zaczęły być używane do przetwarzania informacji, często o poufnym charakterze, występowanie emisji ujawniającej nabrało szczególnego znaczenia. Ochrona informacji przed przenikaniem elektromagnetycznym urządzeń i systemów elektronicznych (informatycznych) ma bardzo duże znaczenie. Problem ten narasta z coraz to większym zastosowaniem urządzeń teleinformatycznych do przetwarzania i przekazywania informacji, które nie powinny wpaść w niepowołane ręce. Wynika to stąd, że każde urządzenie elektroniczne jest źródłem niepożądanej (ubocznej) emisji energii elektromagnetycznej indukowanej w otaczającą przestrzeń i we wszelkich bliskich przewodach elektrycznych i konstrukcjach metalowych. Kiedy sygnały emisji niepożądanej są skorelowane z nieutajnioną informacją, mogą być one wykorzystan[...]

  W artykule przedstawiono cechy dystynktywne dla współczesnego sprzętu informatycznego znajdującego się na rynku Unii Europejskiej bazując na emisji promieniowanej. W artykule opisano koncepcję budowy bazy danych dla interfejsów sprzętowych urządzeń informatycznych w procesie ich identyfikacji na bazie emisji promieniowanej. Ponadto w artykule przedstawiono miary podobieństwa emisji promieniowanej dla poszczególnych interfejsów sprzętowych urządzenia informatycznego. 1. WSTĘP Energia emitowana (ε ) przez dowolne źródło, ogólnie biorąc, może zależeć od częstotliwości (f), czasu (t) i kierunku ().Wielkość ε można uważać za operator opisujący przekształcenie energii wyzwalanej w źródle (która zależy tylko od częstotliwości i czasu) w przestrzenno- czasowo-częstotliwościowy rozkład energii w ośrodku otaczającym źródło. Jeżeli właściwości kierunkowe, częstotliwościowe i czasowe źródła są niezależne od siebie, to jego zdolność emisyjna ε może być przedstawiona w postaci iloczynu trzech funkcji, reprezentujących oddzielne charakterystyki opisujące selektywność (wybiórczość) częstotliwościową, kierunkową i czasową źródła. Przy dużej ilości źródeł emisji działających jednocześnie wypadkowy proces zawiera dominujące dyskretne składowe o szczególnie dużej intensywności oraz tło elektromagnetyczne, zbliżone do szumu. Intensywność emisji zamierzonej w zasadzie można oszacować na podstawie rozmieszczenia przestrzenno-czasowoczęstotliwościowego źródeł, promieniowanej mocy i innych znamionowych parametrów wchodzących w grę urządzeń. Natomiast emisja niezamierzona jest znacznie trudniejsza do oceny ilościowej. Takim przykładem jest system współmiejscowy, w którym jednocześnie znajduje się kilka źródeł emisji elektromagnetycznej. Na podstawie prowadzonych badań i uzyskanych wyników pomiarowych można stwierdzić, że istnieje możliwość zidentyfikowania interfejsów sprzętowych urządzenia informatycznego powodujące wzros[...]

  Artykuł dotyczy problemów związanych z wysokoenergetycznym środowiskiem elektromagnetycznym. W artykule scharakteryzowano impuls elektromagnetyczny wielkiej mocy oraz omówiono stanowisko do generowania takich impulsów. Ponadto w artykule przedstawiono metodę oceny odporności urządzeń informatycznych na wysokoenergetyczne impulsy elektromagnetyczne przeprowadzoną w LAB-KEM WEL WAT. Ocena odporności urządzeń informatycznych pomaga zrozumieć próg podatności tych urządzeń na środowisko impulsów elektromagnetycznych o wysokich mocach (ang: High Power Electromagnetic - HPEM). Ocena ta skupia się na określeniu progu wytrzymałości sprzętu komputerowego (Laptopów, Tabletów) podczas pracy tych urządzeń w środowisku HPEM. Abstract: The paper presents method for estimating immunity informatics devices for high power electromagnetic pulses carried in the LAB-KEM MUT. Estimation immunity of informatics devices will help you understand the susceptibility threshold of these devices on the high power electromagnetic pulses environment (called High Power Electromagnetic - HPEM). This estimation focuses on determining the upper limit of strength the computer devices (Notebook, Tablet) in the HPEM environment. Słowa kluczowe: urządzenie informatyczne, impuls elektromagnetyczny, EMC, HPEM Keywords: informatics device, electromagnetic pulse, EMC, HPEM 1. WSTĘP Infrastruktura informatyczna, komputery osobiste oraz nośniki informacji są integralną częścią naszej działalności i życia codziennego. W przypadku używania urządzeń informatycznych w infrastrukturze krytycznej lub dla zachowania bezpieczeństwa teleinformatycznego nie jest dopuszczalne wystąpienie jakichkolwiek zakłóceń w środowisku elektromagnetycznym. W środowisku elektromagnetycznym dużej mocy źródła mikrofalowe stanowią stosunkowo nowy rodzaj zagrożenia zarówno dla systemów wojskowych, jak i cywilnych. Działanie z wykorzystaniem tego rodzaju źródła jest zazwyczaj określane jako [...]