Wyniki 1-9 spośród 9 dla zapytania: authorDesc:"Marek Korzybski"

Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych

Czytaj za darmo! »

W pracy przedstawiona została modyfikacja algorytmu diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w liniowych i nieliniowych obwodach elektrycznych pozwalająca bardzo często na istotne skrócenie czasu obliczeń potestowych. Jest to efekt uwzględnienia faktu dużo większego prawdopodobieństwie występowania uszkodzeń katastroficznych niż parametrycznych. Umożliwiło to w wielu przypadkach eliminację procesu dokładnej identyfikacji uszkodzenia wykorzystującego algorytm genetyczny. Abstract. The paper deals with a modyfication of an algorithm for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis in linear and nonlinear electronic circuits, which enable us frequently to shorten the after-test computation time. Due to the greater probability of catastrofic than par[...]

Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits

Czytaj za darmo! »

The paper deals with the soft fault diagnosis in analog dynamic circuits. The two-stage algorithm for soft fault location and identification has been presented. It is based on the spectrum analysis of the circuit response to the rectangular input signal, a neural network and one of the new evolutionary techniques - gene expression programming. The first stage enable us fault location using neural network. The result of the second stage is fault identification performed with formulas derived using gene expression programming. The method is illustrated with a numerical example Streszczenie. Tematem pracy jest diagnostyka uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych. Przedstawiony jest dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych bazujący na analizie widmowej odpowiedzi układu na prostokątny sygnał wejściowy. Pierwszy stopień realizuje lokalizację uszkodzenia wykorzystując sieć neuronową. Wynikiem drugiego jest identyfikacja, którą umożliwiają zależności wyznaczone przez ewolucyjny algorytm programowania wyrażeń genetycznych. (Dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych) Keywords: soft fault diagnosis, neural networks, gene expression programming. Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń parametrycznych, sieci neuronowe, metoda programowania wyrażeń genetycznych. Introduction Fault diagnosis of analog circuits is an important element of the analysis, designing process and testing of electronic systems. During the last decades the problem was considered in numerous papers and books [1-11] and many methods relating to this issue have been developed. The presence of circuit nonlinearities and component tolerances causes that fault diagnosis of analog circuits is very complex [9,10] and it has not achieved the development level of the method for digital circuits. Three major parts of analog circuit testing are fault detectio[...]

The selection of genetic algorithm parameters for soft fault diagnosis

Czytaj za darmo! »

Some methods for soft fault diagnosis developed in last years use evolutionary computing. Genetic algorithms are the most popular evolutionary method. The genetic algorithms are very sensitive to parameter settings, hence the selection of these parameters seems to be a very important problem. This paper deals with the issue of an optimal determination of genetic algorithm parameters for soft fau[...]

Ewolucyjny dobór pobudzenia do diagnozowania uszkodzeń w układach analogowych

Czytaj za darmo! »

Praca poświęcona jest metodzie dobierania częstotliwości prostokątnego pobudzenia przeznaczonego do diagnozowania uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w obwodach analogowych. Wynikiem stosunkowo dużego kosztu obliczeniowego oceny przydatności diagnostycznej każdej częstotliwości zastosowany został algorytm symulowanego wyżarzania, znacznie oszczędniejszy od algorytmu pełnego przeglądu przestrzeni rozwiązań. Opisane przykłady potwierdzają skuteczność prezentowanej metody. Abstract. The paper is devoted to the algorithm for the selection of the frequency of the rectangular input signal used in the parametric and catastrophic fault diagnosis in analog circuits. The calculation of frequency adjustment is very time consuming, so the simulated annealing algorithm is applied for the optimization of the stimuli frequency. The numerical examples confirm the effectiveness of the proposed method. (Evolutionary stimuli selection for fault diagnosis in analog circuits). Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, uszkodzenia parametryczne i katastroficzne, dobór pobudzenia, układy CMOS. Keywords: fault diagnostic, parametric and catastrophic fault, stimuli selection, CMOS circuit. Wprowadzenie Diagnostyka analogowych układów elektronicznych, której szybki rozwój rozpoczął się na początku ostatniego dwudziestolecia ubiegłego wieku, jest w dalszym ciągu problemem nierozwiązanym. Pomimo powstania wielu nowych, coraz szybszych i bardziej skutecznych metod [1][5], nie został opracowany uniwersalny, skuteczny i wystarczająco dokładny algorytm diagnostyczny pozwalający na uznanie penetracji tego obszaru badawczego za nieuzasadnione. Szybki postęp technologiczny powoduje istotne zmiany w sposobie wytwarzania układów analogowych, co tworzy nowe niezbadane jeszcze obszary zastosowań diagnostycznych. Nieliniowości układów, obecność tolerancji parametrów oraz różnorodność występujących uszkodzeń są głównymi czynnikami generującymi problemy diagn[...]

An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation

Czytaj za darmo! »

The paper deals with algorithm for single and multiple catastrophic fault diagnosis in analogue circuits. The algorithm bases on FFT analysis of the circuit response to the rectangular testing signal and uses as a classifier Pearson product-moment correlation coefficient. The algorithm represents SBT technique and requires multiple analyses of circuit under test, which enable us to built a fault dictionary. Each entry of dictionary is assigned with one fault. The numerical example shows the effectiveness of the proposed algorithm. Streszczenie. W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych. Algorytm bazuje na wykorzystującej FFT analizie odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i na etapie przygotowawczym wymaga wielokrotnych analiz diagnozowanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Jego sygnatury odpowiadają uszkodzeniom, których możliwość występowania została przewidziana na etapie przygotowawczym. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu. (Algorytm diagnostyki błędów w układach analogowych bazujący na korelacji). Keywords: fault diagnosis, catastrophic faults, correlation, parameter tolerance Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, uszkodzenia katastroficzne, korelacja, tolerancja parametrów Introduction The problem of failure detection in electronic circuits appeared when the first electronic circuits were produced. The problem’s severity started to intensify along with the increasing complexity of the circuits and decreasing accessibility to their inside. The rapid development of diagnostics, observed since the early 1980’s, has led to the invention of many new methods [1]-[5], which performance in the case of digital circuits can be regarded as satisfactory. The problem with the diagnostics [...]

Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis

Czytaj za darmo! »

The paper deals with feature selection of testing signals used for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple two stages fault diagnostic strategy for circuits with limited access to internal nodes is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithm enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, is prepared under assumption, that input data sets are extracted from DC analysis. Streszczenie. W artykule przedstawiono dwuetapowy algorytm detekcji I lokalizacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych, oparty o pewne techniki drążenia danych i elementy teorii systemów szarych. Założono ograniczony dostęp do punktów wewnętrznych oraz możliwość analizy dynamicznej i stałoprądowej badanych układów. (Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem technik drążenia danych. ). Keywords: fault diagnosis, feature selection, tolerance , catastrophic faults, grey systems theory Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, selekcja cech, tolerancja, uszkodzenia katastroficzne, teoria systemów szarych Introduction Fault diagnosis of analog electrical circuits with elements tolerances included seems to be still an important part of modern modeling, designing and manufacturing process. Basically, there exist two main methods for taking into account the parameters variations: direct one, based on the tolerance regions calculations [1] and indirect, grounded on the use of particular classifiers including tolerance in the learning stage of pattern recognition process. Most recently, the algorithms using some ideas of grey relational data analysis [2 ], introduced by Deng Julong, widely applied in economics, industry and agriculture were introduced also to the analog circuit fault diagnosis. Mentioned above, indirect methods enabling us to investigate circuits with parameters variations, need very large data sets. Data mining techniques called feature sel[...]

Test points selection algorithms improving efficiency of analog circuit fault diagnosis


  While considering modern modeling, designing and manufacturing process, fault diagnosis of analog circuits with element tolerances must be taken into account. It has always been an important part of this process. There exist two main methods for taking into account parameters variations. First one is direct and based on the tolerance regions calculations [1]. The second one, indirect, is grounded on the use of specified classifiers including tolerance in the learning stage of pattern recognition process. Deng Julong introduced algorithms using some ideas of grey relational data analysis. They have various applications in economics, industry and agriculture, and most recently have been also introduced to the analog circuit fault diagnosis [2--5]. With the indirect methods mentioned above there is one problem - they require very large data sets. There, however, seem to be two important methods for dealing with this - data mining technique called feature selection [6] and use of the classification algorithms having the natural property of dealing with uncompleted information. This article refers to test points selection for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple fault diagnostic strategy for analog circuits with tolerance included is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithms enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, are prepared under assumption that input data sets are extracted from DC analysis. Basis of the ranking list algorithm To perform final classification procedure we prepare data set followed from measurements and preprocessing stage: (1) where N is a number of features defined for the circuit under test, M - number of all investigated states of the circuit under test (CUT) including nominal one. Relational degree of the CUT is defined as (2) where (3) denotes the vector of weight coefficients and γ jk is re[...]

Soft fault diagnosis in analogue circuits based on the Pearson correlation DOI:10.12915/pe.2014.04.060

Czytaj za darmo! »

The paper deals with the diagnostic algorithm for soft faults in analogue circuits. It bases on the spectrum analysis of the circuit response to the rectangular input signal. The classifier applied in the location uses Pearson correlation coefficient. The identification is based on the formulas constructed with use of the evolutionary method: gene expression programming. The algorithm represents SBT (Simulation Before Test) technique and requires multiple analysis of circuit under test for building a fault dictionary. The numerical example shows the effectiveness of the algorithm. Streszczenie. W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania parametrycznych uszkodzeń układów analogowych. Bazuje on na analizie FFT odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i wymaga wielokrotnych analiz badanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu. (Diagnostyka uszkodzeń parametrycznych z wykorzystaniem korelacji Pearsona). Keywords:, soft fault diagnosis, dictionary diagnostic methods, correlation, parameter tolerance Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń parametrycznych, metody słownikowe, korelacja, tolerancja parametrów doi:10.12915/pe.2014.04.60 Introduction The fault diagnosis of the analogue circuits is the area of great importance in the process of design, manufacturing and utilisation of electronic devices. Despite the over thirty years of the research development [1-9], there is still a need of new universal, quick and effective, diagnostic methods. There are two main causes of such a situation. The first one is the difficulty of diagnosing the analogue circuits, due to the non-linear characteristics and tolerances of the system's elements. The second - new challenges, like limited access to the systems' interiors. The challenges appeari[...]

Fast optimization schemes for feature selection in analog circuits fault diagnosis DOI:10.12915/pe.2014.07.012

Czytaj za darmo! »

The aim of this work is to systematize the knowledge resulting from research on the impact of the feature selection on the quality of diagnostic procedures in the diagnosis of nonlinear systems. Particular attention was devoted to the selection of appropriate comparative criteria and optimization algorithms necessary for the selection of defects in the studied nonlinear systems, so that the inclusion of the elements in the process of detection and location of single and multiple catastrophic failures is possible to the highest degree. Basing on the research and simulations results, the fast, “low-costs" method for feature selection using new data quality indexes was invented and tested on real circuits examples. Streszczenie. Celem pracy jest usystematyzowanie wiedzy wynikającej z badań realnego wpływu selekcji cech na jakość procedur wykrywania uszkodzeń w diagnostyce układów nieliniowych. Szczególna uwaga została poświęcona na dobór właściwych kryteriów porównawczych i algorytmów optymalizacyjnych niezbędnych w procesie wyboru atrybutów uszkodzeń badanych układów nieliniowych tak, aby w jak największym stopniu możliwe było uwzględnienie tolerancji elementów w procesie detekcji i lokalizacji jednokrotnych i wielokrotnych uszkodzeń katastroficznych. Opierając się na wynikach analiz i symulacji opracowano i przetestowano na przykładach, szybki w działaniu algorytm selekcji cech wykorzystujący nowe indeksy oceny jakości zbioru danych. (Prosta optymalizacja procesu selekcji cech w diagnostyce układów analogowych). Keywords: feature selection, BPSO algorithm, tolerance, classifiers. Keywords: selekcja cech, binarny algorytm PSO, tolerancja, klasyfikatory. doi:10.12915/pe.2014.07.12 Introduction The consideration of the elements’ tolerances in the diagnostics of non-linear circuits is still a current and not yet satisfactorily solved problem. Deviations of the studied circuits elements’ can be taken into account by either the[...]

 Strona 1