profil Twój Profil
Kliknij, aby zalogować »
Jesteś odbiorcą prenumeraty plus
w wersji papierowej?

Oferujemy Ci dostęp do archiwalnych zeszytów prenumerowanych czasopism w wersji elektronicznej
AKTYWACJA DOSTĘPU! »

Twój koszyk
  Twój koszyk jest pusty

Czasowy dostęp?

zegar

To proste!

zobacz szczegóły
r e k l a m a

ZAMÓW EZEMPLARZ PAPIEROWY!

baza zobacz szczegóły
ELEKTRONIKA, ENERGETYKA, ELEKTROTECHNIKA ›
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA › 2011-12
 

2011-12

 
  DOSTĘP CZASOWY do archiwalnych (lata 2004-2011) e-zeszytów czasopisma

UWAGA! - Oferujemy również w atrakcyjnej cenie dostęp czasowy do archiwalnych e-zeszytów czasopism z wybranej branży

 

Prenumerata

Zamów papierową prenumeratę w wersji PLUS czasopisma ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA i zyskaj dostęp do pozostałych elektronicznych publikacji tego czasopisma z lat 2004-2011 (od 1 marca również rok 2012).
Nie zwlekaj - skorzystaj z tysięcy publikacji o najwyższym poziomie merytorycznym.
prenumerata papierowa roczna PLUS (z dostępem do archiwum e-publikacji) - tylko 397,08 zł
prenumerata papierowa roczna PLUS z 10% rabatem (umowa ciągła) - tylko 357,37 zł *)
prenumerata papierowa roczna - 352,80 zł
prenumerata papierowa półroczna - 176,40 zł
prenumerata papierowa kwartalna - 88,20 zł
okres prenumeraty:   
*) Warunkiem uzyskania rabatu jest zawarcie umowy Prenumeraty Ciągłej (wzór formularza umowy do pobrania).
Po jego wydrukowaniu, wypełnieniu i podpisaniu prosimy o przesłanie umowy (w dwóch egzemplarzach) do Zakładu Kolportażu Wydawnictwa SIGMA-NOT.
Zaprenumeruj także inne czasopisma Wydawnictwa "Sigma-NOT" - przejdź na stronę fomularza zbiorczego »

 

A Flexible Winner Takes All Neural Network with the conscience mechanism realized on microcontrollers
 
Paweł Przedwojski  Tomasz Talaśka  Rafał Długosz  
Implementation of ANNs on microcontrollers (μC) is an interesting alternative in comparison with PC-based realizations of such networks [1, 2]. The achievable data rates are in this case usually smaller than in case of NNs realized on PC, but in many applications high data rate is not the most important, while small sizes of a device and relatively low power dissipation are the paramount features. On the other hand, in comparison with the realizations of ANNs as VLSI ASICs that offer ultra low power dissipation and large density and, in consequence, very small device sizes [3, 4], the ANNs realized on μC are much more flexible in terms of reconfigurability. The core blocks in this case are digital that makes such systems much easier in the realization. In this case there is no influence of negative effects present in analog implementation, e.g. the current leakage and the charge injection effects [3]. Winner Takes All ANNs belong to the group of networks trained without the supervision. The training process, in each learning cycle, starts in this case with presenting the network particular learning patterns X from an input data set. For each pattern the network calculates a distance between the X and the weights W vectors in all neurons. Different measures of the similarity between the X and the W vectors are being used. The most popular are the Euclidean (L2) and the Manhattan (L1) measures defined as follows: (1) (2) In the L1 case both the squaring and the rooting operations have been eliminated that significantly simplifies the overall learning algorithm. Both these measures have been used in the proposed implementation of the ANN, for the comparison. Detailed investigations carried out by the authors with various data sets and different numbers of neurons show that the L1 measure offers comparable results, while it requires much less computational resources. The adaptation process of the winning neurons is per[...]
 
A new, low cost, precise measurement card for testing of ultra-low power analog ASICs
 
Jakub Dalecki  Tomasz Talaśka  Rafał Długosz  
Measurement of ultra low power high precision ASICs is a challenging task. This is due to low values of the currents and voltages that are often in the noise floor, but also due to very small differences between particular signals that have to be distinguished. An example circuit of this type is the current-mode Gilbert vector multiplier that operates in the underthreshold region with currents not exceeding a few μA [1, 2]. Other circuits of this type include low power summing circuits, dividers, circuits that calculate the exponential and other functions. Circuits of this type are used in low power analog decoders [1], analog filters [2], neural networks [3] etc. In circuits that are to be used as components in low power portable devices, low power operation is one of the paramount features. The proposed measurement card can be used to test circuits working in either the voltage or the current mode. The measurements can be performed in 16 channels in parallel. In the voltage mode the signals in the range from -8 to 8V can be measured with the resolution of 20 μV, while in the current mode in the range from 1 nA to 20 mA with resolution of up to 20 bits. The maximum frequency of a single channel (up to 2 kHz) is sufficient in many applications. For example, in analog FIR filters built on the basis of the Gilbert vector multipliers [2] the most important feature is precision, which has a direct influence on attainable attenuation in the stop-band, while data rate below 1 kHz is acceptable n this case. High precision in the voltage mode has been achieved by the use of the circuits working in the differential mode. In general, the parameters described above have been achieved by the use of various signal converters, filters and amplifiers. In the literature one can find various measurement systems [4-6]. The authors of [4, 5] have proposed a multichannel system to register temperature response of electronic circuits in [...]
 
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response’s features
 
Piotr Jantos  Tomasz Golonek  Jerzy Rutkowski  
Analogue electronic circuits testing is undoubtedly a very complex issue [1, 6, 7]. It has been absorbing electronic engineers for past decades. The difficulty of this problem is caused mainly by the non-deterministic nature of component parameters, limited controllability and observability. Additional problems are difficulties in creating a standardised fault model, variety of analogue signals and analogue electronic systems. A good proof of the analogue test complexity is the fact there still is not a single, algorithmically described method of creating such tests. It is also a reason for research in this area [3, 8, 9, 11]. Analogue testing is usually divided into two categories, i.e. fault (structural) driven test - FDT methods - and specification (functional) driven test - SDT methods. The former employs complex fault models and is oriented on finding, through multiple circuit’s simulations, the influence of each of assumed faults on the circuits performance under given excitations. The latter is focused on measuring a certain circuit’s performance specifications, e.g. cut-off frequency, DC gain, and the like, and determining the results of GO/NO-GO test (“pass" or “fail") under the condition of all specifications are withing assumed boundaries. As far as it is possible and reasonably simple to execute all required measurements at the test stage, this solution is usually unacceptable due to required time and equipment [1]. Testing methods are also divided according to the stage most of the computation is done [1]. There are two main categories, i.e. methods with the simulation at the before test stage (SBT method) and methods with the simulation at the after test stage (SAT methods). The former group is characterised with the computation time shifted toward the test design stage, when all of required circuit simulations are executed, a fault dictionary is created, etc. In the latter - the measureme[...]
 
An effective SAT-Solving mechanism with backtrack controlled by FDL
 
Andrzej Pułka  
The problem of Boolean satisfiability (SAT) has been recognized since the beginning of logical circuits existence and belongs to one of the most studied issues in the field of combinatorial search and minimization as well as Artificial Intelligence problems. Many works devoted to SAT solvers [1, 2, 5-8, 10, 11], i.e. methods and algorithms for solving the Boolean satisfiablity tasks bore fruits in practical applications as packages embedded into Electronic Design Automation (EDA) tools. Sat solvers are commonly used for testing in automated test patterns generators [13]. The presented paper introduces some modifications to existing approaches in a for of a new original SAT-solving algorithm supported with optimal selection of variables and backtrack search controlling mechanisms based on the technique borrowed from AI - fuzzy default logic (FDL). Problem description and related works The problem of Boolean satisfiability (SAT) can be formulated as follows: verify and prove that there exists (or does not exist) an assignment (of variables) for a given Boolean function F for which the function is satisfied (evaluates to true). Usually a SAT task belongs to NP-complete problems and its solving is not trivial. The problem specification Usually the SAT problems are presented in standard conjunctive normal form (CNF), i.e. as a conjunction of clauses Ci, where every clause is given as a disjunction of literals. Each literal comprises the elementary logical unit of a given Boolean function F (problem), being merely an instance of a variable or its complement. Formally, for a given Boolean function F(x1,…, xN) of variables X = {x1, ¬x1,…, xN, ¬xN} (where symbol ¬xi denotes the complemented variable), we can express the function F in CNF form as: (1) The main advantage of such a formulation (CNF) of the problem is the practical meaning (reduction) of SAT. In order to prove the satisfiability of a given CNF[...]
 
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections
 
Krzysztof Gucwa  Tomasz Garbolino  Andrzej Hławiczka  
With regard to the methods how test vectors are applied to the Circuit Under Test (CUT) the Interconnect Built-In Self Test (IBIST) tools are classified into two categories: test-per-scan [7, 12] and test‑per‑clock [6, 9, 10] with characteristic features that are substantially different for the both techniques. The significant advantage of the test-per-clock IBIST structures as compared to the respective test-per-scan structures is the considerably (i.e. by several orders of magnitude) shorter time of test execution and much easier testing of dynamic faults, i.e. delay faults, crosstalks and switching noise [1, 6, 11]. The conventional IBIST structures of the test-per-clock type usually comprise two separate modules: the test pattern generator (usually LFSR) and compactor of output responses (usually MISR) [6, 10, 11]. For the IBIST structure of the LFSR-MISR type the test procedure is independent on the CUT function to be tested. At the end of 80’s the new BIST structure of the Circular Self- Test Path (CSTP) [8] was proposed. The method consists in connection of all the memory modules within the CUT in a single shift register that is then converted into a self-test ring by connection of its output with the input. However, for many years the CSTP structure has never been adopted for testing of pure interconnections. The attempt to apply such a structure to test a bus of unidirectional lines was proposed in [4, 5]. In that case the CTSP becomes an ordinary linear ring LFSR (R-LFSR) [4, 5], where the interconnections under test constitute its feedback lines (Fig. 1). The feedback of the register is described by the characteristic polynomial p(x). It makes possible to apply the techniques dedicated to analysis of the test efficiency that are typical for linear registers and that differ from the method proposed in [8]. It eliminates troubles with analyzing efficiency of test procedures [8] caused by the fact th[...]
 
Combining various modeling techniques for power electronic systems in automotive applications
 
Halina Niemiec  Marcin Szelest  
Rapidly increasing interest in hybrid vehicles and similar technologies has been observed during last decade. Electronics in car has become necessity, not an option. Big number of sensors, switches, amplifiers and other components, which are driven by multiple microcontrollers causes many issues with the simulation of the whole system. The multi-domain simulation for such a complex circuit is always compromise between the required level of the accuracy and the simulation time [1, 2]. Regarding the expected accuracy and the simulation performance, different modeling approaches are possible. Fundamental choice is selection between physical and behavioral modeling for each functional block, which automatically implies the most suitable description language. SPICE languages (netlist modeling) are applicable for purely analog sub-circuits, event-driven languages as VHDL/Verilog should be used for digital sub-circuits, while MAST/VDHL-AMS hardware description languages are the best choice for mixed-signal systems [2-5]. This paper will demonstrate how combination of various modeling techniques can be used for development of models of complex power electronics systems in automotive applications. Presented solutions are based on experience of the HW/EE Modeling Group at Delphi Corporation. System Overview The modeled system is a solution used in cars with START&STOP function. In this kind of cars, the engine turns off when the vehicle stops at traffic lights or in traffic jams. The purpose of the system is maintaining suitable supply voltage for the vehicle electrical network when the engine is turned off. Under these conditions, significant voltage drop may occur on the battery, especially during cranking phase. Such low battery voltage might result in turning off car audio system, air-conditioning, etc. To avoid it, high power DC-DC converters may be implemented along with reliable control blocks. General block diagram of this ki[...]
 
Dwukanałowy sterownik impulsowych diod laserowych o krótkim czasie trwania impulsów
 
Ryszard Niedbała  Marcin Wesołowski  Daniel Kucharski  Jacek Wojtas  
Liczba zastosowań laserów półprzewodnikowych we współczesnej nauce i technice jest niesłychanie szeroka. Oprócz klasycznych technik obróbczych i medycznych, wymagających wykorzystywania laserów o relatywnie wysokich mocach, bardzo często wykorzystywane są impulsy laserowe o wąskim spektrum falowym. Impulsowe lasery półprzewodnikowe wykorzystywane są między innymi do budowy nowych przyrządów pomiarowych, w aplikacjach komunikacyjnych, medycznych oraz wojskowych. W artykule zaprezentowano uniwersalny sterownik do impulsowych diod laserowych, opracowany z Zespole Elektrotermii Politechniki Warszawskiej w kooperacji z Wojskową Akademią Techniczną. Sterownik umożliwia niezależne sterowanie dwoma diodami laserowymi. Generowane impulsy charakteryzują się krótkimi czasami trwania (minimalny czas 50 ns) oraz wysoką powtarzalnością, dzięki czemu możliwe było wykorzystanie sterownika w wielospektralnym optoelektronicznym czujniku gazu, w którym wykorzystano spektroskopię strat we wnęce optycznej typu CEAS (ang. Cavity Enhanced Absorption Spectroscopy). Metoda ta została opracowana w 1998 roku przez Engel’a i należy do jednych z najczulszych absorpcyjnych metod spektroskopii laserowej. Dzięki wielokrotnym odbiciom impulsów laserowych wewnątrz specjalnie skonstruowanej wnęce optycznej uzyskuje się zwiększenie drogi optycznej, a tym samym czułości. Sterownik laserów umożliwia odpowiednie wysterowanie dwóch laserów, których impulsy wprowadzane są naprzemiennie do wnęki optycznej. Dzięki temu uzyskano możliwość badania oddziaływania badanego gazu z promieniowaniem laserowym o dwóch długościach fali jednocześnie. Charakterystyka układu Prezentowany sterownik przeznaczony jest do zasilania diod laserowych o znamionowych prądach roboczych rzędu 1 A. Podstawową częścią urządzenia jest cyfrowy układ wyzwalania, zinte[...]
 
ECG signal processing for deceleration capacity assessment
 
Marek Kamiński  Jakub Chłapiński  Bartosz Sakowicz  Rafał Kotas  Andrzej Napieralski  
Sudden Cardiac Death (SCD) is regarded as a very serious sociological concern. It is estimated that every week 30 people per each million of population die from SCD. Clinical states increase the risk of SCD and occur in wide range of patients population [1]. The current ability for proper identification of high-risk group is limited. High prevention efficiency of implantable cardioverterdefibrillator does not translate into general reduction of deaths. Recently in clinical research several markers for SCD risk assessment were proposed, based on data obtained from ECG signal. Among such markers are T-wave alternans (TWA), heart rate variability (HRV), heart rate turbulence (HRT) or Deceleration/Acceleration Capacity (DC/AC). Despite proven usefulness the main problem with the use of those risk markers is lack of uniform and generally available software for their assessment and establishing their mutual correlation. Authors of this paper have so far developed program "Cadio" for ECG signal analysis capable of importing data from Reynolds Medical and DMS Cardioscan commercial system for Holter monitoring. Initially the main goal was to implement software for TWA assessment. However, low ECG signal resolution from the generally available 8-bit Holter monitors allowed only for detecting TWA in range of about 30 μV, which is insufficient for determining absence of TWA in patient’s recording. Difficulties with TWA assessment lead us to implementing another marker of SCD risk. Among the aforementioned known markers the least researched and least practically applied marker in Polish clinical practice seemed to be Deceleration Capacity (DC) [2]. The aim of the research presented in this paper was to implement algorithm for DC assessment with the use of previously designed and implemented methods for ECG signal segmentation and validation for TWA assessment; and to determine the correlation between assessed DC and others SCD [...]
 
Elektroniczne narzędzia pomiarowe w transporcie - wagi preselekcyjne
 
Andrzej W. Mitas  Marcin Bernaś  Marcin Bugdol  Artur Ryguła  Witold Konior  
Transport drogowy ma kluczowe znaczenie w dzisiejszym świecie. Układ komunikacyjny jest niezwykle ważnym czynnikiem rozwoju we wszystkich aspektach życia społecznego, a przede wszystkim ekonomicznego. Każdy człowiek jest uzależniony od dostępności i jakości sieci drogowej. Możliwość dojazdu samochodów dostawczych jest podstawowym czynnikiem determinującym lokalizację zakładów przemysłowych, natomiast szybki dojazd do pracy czy do sklepu jest niejednokrotnie elementem decydującym o wyborze miejsca zamieszkania. Problemy transportowe, znamienne dla społeczeństw wysoko rozwiniętych, implikują poważne zaangażowanie środków elektronicznych i narzędzi informatycznych. Przykładem może być system elektronicznego poboru opłat w naszym kraju. Codzienna praktyka wykazuje oczywiście kolejne, nieuniknione słabe punkty, których eliminacja prowadzi do usprawnienia działania. Niemniej jednak zastosowanie specjalistycznych rozwiązań układów i urządzeń elektronicznych wydaje się być jednym ze sposobów wielkoobszarowego monitoringu realnej sytuacji drogowej w czasie rzeczywistym. Wysokozaszumione sygnały z czujników pomiarowych mogą być przetwarzane sprzętowo, co zazwyczaj pociąga za sobą znaczące nakłady finansowe, zwielokrotniane na poszczególne aplikacje. Alternatywnym sposobem rozwiązania tego problemu jest opracowanie i wdrożenie odpowiednich algorytmów ekstrakcji sygnałów użytecznych i wyznaczania poszukiwanych parametrów. Dynamiczny rozwój transportu drogowego w przeciągu ostatnich 20 lat w Polsce spowodował znaczny wzrost liczby użytkowników, nieadekwatny do postępów w rozwoju sieci drogowej. Wzrost ten dotyczy zarówno użytkowników pojazdów osobowych, jak i samochodów ciężarowych. Masa pojazdów w wielu przypadkach przekracza dopuszczalne obciążania dla danej klasy pojazdu, a przede wszystkim, w przypadku pojazdów ciężarowym, dopuszczalny nacisk osi na nawierzchnię danej drogi. Program badawczy LTPP (Long Term Pavement Performance) pr[...]
 
Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind
 
Łukasz Chruszczyk  
The test engineer must reconcile many contradictories: efficiency of fault diagnosis (how many faults can be successfully diagnosed?), access to circuit internals (usually limited and expensive), circuit cost (maximize tolerances in limits defined by device functionality; minimize circuit overhead possibly caused by designfor- testability), test cost (strongly related with test time: single of many measurements? how much accuracy?). The test cost is a significant part of a final device cost (30…50% [17]). All these factors can be summarized as an optimization problem of many related test and circuit parameters. Two major problems of fault diagnosis of modern analog electronic circuits (AEC) are tolerance of components and limited access to circuit internals. The first causes spread of measured quantities thus resulting in fault masking (ambiguity sets). Lowering tolerances increases diagnosis efficiency together with device manufacturing cost. Limited access to the circuit internal nodes limits sources of information about its state and possible faults. The basic division of AEC testing is: - functional test -verifies if circuit behavior conforms the design, - fault diagnosis - analysis of possible faults that may not influence circuit behavior. There can be distinguished three goals of AEC fault diagnosis (Fig. 1) [1,14,16,18]: - fault detection - differentiates only healthy circuits (Go) from faulty ones (No Go), - fault location -locates damaged element, - fault identification - determines value or shift below or above tolerance margin of a damaged element. The classical sequence of a diagnosis procedures is shown on Fig. 1: detection → location → identification [1,14,16,18]. Such multi-step analysis has advantages. Usually fault detection (as being the simplest diagnosis) is also the shortest and is often the only test needed. If fault probability is low further steps are performed rarely. Additional [...]
 
Four channels data acquisition system for silicon photomultipliers
 
Mateusz Baszczyk  Piotr Dorosz  Sebastian Głąb  Wojciech Kucewicz  Maria Sapor  
Silicon Photomultiplier (SiPM) is an array of photodiodes (cells) connected together in parallel and operated in Geiger mode [1]. Each element of this array consists of diode and a quenching resistor to limit current flowing through the junction. When SiPM is biased beyond electrical breakdown (Geiger mode), typical gain is between 105 and 106 [2]. Each photon can be a source of an avalanche which spreads out in the whole volume of a single cell. This means that in each avalanche approximately the same charge is generated. The total output is a sum of current from all microcells hence it is proportional to the number of avalanches, which in turn is proportional to the light intensity [7]. The main advantages of SiPM with respect to the standard photomultiplier are the following: compact size, smaller power consumption and lower operating voltage - less than 100 V [5]. Dark current, caused by thermally generated avalanches, is the main disadvantage. These pulses appear even if there is no photon detection. The process of thermally generated avalanches is stochastic and can be eliminated by simultaneous measurement of a signal in two or more SiPMs using a coincidence mode. Acquisition system Measurement system is shown in Fig. 1. The system converts pulses of blue light coming from LED to an electric form using SiPM. Applied front-end ASIC (Fig. 2) consists of four channels readout. Each channel can process the data from a single SiPM individually. The signal from SiPM, proportional to the input light, is propagating through ASIC, analog-digital converters and FPGA device respectively. Then the data are saved on PC’s hard drive. Front-end ASIC The designed integrated circuit consists of two crucial elements: preamplifier and peak detector and hold (PDH) [3]. The purpose of preamplifier is to amplify the signal coming from SiPM which afterwards is shaped in Pole[...]
 
FPGA implementation of the Predator-Prey algorithm with adrenalin boost based on a Spiking Neural Network
 
Igor Karoń  Karol Gugała  Janusz Pochmara  Andrzej Rybarczyk  
Spiking neural networks use the element of time in communicating by sending out individual pulses [1]. Spiking neurons can therefore multiplex information into a single stream of signals, like the frequency and amplitude of sound in the auditory system [2, 3]. There are currently a lot of papers about using Spiking Neural Network in robotic [4] but most of them focuses on using neural networks to identify and avoid terrain obstacles or finding the shortest way to signal source: [5-8]. Due to natural network properties, it is an interesting problem to implement some of the biological patterns occurring both in the world of animals and humans. One of these behavioral patterns is a natural instinct to escape threats that have natural origins (e.g. forest fires, floods) and from the world of animals (e.g. escape from predators). In nature, one can see how animals have developed some behaviors that help them survive. The ones with better strategies live through, and pass on their techniques to children [9]. Accurate understanding and mapping of similar behavior allow both better understanding of brain functions and enable use of these schemes as a base for future research projects. Presented paper focus on prey behavior controlled by Spiking Neural Network and modified version or Predator-Prey algorithm. In order to increase the efficiency of the algorithm some behaviors based on the adrenaline have been implemented. As admission to our future work hardware implementation of Spiking Neural Network in FPGA was presented. Spiking neuron models Neurons are elementary information processing units in brain. Structure of biological neuron and synapses has already been well described in many other publications [5, 10, 11]. The following work uses the Leaky Integrate-and-Fire model. LIF is counted as a simplified version of Hodgkin-Huxley model. This model was chosen because: of both low computational complexity, and ability of direct pr[...]
 
FPGA implementation of the two-stage high-speed FIR filter in residue arithmetic
 
Maciej Czyżak  Robert Smyk  
The FIR filter is one of the main algorithms in digital signal processing. The importance of this kind of filter is due to the well-known features as the possibility of attaining linear-phase characteristics and flat-magnitude response along with the sharp fall-off beyond the passband. The FIR filter is the algorithm which requires only additions and multiplications when binary arithmetic is used. Multiplications represent the dominant part of the computational effort in the hardware FIR realization. The FIR filter may have the fixedcoefficient (FC) or variable coefficient (VC) form. The FC form is easier to implement because only multipliers by a constant are needed, which can be realized with the use of distributed arithmetic [1]. The VC form requires general multipliers that may pose a serious difficulty in the high-order filters. The situation is different in the FPGA implementations, where the DSP blocks are available and they can be used for multiplication. One of alternatives with respect to arithmetic may be the Residue Number System (RNS). The RNS [2, 3] is the general non-positional number system that has a wide range of applications in computer science and highspeed digital signal processing. In the latter area the RNS can be the effective means for the fast hardware realization of algorithms where add-multiply operations are the overwhelming part of all calculation, because the RNS permits for high-speed, full-adder level pipelined realization of addition, subtraction and multiplication. In the RNS the addition, subtraction and multiplication can be performed in small integer rings instead of in one large integer ring. This makes that the realization of the RNS computations can be carried out on the set of parallel specialized processors. An example of FIR realization with the use of residue arithmetic was given in [4]. In this work the problem of the two-stage FIR filter implementation with the [...]
 
Generator dokumentacji dla kodów źródłowych środowiska Matlab
 
Bartłomiej Nitoń  Krzysztof Poźniak  Ryszard Romaniuk  
Dobrze udokumentowany kod źródłowy jest prostszy do dalszego wykorzystania, ponieważ zawiera uzupełniające informacje, których nie można zawrzeć bezpośrednio w danym języku programowania. Udokumentowanie pomaga m.in. w prawidłowym wykorzystaniu powstałych kodów oraz w realizacji większych projektów wykonywanych przez grupę programistów. Sprzyja także wykrywaniu błędów w projekcie. Ponadto dokumentacja zawarta w pliku źródłowym staje się jego nierozdzielną częścią. Dokumentowanie programów, choć niesie ze sobą liczne korzyści, stanowi zazwyczaj ostatni etap realizacji projektu, na którego wykonanie albo już nie wystarcza czasu, albo nie przywiązuje się do tego zadania dostatecznej wagi. Wynika to głównie z faktu, że dokumentowanie kodów źródłowych to żmudny i pracochłonny proces. Dlatego w celu jego automatyzacji powstały narzędzia nazwane generatorami dokumentacji dla kodów źródłowych. Generatory dokumentują pliki źródłowe na podstawie komentarzy umieszczonych w kodzie oraz struktury leksykalnej danego języka programowania. Zadaniem programisty jest jedynie zamieszczenie lub modyfikacja treści komentarza blisko wprowadzanego lub modyfikowanego kodu źródłowego. Generator automatycznie sformatuje ten komentarz w czytelną dla użytkownika informację. Formatowanie informacji wyjściowej można generalnie podzielić na: - interaktywne, do której m. in. można mieć dostęp poprzez sieć (np. format HTML), - do druku, np. format Postscript, PDF, RTF itp., - opisujące strukturę kodu, np. format XML. Najczęściej oferowanym przez generatory dokumentacji formatem wyjściowym, często jedynym, jest HTML [1-41]. Inną grupą wyróżniającą się w tym podziale są aplikacje generujące wiele formatów wyjściowych: Ddoc, ROBODoc, fpdoc oraz Doxygen [8, 14, 32, 40]. Współczesne generatory dokumentacji mogą generować wiele formatów wyjściowych w zależności od aktualnego zapotrzebowania użytkownika. Oferują także wiele właściwości dodatkowych, takich jak np[...]
 
Genetic algorithms in gyrator-capacitor filters
 
Andrzej Handkiewicz  Piotr Katarzyński  Szymon Szczęsny  Michał Melosik  Mariusz Naumowicz  
The ability of filtering the analogue signals is the working principle in variety of electronic devices. In general each passive filter is realized with a distinctive topology of elements like inductors, capacitors and resistors that produces a Single Input Single Output (SISO) system. The behaviour of the system may be then described with a transfer function. The most common way to approximate the transfer function of the filter is employing the approximation in Chebyshev or minimax sense [3]. This leads to a class of algorithms that are able to find the transfer function of a filter having a presumed attenuation and ripple amount. Such algorithms were proposed far before then the computer enhanced numerical analysis emerged for good [4]. The next step in such approach is to propose a topology capable of having a generic transfer function (i.e. derived by the properties of the elements and the connections between them) that may be compared to the mathematical model. The parameters for elements of the circuit with a given topology must be then choosen. Obiously it is essential to promote only these parameters that are technically feasible. The other thing is the spread between parameters’ values. Finally it is important to realize a circuit with the smallest number of applicable elements. This work is devoted to parameter fitting of elements forming a typical LC elliptic filters. In our approach the parameter fitting issue employs the genetic algorithm. This issue may be considered as a complementary solution for some papers dealing with digital filter fitting by using genetic algorithms [11]. The distinctive thing is that the genetic algorithm is used for parameter fitting at the design stage of the integrated circuit contrary to some solutions that assume the filter trimming after the filter structure was manufactured [9]. The following sections present the gyratorcapacitor modelling Then the details of our approach are [...]
 
Infrastruktura akceleratorowa w Europie - EuCARD 2011
 
Ryszard Romaniuk  
Konferencja EuCARD 2011 na temat rozwoju europejskiej, badawczej infrastruktury akceleratorowej odbyła się w dniach 10- 13 maja 2011 w Paryżu w siedzibie instytutu IN2P3 będącym częścią francuskiego centrum badawczego CNRS. Udział wzięło ok. 150 osób, wygłoszono 80 referatów. Zakres tematyczny konferencji był następujący: inżynieria materiałowa - nowe materiały do budowy systemów akceleratorowych, budowa infrastruktury badawczej do pomiarów masy i oscylacji neutrin, elektronika mionowa, rozbudowa istniejących akceleratorów, HL-LHC, HE-LHC, budowa nowej infrastruktury o wielkiej skali, eksperymenty nowej fizyki, akceleratory laserowe i plazmowe. Inżynieria materiałowa Technika akceleratorowa używa materiałów, które są umieszczane w pobliżu wiązek cząsteczkowych lub fotonowych o dużych natężeniach. Niektóre materiały są narażane na oddziaływanie wiązki w celach badawczych. Poprawne warunki pracy akceleratora zależą w dużej mierze od niezawodności i sprawności układów kolimacyjnych. Jednym z najbardziej krytycznych elementów są szczęki kolimatora. Materiał powinien charakteryzować się nominalną wartością przewodności w celu poprawy stabilności układów RF, wysoką stabilnością termomechaniczną i odpornością, wytrzymałością na promieniowanie cząsteczkowe, dużą gęstością (duża wartość liczby atomowej Z) w celu poprawy właściwości kolimacyjnych. Stosowane są następując materiały kompozyty metalowo-diamentowe (Cu, Mo, Ag, Cu-Cd) oraz glidcop. W kompozytach metal zapewnia znaczną stabilność termiczną, dobre właściwości mechaniczne oraz wysoką temperaturę topnienia. Faza diamentowa zapewnia wysoką przewodność termiczną. Spiekanie kompozytu odbywa się w temperaturze nie powodującej degradacji fazy diamentowej. Bada się odporność materiałów typu Me-CD na promieniowanie cząsteczkowe i fotonowe. Glidcop jest kompozytem miedziano-aluminiowym. Miedź tworzy matrycę metalową dla ceramicznych cząstek tlenku aluminium. Dodatek tlenku aluminium [...]
 
Integracja wielointerfejsowego toru przetwarzania z układami FPGA
 
Tomasz Janicki  Krzysztof Poźniak  Ryszard Romaniuk  
W pracowni PERG [1] Instytutu Systemów Elektronicznych PW został opracowany węzeł Modularnego Systemu Fotonicznego (MSF) [2]. Węzeł składa się z płyty bazowej Universal Module Controller (UMC, [3]) oraz z dwóch płyt nakładkowych wykonanych w standardzie PMC: Data Acqusition Card (DAC, [4]) oraz Digital Interface Card (DIC, [5]). Konfiguracja sprzętowa węzła została przedstawiona na rys. 1. Płyta bazowa UMC została wykonana w standardzie mechanicznym EURO-6HE o rozmiarze B i jest zgodna elektrycznie ze standardem VME/VXI. Głównymi elementami płyty są interfejsy komunikacyjne (m.in. Ethernet, Opto-trx, USB, czy RS232). Centralnym elementem płyty jest układ FPGA Virtex II Pro [6]. Stanowi on most pomiędzy zewnętrznym sterownikiem lub innym węzłem MSF, a zasobami sprzętowymi węzła. Na płycie UMC zostały osadzone płyty DAC i DIC, poszerzając funkcjonalności węzła o możliwości pomiarowe: ● sygnałów analogowych poprzez wykorzystanie przetworników A/C oraz C/A na płycie DAC, ● zewnętrznymi urządzeniami dzięki komunikacji płyty DIC poprzez GPIB, I2C, RS232 itp. Obie płyty nakładkowe zostały wyposażone w układy FPGA Cyclone [7]. W dalszej części artykułu przedstawiono rozwiązanie uniwersalnej platformy komunikacyjnej węzła w warstwie firmware zaimplementowanej w układach FPGA oraz w warstwie software w formie modularnej aplikacji graficznej użytkownika, a także zamieszczono 2 przykłady sterowania dla akwizycji sygnału z wykorzystaniem przetworników oraz wykorzystania interfejsu GPIB do komunikacji z oscyloskopem cyfrowym. wiednie sekwencje sterujące magistralą. W tym celu opracowano dwa mosty systemowe wykorzystujące komunikację poprzez interfejs RS232 oraz USB. Do komunikacji z płytami DAC i DIC zaimplementowano magistralę wykorzystującą protokół Wishbone [8]. Takie rozwiązanie zapewniło rekonfigurowalność i skalowalność opracowywanych rozwiązań, co znacznie ułatwiło opracowywanie warstwy firmware dla płyt DAC i DIC i u[...]
 
Kształtowanie warstw tlenkowych na powierzchni aluminium metodą plazmowego utleniania elektrochemicznego
 
PIOTR MOSZCZYŃSKI  MARIA TRZASKA  
Aluminium jest metalem o dużym znaczeniu technicznym i stosowane jest w postaci zarówno czystego metalu, jak i wielu jego stopów. Mały ciężar właściwy, który jest 3-krotnie mniejszy od żelaza, dobre przewodności cieplna i elektryczna, korzystne parametry konstrukcyjne oraz łatwość w obróbce wyrobów z aluminium powodują, że jego stopy są stosowane w przemyśle lotniczym, samochodowym, okrętowym, obronnym, elektronicznym, sprzętu gospodarstwa domowego, w telekomunikacji, mikroelektronice, budownictwie, a także w technikach związanych z badaniem kosmosu [1]. Jednak ze względu na małą twardość i niską odporność na zużycie ścierne oraz względnie małą odporność korozyjną często wyroby z materiałów aluminiowych poddawane są dodatkowej obróbce powierzchniowej [2, 3] w celu poprawienia ich właściwości użytkowych. Duże znaczenie w polepszaniu właściwości użytkowych wyrobów z materiałów aluminiowych mają powierzchniowe warstwy tlenkowe wytwarzane metodą elektrochemicznego utleniania anodowego [4-6]. Bardziej efektywną metodą z zakresu inżynierii powierzchni, która jest stosowana do modyfikowania właściwości metali lekkich takich, jak aluminium, tytan czy magnez oraz ich stopów jest anodowe utleniania elektrochemiczne aktywowane plazmą [7-9]. Jest to proces złożony, w którym równolegle z formowaniem się warstwy tlenkowej następuje jej rozpuszczanie oraz wyładowanie elektryczne na powierzchni obrabianego materiału. O dominującej roli tych procesów elementarnych w czasie utleniania elektrochemicznego decydują warunki napięciowe, prądowe oraz skład elektrolitu [10]. Proces można prowadzić w szerokim zakresie potencjałów od 180 do 1200 V i gęstości prądu od 0,5 A/dm2 do nawet 30 A/dm2 zarówno w jedno- jak i wieloskładnikowych roztworach elektrolitu o różnym stężeniu. Tą metodą można wytwarzać warstwy tlenkowe o różnym składzie chemicznym i fazowym oraz o różnej strukturze [11]. W porównaniu z tradycyjnym utlenianiem anodowym wytwarzanie war[...]
 
Low noise and low power multichannel integrated circuit for recording neural spikes and LFP signals
 
Piotr Kmon  Mirosław Zoladz  Paweł Grybos  Robert Szczygiel  
Availability of the modern submicron technologies makes it possible to build small integrated systems covering broad range of the researches. For instance, BioMEMS and ASIC technologies are used to build systems dedicated for exploring the specific areas of human nervous systems. These projects employ micromachined electrodes combined with integrated electronics in order to record or stimulate neural network activity [1, 2]. Such neurobiology experiments are led in order to answer many questions referring to the human nervous system, i.e. how it processes information, how the diseases such as Parkinson or epilepsy originates, how new medicines influence the nervous system, etc. [3, 4]. Many researches also consider employing modern integrated technologies to build system for disabled persons. These systems are called BCI’s (Brain Controlled Interface) and first positive results have been reported [5]. Many of these experiments need to record neurobiological signals, some of them involve only systems with an ability to generate stimulation pulses. Nevertheless, there are many studies which require both recording the neurobiological signals and stimulating the neural networks. Additionally, systems requiring the recording ability also need to deal with different types of neurobiological signals differing from each other with voltage amplitudes and frequency bands [6]. Thus it requires from one to build a system that will give a user ability to change the frequency band and the voltage gain according to the requirements of the experiment. Furthermore, the more signals are recorded simultaneously the better the spatial resolution of the experiment is and the better is the understanding of the observed processes. This involves using multichannel architecture of neurobiological readout systems. Thus one has to also consider the spread from channel to channel of the main parameters of such a multichannel ASIC. Based on our exp[...]
 
Metrologia kinetyki fotoindukowanych zmian absorbancji w nanokompozytach krystalicznych
 
Artur Wojciechowski  Iwan .V. Kityk  
Postęp we współczesnej optoelektronice jest w dużej mierze stymulowany przez wytwarzanie nowych materiałów o pożądanych właściwościach. Jednym z perspektywicznych kierunków zmiany ich właściwości jest możliwość sterowania podstawowych parametrów optoelektronicznych (absorbancji, współczynników odbicia, parametrów nieliniowych) poprzez napromieniowanie diodami laserowymi CW lub laserami pracującymi z energią poniżej wartości przerwy energetycznej [1-3]. Podstawowy mechanizm takich zmian oparty jest na fotopolaryzacji poziomów pułapkowych wewnątrz przerwy energetycznej, która wywołuje oddziaływanie ze strukturą elektronową. Nankompozyty krystaliczne posiadają dużą ilość pułapek w przerwie energetycznej, co pozwala wykorzystywać je jako obiekty modelowe dla przeprowadzenia doświadczeń napromieniowania światłem laserowym. W tej pracy rozpatrzymy dwa podstawowe tryby napromieniowania - ciągły w zakresie przejść między poziomami elektronowymi i impulsowy, który będzie odpowiedzialny za obsadzenie poziomów wibracyjnych. Dzięki obecności drgań siatki (fononów) odpowiednie poziomy pułapkowe stają się trwałymi centrami, które zmieniają podstawowe właściwości optyczne. Głównym problemem technicznym takich zmian jest to, że ich wartości zmiany absorbancji są rzędu kilku cm-1, co utrudnia ich detekcję. Drugi problem, który utrudnia przeprowadzanie metrologii takich pomiarów, polega na wyeliminowaniu niestabilności źródła światła laserowego, co się osiąga przez przeprowadzenie większej ilości pomiarów, i stworzenia niezawodnego, sztywnego zamocowania istotnych elementów stanowiska badawczego (laser, napromieniowany materiał oraz detektor). W naszej pracy zaproponowano układ do pomiaru fotoindukowanej absorbancji w zakresie widm 250…800 nm o rozdzielczości do 0,5 nm, który umożliwia pomiary fotoindukowanej absorbancji w trakcie napromieniowania, jak i po naświetleniu. Czyli układ ten pozwala monitorować zmiany zachodzące w materiałac[...]
 
Mikrokontroler Pic18F4320 w konstrukcji rejestratora temperatury
 
Daniel Kucharski  Ryszard Niedbała  Marcin Wesołowski  Jacek Hauser  
Równoczesny pomiar z wielu czujników danej wielkości fizycznej jest bardzo interesującym narzędziem badawczym. Konieczność jego wykorzystania pojawia się często w czasie prowadzenia badań naukowych. Przykładem może być jednoczesna kontrola temperatury wnętrza pieca elektrycznego, powierzchni elementów grzejnych oraz powierzchni zewnętrznej i wewnętrznej przegród. Służy to dokładnemu sprawdzeniu poprawności wykonania pieca i zabezpieczeniu elementów, narażonych na znaczne temperatury. W celu wykonania pomiarów pewnej wielkości fizycznej, przy większej liczbie punktów pomiarowych, trzeba dysponować odpowiednią liczbą mierników, bądź kartą pomiarową o znacznej liczbie wejść analogowych dla sygnałów uzyskiwanych z czujników analogowych. Dobrej jakości karta pomiarowa, to znaczny koszt dla zespołu badawczego. Dysponowanie nieograniczoną liczbą kart pomiarowych jest oczywiście nieosiągalne w pracy badawczej i dydaktycznej. Z reguły niewielkie jednostki badawcze dysponują jedną, bądź dwiema kartami pomiarowymi, znajdującymi zastosowanie w prowadzonych aktualnie pracach naukowych. Jednoczesna obserwacja zmian wielkości fizycznych (np.: temperatury) i skrupulatne notowanie wyników, przez okres kilku godzin, jest zbyt czasochłonne jak na dzisiejsze wymagania badawcze. Autorzy postanowili przygotować urządzenie pomiarowe własnej konstrukcji, korzystając z łatwo dostępnych w handlu elementów elektronicznych i wskazać na znaczne możliwości tego rozwiązania. Przegląd dostępnej literatury światowej wskazuje na zainteresowanie podobną tematyką. Wielu badaczy konstruuje własne urządzenia pomiarowe. Przykładem może być artykuł Wai Leung Tse [6], w którym zaprezentowano sposób pomiaru wartości PMV (Predicted Mean Vote - wskaźnik opisujący przewidywane odczucie przez człowieka określonych warunków klimatycznych), polegający na pomiarze temperatury powietrza, pomiarze PMV i wartości promieniowania, uzyskiwanych jednocześnie w poszczególnych obsz[...]
 
Modelling and evaluation of bistatic radar systems' capabilities
 
Tadeusz Nowak  Mateusz Mazur  Jarosław Pędziwiatr  Andrzej Nalewaja  Mirosław Sankowski  
With increasing number of aircrafts in space, air traffic safety relies highly on the effectiveness of air surveillance sensors and systems supporting Air Traffic Control/Management (ATC/ATM) operations. Detailed and reliable information about flight parameters of all objects located in the supervised airspace area should be available unconditionally. Surveillance sensors and systems collecting information about flying targets’ parameters can be divided into [1] cooperative (requiring cooperation from the aircraft) and noncooperative (without cooperation from the aircraft). Cooperative methods include: radio communication systems, data transmission systems of aircraft flight parameters (e.g. ADSB - Automatic Dependent Surveillance - Broadcast) and Secondary Surveillance Radars (SSR). An effective and widely used class of surveillance sensors for obtaining information on flying targets in a non-cooperative manner are Primary Surveillance Radars (PSR). In this paper a problem of using bistatic radars in the ATC system is discussed. In simple terms, bistatic radar is a radar where transmitter (and the transmitting antenna) and receiver (and receiving antenna) are geographically separated. The concept of bistatic radar was formulated in the beginning of radar history [1-3] and was originally aimed at solving the problem of crosstalk between the transmitter and receiver by spatially separating transmitting and receiving antennas. On the other hand, monostatic radars are characterised by a simple structure, are easier to utilize and service, and do not require additional technical means to ensure synchronization and communication between the transmitter and the receiver. Therefore, after solving the problem of transmitter and receiver separation in a single device, the monostatic radar technology became dominating, while bistatic radar concept was left unused for many years. The renaissance of bistatic radars in recent years r[...]
 
Możliwości rozszerzania satelitarnych systemów radiokomunikacyjnych w GMDSS
 
Jerzy Czajkowski  
Podczas obrad XV sesji Podkomitetu COMSAR w marcu 2011 r. prowadzono rozważania dotyczące możliwości włączenia nowych radiokomunikacyjnych systemów satelitarnych do systemu GMDSS. Jak wiadomo od samego początku tworzenia systemu GMDSS - satelitarny system radiokomunikacyjny INMARSAT jest jedynym systemem, który oprócz realizacji radiokomunikacji umożliwia wysyłanie sygnałów alarmowych. W związku z tym definicja obszaru morza A3 odnosi się do obszaru kuli ziemskiej, na której możliwe jest prowadzenie komunikacji alarmowej wykorzystując do tego celu satelity geostacjonarne systemu INMARSAT [1]. Obszar ten zawarty jest pomiędzy 70º szerokości geograficznej północnej oraz 70º szerokości geograficznej południowej. Grupa ekspertów IMO w [2, 3] wyraziła poparcie dla rozwoju regionalnych operatorów satelitarnej radiokomunikacji i możliwości ich wprowadzenia do systemu GMDSS. Na bazie poparcia takiej idei - Morski Komitet Bezpieczeństwa (MSC) - IMO zlecił Podkomitetowi COMSAR w ramach prowadzenia prac studyjnych nad opracowaniem modernizacji podsystemów i procedur w systemie GMDSS - również rozpatrzenie możliwości włączenia nowych radiokomunikacyjnych systemów satelitarnych do GMDSS. Jednym z takich systemów radiokomunikacji satelitarnej jest system Thuraya. W dalszej części przedstawiono zasadnicze uwarunkowania i założenia techniczno-operacyjne tego systemu [4]. Aktualnie system Thuraya dysponuje dwoma satelitami operacyjnymi umieszczonymi na orbicie geostacjonarnej i tak: Satelita Thuraya 2 - na pozycji 44º długości geograficznej wschodniej i zapewnia pokrycie radiowe krajom Europy, Afryki i Centralnej oraz Południowej Azji. Satelita Thuraya 3 - na pozycji 98,5º długości geograficznej wschodniej i zapewnia pokrycie radiowe azj[...]
 
Non-linear modeling of resolve time in D-latch circuits
 
Piotr Z. Wieczorek  Leszek J. Opalski  
Metastable behavior of asynchronous digital circuits, such as D-latches, arbiters, is understood here as unavoidable increase of resolve time, when lead-in of data input change over change of clock signal is becoming small [1-3]. Since designers put limits on acceptable resolve time - the metastability phenomenon causes occasional circuit malfunction [3-5]. Mean time between failures (MTBF) is a commonly used measure of average time between such events [2]. There is a considerable practical interest in more accurate characterization of metastability in digital building blocks, since increased accuracy of resolve time and of MTBF estimates for digital systems might reduce design margins [1, 4, 2]. Circuit model of a D-latch circuit Two novel metastability models will be derived for a reference static D-latch circuit, consisting of two inverters and two transmission gates - as shown in Fig. 1. In Phase 1 the high clock (CLK) level makes the data transmission gate (DTG) pass the input data signal (DATA) to the input of the first inverter. In Phase 2 the low clock level turns DTG off, while the feedback transmission gate (FTG) becomes on. Closing the positive feedback loop (at time instance t0) starts regenerative process, which latches DATA input value. The time (tr) needed to resolve the state of the output Q (to logical “0" or “1") depends on the initial condition of the regenerative process, and so indirectly on the lead-in time δ of DATA over CLK signal [1, 6]. Typically the metastable behavior of flip-flops and latches is modeled with a linear circuit model with one capacitance [1, 7]. Fig. 2 depicts such a model with feedback loop (FTG) and data signal (DTG) switches added - to enable modeling the two phases of circuit operation (Fig. 1). Despite the model’s inaccuracy it has been used for over thirty years, either for resolve time prediction or MTBF calculati[...]
 
Parallel simulation of stochastic denritic neurons using NVidia GPUs with CUDA
 
Karol Gugała  Aleksandra Świetlicka  Agata Jurkowlaniec  Andrzej Rybarczyk  
Hodgkin-Huxley model has been experimentally proved over years great usefulness in describing action potentials of neural cells. Model explains initiation and propagation of action potentials in the giant squid axon, which is very useful in case studies on action potentials [9] in biological neural networks. For work in this matter Alan Hodgkin and Andrew Huxley receive Nobel prize in 1963. Main disadvantage of mentioned model is it computational complexity, thus high demand of computational power and time expensive simulations. We consider computational simplification of model by transformation from deterministic to stochastic one. This transformation simplifies model by replacement part of differential equations derived by it with draw from normal distribution. To decrease time of simulations we decide to use parallel computing. High number of simple floating point operations led us to use GPUs in simulation tasks. In this paper we present simple dendritic neurons in tree like structures tissues simulator based on NVidia GPU written in CUDA C. We present transformation from deterministic Hodgkin - Huxley model to stochastic one. Parallelisation of simulation task of dendritic neurons in aforementioned tissues is presented. Also implemented simulator parallel algorithm is discussed. Hodgkin-Huxley kinetic model Deterministic model is given with the set of equations, where the main equation is of the form (1). Other equations are obtained from the Markov kinetic schemes,[...]
 
Selected solutions in printed circuit boards for silicon detector readout integrated circuits testing
 
Krzysztof Kasiński  
This paper presents the solutions used in the test printed circuit boards (PCBs) for the silicon detector readout ASICs including: detector and ASIC footprint, PCB layer order and interconnectivity. The decision hints between integral all-in-one PCB and modular boards are also presented. Despite of the fact that the presented PCBs are rather application-specific, the ideas can also be adapted also to other designs. Selected solutions in test pcbs Integrity and Modularity The basic task of the test PCB for the naked-die ASIC testing is to host the Integrated Circuit itself together with the essentials of its operation which need to be close (bias, decoupling capacitors, etc.). Very often the test PCBs incorporate other functionalities like: on-board power supply (voltage regulators), logic level converters, digital-to-analog converters (DACs), connectors and many others. Having a multi-functional board which minimizes the number of external components is good but has also some drawbacks. First, the larger the PCB is and the larger the components are the more difficult is to modify or repair the wire-bond connections or to replace the ASIC. The bonder has limitations on the maximum size of the PCB it can host. The physical dimensions of the wedge and its accessories require a significant area free of components around the ASIC (Fig. 1a). The integral PCB solution makes also more expensive and time-consuming testing of multiple ASICs since each one requires a new complete PCB. Often it is more convenient to split the PCB into two modules: a main-board and a mezzanine board (Fig. 1b). The second one can host ASIC and the most essential parts (like decoupling capacitors, biasing circuits and shield mounting pads) while all the signals and power supply lines are connected to the main-board through high-density connectors. This solution is very flexible since it allows to test multiple ASICs on the same setup and - if necessary - t[...]
 
Silicon photomultiplier as fluorescence light detector
 
Łukasz Mik  Wojciech Kucewicz  Jerzy Barszcz  Maria Sapor  Sebastian Głąb  
Fluorescence measurements are often used in biochemical and biotechnological analysis where a fluorescent dyes are used as markers. Dye-labelled number of molecules can be estimated by measurement of fluorescent light intensity. Fluorescein and resorufin are dyes commonly used in biology. Both pigments have different wavelength of light for absorption and emission. Their efficiency of absorption and emission in solution with pH factor equal 8 is shown in Fig. 1. Detection of fluorescent light is very complicated, especially for a low number of fluorescence substance molecules. For this purpose many companies usually use vacuum photomultiplier tubes (PMTs). Constant innovations of these sensors have contributed to their adaptation in many fields of science because of their speed and sensitivity for single photons. Their main drawbacks are: sensitivity to the influence of magnetic field and high voltage supply. Silicon photomultipliers (SiPM) which were invented in 1998 didn’t have these defects [2, 3]. They have very small dimensions and low breakdown voltage which provide opportunities for reducing the size of light probes. Silicon photomultiplier consists of an array of avalanche photodiodes operated in Geiger mode. Each photodiode is connected to quenching resistor which is responsible for returning to steady state from avalanche breakdown. Parallel connection all circuits photodiode-resistor causes a current flows through a photomultiplier which is proportional to number of photons. Internal photodiodes circuits and structure of a single pixel of SiPM are presented in Fig. 2. Silicon photomultiplier is not without drawbacks. From the perspective of designers, the most important ones are: thermally generated dark current, cross-talk and after-pulsing. System described in the paper doesn’t eliminate these drawbacks during the acquisition data process. It was taken into account only in a data analysis process. In [...]
 
Software optimisation in high efficiency data acquisition systems
 
Adam Piotrowski  Mariusz Orlikowski  Tomasz Kozak  Paweł Prędki  Grzegorz Jabłoński  Dariusz Makowski  Andrzej Napieralski  
High efficiency is one of the significant requirement for modern data acquisition systems. It is especially important in the case of high speed network applications because network bandwidth approaches microprocessors processing capability. In such a case, CPUs performance degradation becomes a bottleneck which limits the communication rate. Therefore, to obtain efficient system resource utilization issues like: thread synchronization, dynamic memory management and efficient utilization of dynamic data structure must be taken into consideration during software development process. Data flow optimization in the system The system has been designed to work with up to RXN = 8 data streams with Pstream = 0.8 Gbps data throughput each. It gives total of 6.4 Gbps continuous data stream organized in Lframe = 1049 B data frames (1024 B of data + 21 B of header + 4 B of CRC). The frames are collected into the the blocks (N = 256 frames each) which are pushed to the first storage FIFO. Then the data blocks are popped following threads for further processing (Fig. 1). The most restrictive part of the system are the data receiving threads, where each single thread is used to process one input data stream. For the data transfers and the frame size specified above, the thread has to process single frame within: (1) The data processing time includes: - Data buffer preparation for the received frame (Tbuf), - Thread wake up when input data are ready to process (Twakup), T L P s frame frame stream = 8 ⋅ = 9.8μ - CRC data verification (TCRC), - Frames collection into the blocks (Tblock), - Pushing the block into the FIFO for further processing (Tpush) where steps 1-4 are performed for each frame and step 5 is done when the data block contains full set of frames. To allow the real time data processing, the following condition need to be met for the processing time: (2) As further analysis shows, the FIFO access in multithread envi[...]
 
SPICE modelling of PFC controller
 
Krzysztof Górecki  Janusz Zarębski  
Switched mode power supplies commonly used in electronic installations cause changes for worse of the quality of energy in the line (power network). This phenomenon results from the fact that switched mode power supplies absorb a current from the power network in the pulses form. Thus, power supplies can be treated as the nonlinear RLC load [1] of the power network and the power consumed by switched mode power supplies comprises two components: active and reactive powers. The second quality of energy influences disadvantageously the operation of many installations connected to the power network, e.g. electrical machines, causing an additional increment of their winding temperature [2]. One of the most important parameters characterizing the electrical installation influencing the electrical energy quality is the power factor (PF), defined as the quotient of an average apparent power consumed by any electrical installation. To obtain a high value of PF, a switched mode power supply input current should be formed in such a way as to get the sinusoidal course of current synchronized with the course of the power network voltage (line voltage). To get the proper shape of the switched mode power supply input current, special circuits of power factor correction (PFC) are used. Currently, the predominant role is played by active PFC consisting of dc-dc converters and special integrated circuits working as a PFC controller [1]. Today, a lot of concerns offer such circuits, that realize different algorithms of power factor corrections described in [1]. Designing and analysing electronic circuits demand the use of credible models of circuit elements, acceptable by the proper software, e.g. SPICE. There is no information about the models of PFC controllers for SPICE. In this paper, which is an extended version of the paper [7], the authors present a new model of a PFC controller realizing the control of the average value of current. For [...]
 
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing
 
Tomasz Golonek  Piotr Jantos  Damian Grzechca  
Analog fault testing is necessary to control the quality of production and to assure a high reliability of analog systems during the after production stage [1-5]. Unfortunately, especially due to continuous character of signals, tolerance dispersions, noise presence and limited accuracy of practical measurements, analog testing and diagnosing are still difficult problems which need intensive researches. Generally, the published analog faults analysis methods can be classified into a few groups. Considering the time of circuit under test (CUT) simulations, the sorts of techniques with simulation before test (SBT) and with simulations after test (SAT) can be found. The SBT concept is more suitable to a production testing, where time effort minimization is very important. On the other hand, SAT concept can be engaged during the design stage to achieve higher accuracy of fault diagnosis. Depending on the goal of the method, it can be sorted to the specification driven (functional) testing (SDT) [2] or to the element faults driven testing (FDT) [3-5] groups. Functional testing is adequate to control the assumed specifications of a CUT (e.g. cut-off frequencies, amplitude frequency response ripple or phase response value). The approach proposed in this paper can be classified into the SBT, SDT groups and it uses energy of pair responses evaluation for a faulty CUT detection. The next section explains the idea and algorithm of the approach, in section III the most important elements of the evolutionary system are described and section IV presents the faults analysis results for an exemplary CUT. Description of the Method The idea of functional faults detection number of state (typically i=0 for a healthy set of CUTs, i.e. with an accepted levels of specifications). After the differential energy Edf determination, the CUT is classified to a healthy S0 or to a faulty group (Edf outside allowed region). The boundary values of Edf for [...]
 
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
 
Ireneusz Mrozek  Vyacheslav Yarmolik  
Złożone pamięci półprzewodnikowe stanowią integralną część większości współczesnych modułów elektronicznych będących składowymi urządzeń technicznych wykorzystywanych w wielu dziedzinach życia. Zjawiskiem codziennym są dziś urządzenia cyfrowe pełniące rolę systemów o znaczeniu krytycznym. Efektem tego jest ciągły wzrost wymagań dotyczących długotrwałej, niezawodnej i często nieprzerwanej pracy, zarówno pojedynczych układów scalonych, pakietów, urządzeń, jak również całych systemów cyfrowych. Z danych statystycznych wynika, że około 70% wszystkich uszkodzeń w systemach cyfrowych spowodowanych jest uszkodzeniami pamięci. Dlatego już na etapie projektowania należy zadbać o możliwość łatwego i efektywnego ich testowania. Jednym z najczęściej stosowanych rozwiązań jest projektowanie układów z myślą o testowaniu - DFT (ang. Design For Testability). Z uwagi na coraz większą integrację układów cyfrowych, umieszczaniu wielu modułów (w tym pamięci) na jednym podłożu krzemowym, tradycyjne "zewnętrzne" techniki testowania, nie zawsze mogą być stosowane. Rozwiązaniem problemu okazały się bogato opisane w literaturze techniki testów wbudowanych BIST (ang. Built-In-Self Test) i samonaprawy BISR (ang. Built-In-Self Repair) [1-7]. W procesie wbudowanego testowania pamięci szeroko zaakceptowane zostały testy krokowe (ang. march tests) łączące wysoką wykrywalność uszkodzeń z niską złożonością testu rzędu O (N) [8]. Ponadto klasyczne testy krokowe są łatwo konwertowalne do testów transparentnych (ang. transparent march tests) [9-12]. Testy transparentne umożliwiają zachowanie niezmienionej zawartości pamięci w stosunku do zawartości z momentu rozpoczęcia testu. Dzięki temu są one szczególnie predysponowane do realizacji periodycznych testów wykonywanych w czasie normalnej pracy urządzenia [8]. Jednak wraz ze wzrostem rozmiarów pamięci czas niezbędny na jej przetestowanie ulega również wydłużeniu. Problem ten jest szczególnie widoczny w wypadku [...]
 
Two-Channel EPR Spectrometer for quantitative measurements in relation to reference sample
 
Jan Duchiewicz  Andrzej Dobrucki  Andrzej Francik  Tomasz Duchiewicz  Wacław Stachowicz  Tadeusz Oleś  
EPR Spectrometry belongs to analytical methods suitable for the examination of important features of the matter. One can distinguish two basic pathways of measurements with the use of this technique: a. Recording of the EPR signals in order to identify in investigated materials - homogenous or composed of several component - of paramagnetic species which possess unpaired electrons (spins) in the molecule i.e. paramagnetic centers in crystalline samples, free radicals in organic and biological systems, paramagnetic ions of metals incorporated with complex compounds. Each of these species give rise to a specific signal in EPR. Spectral analysis of the shape of recorded EPR signals especially those revealing hyperfine splitting enables to assign the individual EPR spectra to a definite radical, paramagnetic centre or ion. It is also possible from the well shaped EPR records to draw conclusions as to molecular structure of identified radicals or the localization of paramagnetic centre inside crystal lattice. b. Registration of the EPR signal identified or not in order to calculate the number of spins in the sample under stationary or dynamic condition as a function of time, temperature or in the course of chemical process. Quantitative EPR measurements are essential for the determination of the rate of radical decay and transformations as well as by the evaluation of the stability of paramagnetic species used in dosimetry or for the detection of radiation treatment. Quantitative EPR measurements are also needed in basic research by determining of the yields of radiation and photo-chemical processes in which free radicals are involved. Another words the precise EPR quantitative determination of the number of spins are indispensable in many fields of science and technology, making possible not only to demonstrate the presence of paramagnetic species in the investigated sample, but also to control the concentration of paramagnetic s[...]
 
Wytwarzanie i charakteryzacja warstw SiO2 na powierzchni SiC metodą utleniania termicznego
 
Andrzej Kozłowski  Lech Dobrzański  Marcin Pisarek  Małgorzata Możdżonek  
Węglik krzemu (SiC) jest związkiem posiadającym bardzo dobre (korzystne) właściwości fizyczne i elektryczne (duża chemiczna stabilność, wysoka termiczna przewodność i ruchliwość elektronów), które pozwalają wytworzonym elektronicznym elementom pracować w wyższych temperaturach niż elementy wykonane z krzemu lub GaAs. Szeroka przerwa zabroniona SiC (~3 eV) jest przyczyną występowania mniejszych prądów upływu i wyższych napięć przebicia półprzewodnikowych przyrządów elektronicznych. Z powodu tych właściwości SiC jest używany do wytwarzania przyrządów wysokiej mocy i wysokiej częstotliwości. Jest też uważany za idealny materiał dla zastosowań, w których takie atrybuty jak twardość, i sztywność, odporność na utlenianie w podwyższonej temperaturze odgrywa ważną rolę. Jest wiele politypów SiC posiadających różne charakterystyki. Najczęściej stosowanymi politypami są 4H-SiC i 6H-SiC. Wytwarzanie przyrządów elektronicznych zwykle wymaga wzrostu grubej warstwy tlenkowej. Tworzenie warstwy tlenkowej na powierzchni SiC może być prowadzone za pomocą osadzania chemicznego lub utleniania termicznego. W tej pracy koncentrujemy się na procesie utleniania termicznego, które prowadzi do powstania warstwy pasywacyjnej (ochronnej) SiO2 lub izolacji elektrody bramki (przyrządy MOS). Elektryczna jakość interfejsu SiC/SiO2 wytworzonego metodą termicznego utleniania powierzchni SiC zależy od wielu czynników. Między innymi od przygotowania powierzchni przed procesem oraz od środowiska utleniania (w suchym O2 czy parze wodnej), temperatury, typu domieszki w podłożu, koncentracji, orientacji krystalograficznej, politypu SiC, a także od warunków wygrzewania po utlenianiu. Kinetyka utleniania SiC, w porównaniu do Si jest wciąż mało poznana i zrozumiana. Prędkość utleniania SiC jest znacznie niższa niż krzemu, a jakość interfejsu SiC/SiO2 znacznie gorsza niż Si/SiO2. Chemiczne trawienie powierzchni SiC przed procesem utleniania prowadzi do polepszenia wł[...]