Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
ATEST - OCHRONA PRACY
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AURA
AUTO MOTO SERWIS
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
GAZETA CUKROWNICZA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
ODZIEŻ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
Menu
Menu
Menu
Prenumerata
Prenumerata
Publikacje
Publikacje
Drukarnia
Drukarnia
Kolportaż
Kolportaż
Reklama
Reklama
O nas
O nas
ui-button
Twój Koszyk
Twój koszyk jest pusty.
Niezalogowany
Niezalogowany
Zaloguj się
Zarejestruj się
Reset hasła
Baza publikacji
Formularz wyszukiwania
Szukany tekst
Szukaj tylko w tych wybranych czasopismach
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
Wyszukaj
Zobacz przykłady zapytań
title:węgiel
title:"węgiel kamienny"
title:"węgiel kamienny" AND issueYear:2020
authorDesc:"Grzegorz Ojczyk"
authorDesc:"Grzegorz Ojczyk" AND issueYear:2020
abstract:"problemy jakości"
keywords:"węgiel kamienny" AND issueYear:2020
titleAlias:quality
keywordsAlias:"hard coal"
abstractAlias:"food quality"
keywordsAlias:"thermal resistance" AND issueYear:2020
Wynik wyszukiwania
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2017-9
Zależność parametrów quasi-dwuwymiarowego modelu małosygnałowego tranzystora MOS od punktu pracy
Damian Trofimowicz
Wiesław Kordalski
Tomasz Stefański
nr katalogowy: 109641
10.15199/13.2017.9.2
optymalizacja zagadnień wielowymiarowych
metoda Neldera-Meada
identyfikacja wartości parametrów modelu
modele małosygnałowe tranzystora MOS
optymalizacja zagadnień wielowymiarowych
metoda Neldera-Meada
identyfikacja wartości parametrów modelu
modele małosygnałowe tranzystora MOS
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-6
Modele i makromodele tranzystorów MOS mocy dla programu SPICE
JANUSZ ZARĘBSKI
DAMIAN BISEWSKI
nr katalogowy: 44783
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-6
Estymacja parametrówmodelu Danga tranzystora MOS
JANUSZ ZARĘBSKI
DAMIAN BISEWSKI
nr katalogowy: 44781
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-9
Określanie schematów pasmowych struktur MOS na podłożu SiC(4H)
Krzysztof PISKORSKI
Henryk M. PRZEWŁOCKI
Mietek BAKOWSKI
nr katalogowy: 86921
10.12915/pe.2014.09.24
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-11
Badanie rozkładów przestrzennych napięcia wyprostowanych pasm w półprzewodniku UFB w strukturach MOS
KRZYSZTOF PISKORSKI
HENRYK M. PRZEWŁOCKI
nr katalogowy: 39636
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-8
Weryfikacja możliwości globalnej ekstrakcji parametrów tranzystora MOS z użyciem modelu EKV
ŁUKASZ BARTNIK
JAROSŁAW ARABAS
SŁAWOMIR SZOSTAK
DANIEL TOMASZEWSKI
nr katalogowy: 46381
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Enhancement of immunity on MeV electron radiation of MOS structures by means of fluorine implantation from r.f. plasma
Małgorzata Kalisz
Robert Mroczyński
nr katalogowy: 70988
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-2
Nowa struktura tranzystora unipolarnego mocy SVMOS
ŁUKASZ RUTA
ZBIGNIEW LISIK
ARTUR KALINOWSKI
JACEK PODGÓRSKI
nr katalogowy: 50192
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-4
Badanie wpływu wybranych czynników na parametry cieplne tranzystorów mocy MOS
Krzysztof GÓRECKI
Janusz ZARĘBSKI
nr katalogowy: 43944
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-10
Nowe aspekty zjawisk podłożowych w tranzystorach SOI-MOS
G. Janczyk
nr katalogowy: 1220
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-9
Modelowanie stałoprądowych charakterystyk tranzystorów SiC-MOS mocy w programie SPICE
Damian BISEWSKI
Emilia LUBICZ-KROŚNICKA
nr katalogowy: 145282
10.15199/48.2023.09.60
modelowanie
MOSFET
węglik krzemu
modelling
MOSFET
silicon carbide
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-11
Obszerna klasa obwodów zawierających tranzystory MOS z krótkim kanałem
MICHAŁ TADEUSIEWICZ
STANISŁAW HAŁGAS
nr katalogowy: 1242
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2016-7
Model teoretyczny tunelowego tranzystora polowego
Piotr Wiśniewski
Bogdan Majkusiak
nr katalogowy: 99873
10.15199/13.2016.7.9
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-10
Opracowanie modelu rozkładów parametrów elektrycznych struktury MOS w płaszczyźnie powierzchni okrągłej bramki tej struktury
Krzysztof PISKORSKI
Henryk M. PRZEWŁOCKI
nr katalogowy: 80143
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-2-3
Analiza wpływu parametrów MOS kanału SiGe na charakterystyki C-U kondensatora
L. Łukasiak. A. Jakubowski
nr katalogowy: 9008
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9
Wykorzystanie metody Neldera-Meada do identyfikacji wartości parametrów niequasi-statycznego modelu małosygnałowego tranzystora MOS
Damian TROFIMOWICZ
Wiesław KORDALSKI
nr katalogowy: 93274
10.15199/48.2015.09.50
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-5
Książki
nr katalogowy: 35110
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-11a
Wpływ modelu tranzystora MOS na charakterystyki przetwornicy BOOST w stanie ustalonym
Krzysztof GÓRECKI
Janusz ZARĘBSKI
nr katalogowy: 55713
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
Characterization of mos structures with ultrathin insulator layer by means of a theoretical model
BOGDAN MAJKUSIAK
nr katalogowy: 58380
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-10
Wpływ zjawiska samonagrzewania na charakterystyki statyczne tranzystorów TrenchMOS
KRZYSZTOF GÓRECKI
JANUSZ ZARĘBSKI
nr katalogowy: 39275
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-7
Modelowanie tranzystorów SiC-MOS
JANUSZ ZARĘBSKI
DAMIAN BISEWSKI
nr katalogowy: 45506
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2
Modelowanie struktur MOS z podwójną barierą potencjału
ANDRZEJ MAZURAK
JAKUB WALCZAK
BOGDAN. MAJKUSIAK
nr katalogowy: 58267
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-9
Materiały o dużej stałej dielektrycznej w tranzystorach MOS
ANDRZEJ MAZURAK
JAKUB WALCZAK
BOGDAN MAJKUSIAK
nr katalogowy: 37988
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-12
Ocena dokładności firmowych modeli tranzystorów SiC-MOS
Damian BISEWSKI
Emilia LUBICZ-KROŚNICKA
nr katalogowy: 134785
10.15199/48.2021.12.39
modelowanie
MOSFET
SiC
SPICE
modelling
MOSFET
SiC
SPICE
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-3
Analiza układu CMOS oscylatora i sieci synchronizowanych oscylatorów do segmentacji obrazów binarnych
Jacek KOWALSKI
nr katalogowy: 136551
10.15199/48.2022.03.01
sieć synchronizowanych oscylatorów
równoległa segmentacja obrazów
etykietowanie
implementacja VLSI CMOS.
synchronized oscillator network
parallel image segmentation
labeling
VLSI CMOS implementation.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-3
Analiza układu CMOS oscylatora i sieci synchronizowanych oscylatorów do segmentacji obrazów binarnych
Jacek KOWALSKI
nr katalogowy: 136551
10.15199/48.2022.03.01
sieć synchronizowanych oscylatorów
równoległa segmentacja obrazów
etykietowanie
implementacja VLSI CMOS.
synchronized oscillator network
parallel image segmentation
labeling
VLSI CMOS implementation.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-3
Analiza układu CMOS oscylatora i sieci synchronizowanych oscylatorów do segmentacji obrazów binarnych
Jacek KOWALSKI
nr katalogowy: 136551
10.15199/48.2022.03.01
sieć synchronizowanych oscylatorów
równoległa segmentacja obrazów
etykietowanie
implementacja VLSI CMOS.
synchronized oscillator network
parallel image segmentation
labeling
VLSI CMOS implementation.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-3
Analiza układu CMOS oscylatora i sieci synchronizowanych oscylatorów do segmentacji obrazów binarnych
Jacek KOWALSKI
nr katalogowy: 136551
10.15199/48.2022.03.01
sieć synchronizowanych oscylatorów
równoległa segmentacja obrazów
etykietowanie
implementacja VLSI CMOS.
synchronized oscillator network
parallel image segmentation
labeling
VLSI CMOS implementation.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-3
Analiza układu CMOS oscylatora i sieci synchronizowanych oscylatorów do segmentacji obrazów binarnych
Jacek KOWALSKI
nr katalogowy: 136551
10.15199/48.2022.03.01
sieć synchronizowanych oscylatorów
równoległa segmentacja obrazów
etykietowanie
implementacja VLSI CMOS.
synchronized oscillator network
parallel image segmentation
labeling
VLSI CMOS implementation.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-12
Finding multiple DC operating points of simulated submicrometer technology MOS circuits
Michał Tadeusiewicz
Marek Ossowski
nr katalogowy: 81440
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-10
Wpływ rozrzutu technologicznego parametrów tranzystorów MOS mocy na dokładność pomiaru ich rezystancji termicznej
Krzysztof POSOBKIEWICZ
Krzysztof GÓRECKI
nr katalogowy: 150765
10.15199/48.2024.10.39
tranzystory MOS mocy
parametry cieplne
pomiary
rezystancja termiczna
charakterystyki termometryczne
błąd pomiaru
power MOSFETs
thermal parameters
measurements
thermal resistance
thermometric characteristics
measurement error
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2007-II
The magnetic sensitive MOS structures
George CARUNTU
Cornel PANAIT
nr katalogowy: 30402
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-9
Określanie schematów pasmowych struktur MOS o różnej metalizacji bramki na podłożu 3C-SiC
KRZYSZTOF PISKORSKI
HENRYK M. PRZEWŁOCKI
ROMAIN ESTEVE
MIETEK BAKOWSKI
nr katalogowy: 62685
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
Thermal stability of SiC MOS transistors
WITOLD J. STEPOWICZ
nr katalogowy: 58376
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-3
Analiza wpływu samonagrzewania na charakterystyki liniowego stabilizatora napięcia z tranzystorem MOS
KRZYSZTOF GÓRECKI
JANUSZ ZARĘBSKI
nr katalogowy: 41995
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-10
Elipsometryczna metoda określania naprężeń w strukturach MOS
Witold Rzodkiewicz
nr katalogowy: 63251
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-9
Wpływ materiału bramki, metody wytwarzania SiO2 i efektu krawędzi bramki na rozkłady gęstości pułapek powierzchniowych w kondensatorach MOS na 3C-SiC
TOMASZ GUTT
TOMASZ MAŁACHOWSKI
HENRYK M. PRZEWŁOCKI
OLOF ENGSTROM
ROMAIN ESTEVE
MIETEK BAKOWSKI
nr katalogowy: 62686
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-5
Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors
Andrzej KUCZYŃSKI
nr katalogowy: 59959
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2
Model prądu drenu i pojemności w dwubramkowym tranzystorze MOS o krótkim kanale
ANNA SAWICKA
LIDIA ŁUKASIAK
ANDRZEJ JAKUBOWSKI
DANIEL TOMASZEWSKI
nr katalogowy: 58274
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-10
Metody określania napięcia wyprostowanych pasm w półprzewodniku w strukturze MOS
KRZYSZTOF PISKORSKI
HENRYK M. PRZEWŁOCKI
nr katalogowy: 54971
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-3b
Minimum Operating Supply Voltage of MCML Circuits
Jianping HU
Haiyan NI
nr katalogowy: 75257
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Badania właściwości struktur MOS na SiC dla wybranych rozwiązań technologiczno-konstrukcyjnych
Tomasz Gutt
Krzysztof Piskorski
Henryk M. Przewłocki
Paweł Borowicz
nr katalogowy: 70975
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-7
Tranzystory mocy typu MOS z węglika krzemu
J. Zarębski
nr katalogowy: 1068
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2014-9
A quasi-2D small-signal MOSFET model - main results
Wiesław Kordalski
nr katalogowy: 86751
10.15199/ELE-2014-131
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-2-3
Badanie wpływu temperatury na parametry elektryczne struktur MOS
M. Lesko
H. M. Przewłocki
nr katalogowy: 9007
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-10
Rozwój konstrukcji i technologii jonoczułych tranzystorów polowych
B. Jaroszewicz
D. Tomaszewski
A. Kociubiński
M. Nikodem
P. Grabieć
nr katalogowy: 1221
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-10
Model wpływu rozrzutu długości bramek tranzystorów MOS na równomierność rozprowadzania sygnału zegara w buforowanych H-drzewach
D. Kasprowicz
nr katalogowy: 9143
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-2-3
Modelowanie charakterystyk I-U tranzystora MOS na węgliku krzemu 4H-SIC oraz 6H-SiC
J. Stęszewski
A. Jakubowski
nr katalogowy: 8989
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2006-11
Opracowanie fotoelektrycznej metody badania rozkładu napięcia wyprostowanych pasm w płaszczyźnie powierzchni bramki struktur MOS
K. Piskorski
H.M. Przewłocki
nr katalogowy: 21479
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-10
Wytwarzanie ultracienkich warstw SiO2 za pomocą niskotemperaturowego utleniania w plazmie w. cz.
T. Bieniek
R. B. Beck
A. Jakubowski
A. Kudła
nr katalogowy: 1235
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-10
Wykorzystanie metody Taguchi'ego do optymalizacji procesu ultra-płytkiej implantacji fluoru i azotu z plazmy w. cz.
Małgorzata Kalisz
Robert Mroczyński
nr katalogowy: 79977
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2
Model naprężonego tranzystora MOS
ZENON GNIAZDOWSKI
nr katalogowy: 58290
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2016-8
Kompleksowa charakteryzacja nowoczesnych struktur nanoelektronicznych przy użyciu Uniwersalnego Systemu Pomiarów Fotoelektrycznych
K. Piskorski
M. Niemiec
L. Borowicz
H. M. Przewłocki
nr katalogowy: 100440
10.15199/13.2016.8.9
MATERIAŁY BUDOWLANE 2008-11
Nasuwanie wzdłużne - wpływ podpór pośrednich na sprężenie centryczne i nie tylko
Andrzej Berger
Wojciech Radomski
nr katalogowy: 39418
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-9
Modelowanie wybranych efektów krótkiego kanału w dwubramkowym tranzystorze MOS
ANNA SAWICKA
LIDIA ŁUKASIAK
ANDRZEJ JAKUBOWSKI
nr katalogowy: 37993
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7b
Modelling and Near-Threshold Computing of Power-Gating Adiabatic Logic Circuits
Jianping HU
Qi CHEN
nr katalogowy: 69341
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-9
Badanie wpływu naprężeń mechanicznych na wartość napięcia wyprostowanych pasm w półprzewodniku w strukturze MOS
Krzysztof Piskorski
nr katalogowy: 93957
10.15199/13.2015.9.14
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2007-4
O pomiarach jakości sieci IP
Sławomir KUKLIŃSKI
Michał ŁOPACKI
nr katalogowy: 25486
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-3
Wyładowania elektrostatyczne w układach scalonych: modele ESD i powodowane zniszczenia
BARTŁOMIEJ PÓŁTORAK
KRZYSZTOF DOMAŃSKI
JACEK SZATKOWSKI
WACŁAW BAŁA
nr katalogowy: 24688
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1
Opracowanie fotoelektrycznej metody LPT pomiaru napięcia wyprostowanych pasm UFB w półprzewodniku
KRZYSZTOF PISKORSKI
HENRYK M. PRZEWŁOCKI
nr katalogowy: 32595
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-11
Badania właściwości fizycznych warstwy SiO2 pod bramką aluminiową
LECH BOROWICZ
WITOLD RZODKIEWICZ
MIROSŁAW KULIK
dr PAWEŁ BOROWICZ
nr katalogowy: 39635
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-9
Charakteryzacja tranzystorów typu FinFET na podstawie analizy statycznych charakterystyk prądowo-napięciowych
JAN GIBKI
LIDIA ŁUKASIAK
ANDRZEJ JAKUBOWSKI
nr katalogowy: 37974
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6
Oscylator pierścieniowy CMOS jako układ detekcji odkształcenia nanoczułych mikrosond krzemowych
PIOTR DUMANIA
JAN ŁYSKO
HELENA KŁOS
MIROSŁAW GRODNER
KARINA SKWARA
DARIUSZ SZMIGIEL
nr katalogowy: 35676
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2
Modelowanie napięcia progowego w niedomieszkowanych dwubramkowych strukturach MOS
PAWEŁ SAŁEK
LIDIA ŁUKASIAK ANDRZEJ JAKUBOWSKI
nr katalogowy: 58262
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2007-II
The magnetic microsensors response
Cornel PANAIT
George CĂRUNTU
nr katalogowy: 30401
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-9
Technologia i zastosowanie warstw tlenko-azotków krzemu wytwarzanych metodą PECVD do struktur pamięciowych z podwójną warstwą dielektryczną (SiOxNy-HfO2)
ROBERT MROCZYŃSKI
ROMUALD B. BECK
nr katalogowy: 37995
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2019-7
KODOWANIE SZEROKOPASMOWEGO SYGNAŁU MOWY Z MAŁYM OPÓŹNIENIEM I ZMIENNĄ PRZEPŁYWNOŚCIĄ BINARNĄ
Przemysław Dymarski
nr katalogowy: 121128
10.15199/59.2019.7.22
CELP
LD-CELP
MOS
zmienna przepływność binarna.
CELP
LD-CELP
MOS
VBR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1
Characterization of MOS structures with multilayer high-k insulator
TOMASZ GUTT
nr katalogowy: 32594
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-9
Modelowanie prądu pompowania ładunku w dwubramkowych strukturach MOS z bardzo cienką warstwą aktywną
LIDIA ŁUKASIAK
DANIEL TOMASZEWSKI
ANNA SAWICKA
GRZEGORZ GŁUSZKO
MARCIN IWANOWICZ
ANDRZEJ JAKUBOWSKI
nr katalogowy: 37987
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-9
Zastosowanie metody MPAS do określania przekrojów czynnych pułapek powierzchniowych w węgliku krzemu
Tomasz Gutt
Henryk M. Przewłocki
nr katalogowy: 79295
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
Modeling the charge trapping effect in high-K gate stacks on the tunnel current
ANDRZEJ MAZURAK
BOGDAN MAJKUSIAK
nr katalogowy: 58381
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-2
Wpływ procesów utleniania i wygrzewania w atmosferze zawieraja˛cej fosfor lub azot na jakos´c´ mie˛dzypowierzchni dielektryk/półprzewodnik w strukturze MOS Ti/SiO2/4H-SiC
Maciej Kamiński
Ernest Brzozowski
Andrzej Taube
Oskar Sadowski
Krystian Król
Marek Guziewicz
nr katalogowy: 130187
SiC
stany powierzchniowe
dielektryk bramkowy
mi˛edzypowierzchnia dielektryk/półprzewodnik
POCl3
NO
SiC
surface states
gate dielectric
semiconductor/dielectric interface
POCl3
NO
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2022-8
Początki mikroprocesorów – od tajnych zastosowań wojskowych do rewolucji informatycznej
Jacek Nowicki
nr katalogowy: 138842
10.15199/74.2022.8.3
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2022-8
Początki mikroprocesorów – od tajnych zastosowań wojskowych do rewolucji informatycznej
Jacek Nowicki
nr katalogowy: 138842
10.15199/74.2022.8.3
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2022-8
Początki mikroprocesorów – od tajnych zastosowań wojskowych do rewolucji informatycznej
Jacek Nowicki
nr katalogowy: 138842
10.15199/74.2022.8.3
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-9
Wpływ procesu wygrzewania wysokotemperaturowego na parametry elektryczne struktury MOS Al/SiO2/n-4H-SiC (0001)
MAŁGORZATA KALISZ
KRYSTIAN KRÓL
MARIUSZ SOCHACKI
JAN SZMIDT
nr katalogowy: 62688
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-9
Wpływ obudowy urządzenia elektronicznego na przejściową impedancję termiczną tranzystora mocy MOS
Krzysztof Górecki
Janusz Zarębski
nr katalogowy: 79326
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-10
System zarządzania laboratorium jako narzędzie archiwizacji i oceny jakościowej wyników pomiarów
TOMASZ MAŁACHOWSKI
WITOLD RZODKIEWICZ
nr katalogowy: 55004
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-9
Wpływ mozaiki płytki drukowanej na parametry cieplne tranzystorów MOS mocy w obudowach D2PAC
Krzysztof GÓRECKI
Krzysztof POSOBKIEWICZ
nr katalogowy: 145262
10.15199/48.2023.09.40
parametry cieplne
tranzystory MOS mocy
samonagrzewanie
wzajemne sprzężenia cieplne
thermal parameters
power MOSFETs
self-heating
mutual thermal couplings
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-11
Różnicowa bramka prądowa dla zastosowań układów kryptograficznych
Krzysztof GOŁOFIT
nr katalogowy: 48170
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2022-8
Początki mikroprocesorów – od tajnych zastosowań wojskowych do rewolucji informatycznej
Jacek Nowicki
nr katalogowy: 138842
10.15199/74.2022.8.3
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-5
Analysis of CMOS circuits having multiple DC operating points
Stanisław HAŁGAS
Michał TADEUSIEWICZ
nr katalogowy: 59946
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-2a
Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current
Andrzej KUCZYŃSKI
Marek OSSOWSKI
nr katalogowy: 74447
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-11a
Mikrokontroler w roli sterownika PWM przetwornicy impulsowej
Jacek CHĘCIŃSKI
Zdzisław FILUS
nr katalogowy: 55720
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-11
Analiza płytkich stanów pułapkowych w strukturach MOS Al/ZrO2/SiO2/4H-SiC metodą TSC
Krystian Król
Mariusz Sochacki
Michał Waśkiewicz
Jan Szmidt
nr katalogowy: 95200
10.15199/13.2015.11.13
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-4
Zależność parametrów modelu przejściowej impedancji termicznej tranzystora MOS mocy od konstrukcji układu chłodzenia
Damian BISEWSKI
Krzysztof GÓRECKI
Janusz ZARĘBSKI
nr katalogowy: 91022
10.15199/48.2015.04.31
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7b
QoE Optimized Resource Allocation in Multiuser OFDM Systems
Feng CHEN
Xiaowei QIN
Guo WEI
nr katalogowy: 69353
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-9
Kompleksowa charakteryzacja struktur elektronicznych na podłożach SiC metodami fotoelektrycznymi, elektrycznymi i optycznymi
HENRYK M. PRZEWŁOCKI
TOMASZ GUTT
KRZYSZTOF PISKORSKI
WITOLD RZODKIEWICZ
PAWEŁ BOROWICZ
ROMAIN ESTEVE
MIETEK BAKOWSKI
nr katalogowy: 62667
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-6
An Improvement of CMOS Voltage Reference
Wachirapunya PUNYAWONG
Worawat SA-NGIAMVIBOOL
Apinan AURASOPON
Saweth HONGPRASIT
nr katalogowy: 77560
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-3b
Image and video quality assessment with the use of various verification databases
Krzysztof OKARMA
nr katalogowy: 75333
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-4
A novel voltage-to-voltage logarithmic converter with high accuracy
Ahmad GHANAAtTIAN-JAHROMI
Adib ABRISHAMIFAR
Ali MEDI
nr katalogowy: 59150
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-11a
An influence of current-leakage in analog memory on training Kohonen neural network implemented on silicon
Rafał DŁUGOSZ
Tomasz TALAŚKA
Ryszard WOJTYNA
nr katalogowy: 55714
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9
Zastosowanie podłoży DBC w praktycznych realizacjach układów elektroniki dużej mocy
Wojciech GRZESIAK
Piotr MAĆKÓW
Tomasz MAJ
Jan KULAWIK
Beata SYNKIEWICZ
Krzysztof WITEK
nr katalogowy: 93237
10.15199/48.2015.09.13
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-12
Multiple soft fault diagnosis of analog circuits using restart homotopy method
Michał Tadeusiewicz
Stanisław Hałgas
nr katalogowy: 81439
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-4a
Design of Bandgap Core and Startup Circuits for All CMOS Bandgap Voltage Reference
Saweth HONGPRASIT
Worawat SA-NGIAMVIBOOL
Apinan AURASOPON
nr katalogowy: 67674
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-3b
ASIC Design Implementation of Memory Efficient Infinite Impulse Response UWB Equalizer
Muhammad Faisal SIDDIQI
Muhammad Kamran BHATTI
Sana SHUJA
Shaista JABEEN
Saeed AHMAD
Adeel IQBAL
Ghufran SHAFIQ
Ahmad Naseem ALVI
Azhar YASEEN
Abid Ali MINHAS
Shahzad A. MALIK
Shahid A. KHAN
Raja Ali RIAZ
nr katalogowy: 66655
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-2
IDEALNY PRZEŁĄCZNIK Z SiC JFET WG POWER ELECTRONIC NEWS DECEMBER 2022
nr katalogowy: 142119
PRZEGLĄD MECHANICZNY 2018-7-8
Dobór parametrów procesu skrawania dla wybranych modeli wytwarzanych z tworzyw sztucznych
MARIUSZ OLEKSY
MAŁGORZATA ZABORNIAK
LESŁAW KOŁCZ
nr katalogowy: 115415
10.15199/148.2018.7-8.9
obróbka skrawaniem
tworzywa polimerowe
machining
polymeric materials
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-12
Efficient neural amplifiers using MOS and MIM capacitors in 180 nm CMOS process (Wzmacniacze sygnałów neurobiologicznych o bardzo małej powierzchni wykorzystujące pojemności MOS i MIM wykonane w technologii CMOS 180 nm)
Piotr Kmon
Paweł Grybos
Robert Szczygieł
Miros Ław Żołądź
nr katalogowy: 73353
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych
Damian Bisewski
nr katalogowy: 139281
10.15199/48.2022.09.21
algorytm genetyczny
optymalizacja
modelowanie
MOSFET.
genetic algorithm
optimalization
modelling
MOSFET
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych
Damian Bisewski
nr katalogowy: 139281
10.15199/48.2022.09.21
algorytm genetyczny
optymalizacja
modelowanie
MOSFET.
genetic algorithm
optimalization
modelling
MOSFET
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych
Damian Bisewski
nr katalogowy: 139281
10.15199/48.2022.09.21
algorytm genetyczny
optymalizacja
modelowanie
MOSFET.
genetic algorithm
optimalization
modelling
MOSFET
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2024-4
MIARA PODOBIEŃSTWA STRUKTURALNEGO DLA WIZJI WSZECHOGARNIAJĄCEJ
Jakub Stankowski
Weronika Nowak
Tomasz Grajek
Adrian Dziembowski
nr katalogowy: 150612
10.15199/59.2024.4.73
wizja wszechogarniająca
ocena jakości wizji
obiektywny pomiar jakości
immersive video
video quality evaluation
ob- jective quality assessment
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2017-6
WYRAZISTOŚĆ LOGATOMOWA JAKO MIARA JAKOŚCI MOWY KODOWANEJ W FORMACIE MP3
Stefan Brachmański
nr katalogowy: 106341
10.15199/59.2017.6.41
kodowanie MP3
ocena jakości mowy
wyrazistość logatomowa
assessment of speech quality MP3 coding
logatom intelligibility
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Symulacje i modelowanie zaawansowanych struktur tranzystorów HEMT AlGaN/GaN
Andrzej Taube
Mariusz Sochacki
Jan Szmidt
nr katalogowy: 70973
OPAKOWANIE 2016-8
Badania wpływu warunków środowiska na proces degradacji opakowań z tworzyw sztucznych - analiza zmian barwy i jakości powierzchni
KONRAD NOWAKOWSKI
MAŁGORZATA GROCHOCKA
GRZEGORZ GANCZEWSKI
KRZYSZTOF WÓJCIK
nr katalogowy: 100431
10.15199/42.2016.8.3
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2014-10
Porównanie charakterystyk statycznych bipolarnych tranzystorów mocy wykonanych z krzemu i węglika krzemu
JANUSZ ZARĘBSKI
DAMIAN BISEWSKI
JOANNA PATRZYK
nr katalogowy: 87375
10.15199/ELE-2014-184
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Symulacje i modelowanie tranzystorów HEMT AlGaN/GaN - wpływ przewodności cieplnej podłoża
Andrzej Taube
Mariusz Sochacki
Jan Szmidt
nr katalogowy: 70972
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-10
Wpływ doboru rdzenia dławika na nieizotermiczne charakterystyki przetwornicy buck
Krzysztof Górecki
Kalina Detka
nr katalogowy: 63243
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA 2011-4
Pamięci nieulotne
nr katalogowy: 61344
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-7
Wzmacniacz pseudoróżnicowy CMOS, sterowany z elektrod podłoża o ulepszonej liniowości
Tomasz KULEJ
nr katalogowy: 60811
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-9
Krytyczne parametry konstrukcyjno-technologiczne i ich wpływ na parametry elektryczne tranzystorów mocy MOSFET SiC
Mariusz Sochacki
Norbert Kwietniewski
Andrzej Taube
Krystian Król
Jan Szmidt 
nr katalogowy: 79301
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-9
Wpływ parametrów źródła sygnału sterującego na właściwości przetwornicy Buck
KRZYSZTOF GÓRECKI
KALINA DETKA
nr katalogowy: 54295
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-3
VDIBA-based sinusoidal quadrature oscillator
Orapin CHANNUMSIN
Worapong TANGSRIRAT
nr katalogowy: 104341
10.15199/48.2017.03.55
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2010-4
Badanie jakości sygnałów i usług
nr katalogowy: 51306
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Zależność parametrów elektrycznych struktury MOS wykonanej na podłożu SiC od wielkości metalowej bramki
Krzysztof Piskorski
Henryk M. Przewłocki
Romain Esteve
Mietek Bakowski
nr katalogowy: 70976
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Wpływ procesu wygrzewania w atmosferze O2 i N2O na właściwości warstwy przejściowej dielektryk/półprzewodnik w kondensatorach MOS Al/SiO2/4H-SiC
Krystian Król
Małgorzata Kalisz
Mariusz Sochacki
Jan Szmidt
nr katalogowy: 70967
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-8
Wytwarzanie nanoigieł z krzemku palladu
Ewa Kowalska
Elżbieta Czerwosz
Joanna Radomska
Halina Wronka
nr katalogowy: 70164
CHŁODNICTWO 2012-1-2
Sieci neuronowe jako alternatywny sposób uzyskania modelu obliczeniowego
Radosław Kołoła
Ewa Klugmann-Radziemska
nr katalogowy: 66003
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-12
Wytwarzanie i charakteryzacja warstw SiO2 na powierzchni SiC metodą utleniania termicznego
Andrzej Kozłowski
Lech Dobrzański
Marcin Pisarek
Małgorzata Możdżonek
nr katalogowy: 64792
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-4b
Pomiary termiczne dla weryfikacji wartości strat łączeniowych w półprzewodnikowych przyrządach mocy
Mieczysław NOWAK
Piotr GRZEJSZCZAK
Mariusz ZDANOWSKI
Roman BARLIK
nr katalogowy: 67712
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-8
Niskonapięciowy filtr bikwadratowy CMOS, pracujący w trybie prądowym na zakres małych częstotliwości
Tomasz KULEJ
nr katalogowy: 61651
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2
Ultra-płytka implantacja fluoru z plazmy w.cz. jako metoda poprawy właściwości elektro-fizycznych struktur MIS z dielektrykami bramkowymi wytwarzanymi metodą PECVD
MAŁGORZATA KALISZ
ROBERT MROCZYŃSKI
ROMUALD B. BECK
nr katalogowy: 58263
PRZEGLĄD GEODEZYJNY 2020-4
XXXIV Ogólnopolskie Mistrzostwa Narciarskie Geodetów 2020, czyli zakopianką na południe
nr katalogowy: 125762
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-3
An Integrated Analog Demultiplexer for Spatial Multiplexing of Local Elements Scheme Using MOS Transistors
Carlos E. CAPOVILLA
Humberto X. ARAUJO
and Luiz C. KRETLY
nr katalogowy: 83047
10.12915/pe.2014.03.024
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2014-7
Czujnik wodoru do zastosowań w podwyższonej temperaturze i wilgotności
Elżbieta Czerwosz
Anna Kamińska
Ewa Kowalska
Mirosław Kozłowski
Sławomir Krawczyk
Joanna Radomska
Halina Wronka
nr katalogowy: 85796
10.15199/ELE-2014-080
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-2a
Video summarization using color features and efficient adaptive threshold technique
Stevica CVETKOVIC
Marko JELENKOVIC
Sasa V. NIKOLIC
nr katalogowy: 74441
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-11a
Front-End electronics for Silicon Photomultiplier detectors implemented in CMOS VLSI integrated circuit
Rafał MOS
Jerzy BARSZCZ
Marcin JASTRZĄB
Wojciech KUCEWICZ
Janusz MŁYNARCZYK
Elżbieta RAUS
Maria SAPOR
nr katalogowy: 55700
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-1
Nanokompozytowe warstwy C-Pd do zastosowania w detekcji wodoru
Elżbieta Czerwosz
Anna Kamińska
Ewa Kowalska
Sławomir Krawczyk
Mirosław Kozłowski
Piotr Dłużewski
nr katalogowy: 89167
10.15199/13.2015.1.3
PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2010-4
Badania odporności korozyjnej stopów metali stosowanych w protetyce stomatologicznej za pomocą metod ICP-TOF-MS, TOF-SIMS i AAS
MAŁGORZATA I. SZYNKOWSKA
JERZY SOKOŁOWSKI
JACEK ROGOWSKI
ALEKSANDRA NAGRODZKAa
EWA LEŚNIEWSKA
JADWIGA ALBIŃSKA
ALEKSANDRA PAWLACZYK
IZABELA SAMLIK-FRONC
nr katalogowy: 51378
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-12
DC measurements method of the thermal resistance of power MOSFETs (Stałoprądowa metoda pomiaru rezystancji termicznej tranzystorów mocy MOS)
Krzysztof Górecki
Janusz Zarębski
nr katalogowy: 73350
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-2
Using large signal S-parameters to design low power class-B and class-C CMOS cross-coupled voltage controlled oscillators
Grzegorz Szczepkowski
Ronan Farrell
nr katalogowy: 74683
PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2018-5
Stabilność mikrobiologiczna i energetyczna biomasy przeznaczonej do termochemicznej konwersji w procesie zgazowania
Małgorzata Hawrot-Paw
Adam Koniuszy
Damian Pizoń
Andrzej Karbowy
nr katalogowy: 113854
10.15199/62.2018.5.9
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-8
Zastosowanie dielektryków high-k w przyrządach mocy wytwarzanych w technologii węglika krzemu
Krystian KRÓL
Mariusz SOCHACKI
Norbert KWIETNIEWSKI
Sylwia GIERAŁTOWSKA
Łukasz WACHNICKI
nr katalogowy: 108540
10.15199/48.2017.08.28
high-k
węglik krzemu
SiC
MOSFET
przyrządy mocy
high-k
silicon carbide
SiC
MOSFET
power devices
PRZEGLĄD MECHANICZNY 2018-9
Zastosowanie sztucznych sieci neuronowych do obliczeń wytrzymałościowych maszyn wirnikowych
ADAM KOZAKIEWICZ
RAFAŁ KIESZEK
nr katalogowy: 116229
10.15199/148.2018.9.4
sztuczne sieci neuronowe
obliczenia wytrzymałościowe
turbinowe silniki odrzutowe
sprężarki osiowe
artificial neural networks
stress analysis
jet engine
axial compressor
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-8
Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si techniką skaningowej mikroskopii pojemnościowej
Adam SZYSZKA
Tomasz SZYMAŃSKI
Marek TŁACZAŁA
Mateusz WOŚKO
Regina PASZKIEWICZ
nr katalogowy: 108527
10.15199/48.2017.08.15
SCM
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
AlGaN/GaN/Si
azotek galu
C-V
scanning capacitance microscopy
SCM
AlGaN/GaN/Si
gallium nitride
C-V
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2019-6
BADANIE JAKOŚCI DŹWIĘKU SYGNAŁÓW MOWY I MUZYKI EMITOWANYCH ZA POMOCĄ JEDNOCZĘSTOTLIWOŚCIOWEJ SIECI DAB+ WE WROCŁAWIU
Maurycy Kin
Stefan Brachmański
nr katalogowy: 120926
10.15199/59.2019.6.58
ocena jakości
radio cyfrowe
sieć jednoczęstotliwościowa.
quality evaluation
digital broadcasting
single frequency network
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-1
Realizacja praktyczna układu do pomiaru parametrów cieplnych tranzystorów MOS mocy
Krzysztof POSOBKIEWICZ
Aleksander DATA
Krzysztof GÓRECKI
nr katalogowy: 135360
10.15199/48.2022.01.29
układ pomiarowy
parametry cieplne
tranzystory MOSFET mocy
zjawiska cieplne
measurement set-up
thermal parameters
power MOSFETs
thermal phenomena
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-7
Badanie właściwości wybranych modeli tranzystorów bipolarnych z izolowaną bramką
Paweł GÓRECKI
Krzysztof GÓRECKI
Janusz ZARĘBSKI
nr katalogowy: 107472
10.15199/48.2017.07.19
IGBT
SPICE
modelowanie
półprzewodnikowe przyrządy mocy.
IGBT
SPICE
modeling
power semiconductor devices.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-4
Single VDCC-Based Electronically Tunable Voltage-Mode Second Order Universal Filter
Prungsak UTTAPHUT
nr katalogowy: 112989
10.15199/48.2018.04.06
VDCC
Universal biquad
Analog circuit
Electronic control
Active filter
commercially available IC.
układ VDCC
filtr
strojenie filtru.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-8
Projekt i budowa przetwornicy rezonansowej LLC o dużej dynamice sterowania diodami LED
Cezary WOREK
Sławomir LIGENZA
nr katalogowy: 108524
10.15199/48.2017.08.12
przetwornica rezonansowa LLC
zintegrowany element magnetyczny
ogranicznik dobroci
oświetlenie LED
LLC resonant converter
integrated magnetic element
quality factor limiter
LED
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-11
Projekt laboratoryjnego falownika 3-fazowego sterowanego przy użyciu środowiska symulacyjnego PLECS
Michał DOWNAR-ZAPOLSKI
Andrzej KASPROWICZ
nr katalogowy: 146242
10.15199/48.2023.11.56
falownik trójfazowy
falownik napięcia
PLESC
sterowanie skalarne
silnik indukcyjny
three-phase inverter
voltage inverter
PLECS
scalar control
induction motor
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2020-10
A Simple and Accurate CMOS Sample-and-Hold Circuit Using Dual Output-OTA
Thanat NONTHAPUTHA
Montree KUMNGERN
Nawaphol THEPNARIN
nr katalogowy: 128268
10.15199/48.2020.10.30
Sample-and-hold
operational transconductance amplifier
dual-output.
układ Sample-and_Hold
wzmacniacz transkonduktancyjny
Czasopisma
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
